半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104051418A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201310328880.0

    申请日:2013-07-31

    Inventor: 石井齐

    Abstract: 本发明提供在持续小型化、高密度化的半导体装置中能将内引线间连接的半导体装置。本发明的实施方式涉及的半导体装置具备:多条引线,其具有内引线和外引线;半导体芯片,其设置于多条引线之上;间隔件,其介于半导体芯片与多条引线之间,在半导体芯片的背面与多条引线之间形成间隙;和导线,其设置于间隙中,在半导体芯片的背面下方将内引线间电连接。

    半导体装置的制造方法、半导体装置、及引线框架

    公开(公告)号:CN106531712A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610236159.2

    申请日:2016-04-15

    Inventor: 石井齐

    Abstract: 本发明的实施方式提供一种能抑制引线发生多余变形的半导体装置的制造方法、半导体装置、及引线框架。实施方式的半导体装置的制造方法包括如下步骤:一面挤压第1内引线,一面使推压构件压抵于第2内引线的布线部的上表面而使布线部的至少一部分变形,且将第1内引线的延伸方向上的端部与布线部之间的连结部切断并且使布线部与端部相离;搭载半导体芯片;形成第1及第2接合线;形成密封树脂层;将支撑部与第1及第2外引线之间的连结部切断。

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