一种微米尺寸电子焊料力学本构方程测试方法

    公开(公告)号:CN113720679B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202110843401.3

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种微米尺寸电子焊料力学本构方程测试方法,使用力学拉伸实验,得到镍丝和微焊点试样的载荷与位移关系曲线,然后结合简单的数据后处理即可得到微焊点中微米尺寸钎料的真实应力与应变关系,实验过程简单,数据处理容易,相比于现有技术,本发明提出的力学拉伸测试方法大大降低了本构关系测试的成本。(56)对比文件庄华晔等.焊点高速性能评价及材料卡开发《.汽车工艺与材料》.(第09期),尹立孟等.无铅微互连焊点力学行为尺寸效应的试验及数值模拟《.机械工程学报》.2010,(第02期),尹立孟等.焊点尺寸对微焊点拉伸断裂强度的影响《.电子元件与材料》.2011,(第09期),

    一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置及其测试方法

    公开(公告)号:CN112540100A

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN202011369727.9

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置及其测试方法,通过使用所述致热结构和致冷结构抵持所述试样,装置通电后进行热迁移测试,记录相应温度后使用有限元电热耦合分析,可获取试样焊点的温度梯度,从而获得可靠稳定的微焊点热迁移数据;根据珀尔帖效应改变加载电流控制焊点冷热端的温度差,得到较大的温度梯度;还可以通过控制焊点的高度得到不同的温度梯度;同时外部使用所述加固板组件夹持固定,结构简洁,解决了现有技术中的热迁移装置结构复杂、温度梯度不易控制的技术问题。

    一种微焊点电迁移测试结构、制备夹具及制备方法

    公开(公告)号:CN111885817A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010897260.9

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 本发明涉及一种微焊点电迁移测试结构、制备夹具及制备方法,解决的是测试难度大、精度小的技术问题,通过采用重叠设置的第一PCB板和第二PCB板,第一PCB板和第二PCB板除横截面形状不同外,其余均完全相同且对称;第一PCB板与第二PCB板重叠的4个表面均相同且设置有至少两条铜布线,每条铜布线的两端各设有一个焊盘,在非焊盘的部分涂有用于阻焊的绿油层;同一平面的铜布线的走线角度不同;非接线端焊盘需形成微焊点阵列,微焊点阵列中的各个焊点均设有编号,焊点编号顺序为沿电流方向连续编号;第二PCB板设置有用于接入电源及测试电阻的接线端焊盘的技术方案,较好地解决了该问题,可用于微焊点电迁移测试中。

    一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置

    公开(公告)号:CN214472916U

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202022816837.7

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于珀尔帖效应的微焊点热迁移装置,通过使用所述制热结构和制冷结构抵持所述试样,装置通电后进行热迁移测试,记录相应温度后使用有限元电热耦合分析,可获取试样焊点的温度梯度,从而获得可靠稳定的微焊点热迁移数据;根据珀尔帖效应改变加载电流控制焊点冷热端的温度差,得到较大的温度梯度;还可以通过控制焊点的高度得到不同的温度梯度;同时外部使用所述加固板组件夹持固定,结构简洁,解决了现有技术中的热迁移装置结构复杂、温度梯度不易控制的技术问题。

    一种可调焊缝间隙的钎焊夹具

    公开(公告)号:CN213560433U

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202022373226.X

    申请日:2020-10-22

    Abstract: 本实用新型涉及钎焊夹具技术领域,且公开了一种可调焊缝间隙的钎焊夹具,包括铝制底座、第一铜丝、第二铜丝、上搭接板、下搭接板、第一压紧块和第二压紧块,所述铝制底座的右侧开设有固定孔,所述第一铜丝通过固定孔设置于所述铝制底座的内部,所述第二铜丝设置于所述铝制底座的中间凹陷位置处,所述铝制底座的中心处凹陷处对称设有两个滑动块,两个所述滑动块均通过第一内六角螺栓固定设置于所述铝制底座的内部,且滑动块的侧壁将所述第二铜丝夹紧设置,所述上搭接板和下搭接板均位于所述铝制底座的内部,且上搭接板位于所述第一铜丝和第二铜丝的上方。本实用新型结构简单,能够保证钎焊间隙可调,从而便于通过试验确定最佳间隙。

    一种微焊点电迁移测试结构及制备夹具

    公开(公告)号:CN212812143U

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202021857785.1

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 本实用新型涉及一种微焊点电迁移测试结构及制备夹具,解决的是测试难度大、精度小的技术问题,通过采用重叠设置的第一PCB板和第二PCB板,第一PCB板和第二PCB板除横截面形状不同外,其余均完全相同且对称;第一PCB板与第二PCB板重叠的4个表面均相同且设置有至少两条铜布线,每条铜布线的两端各设有一个焊盘,在非焊盘的部分涂有用于阻焊的绿油层;同一平面的铜布线的走线角度不同;非接线端焊盘需形成微焊点阵列,微焊点阵列中的各个焊点均设有编号,焊点编号顺序为沿电流方向连续编号;第二PCB板设有用于接入电源及测试电阻的接线端焊盘的技术方案,较好地解决了该问题,可用于微焊点电迁移测试中。

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