光电器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107580686A

    公开(公告)日:2018-01-12

    申请号:CN201680026789.5

    申请日:2016-05-03

    IPC分类号: G02B6/28

    摘要: 本发明涉及一种光电器件(5),其包括集成到器件的平面(EB)中的光波导(10),所述光波导能够在平面中引导光辐射,以及耦合元件(20),其连接到波导并且能够将在波导中被引导并且从其馈送到耦合元件中的光辐射,沿主耦合路径(HKS)耦合离开平面,和/或将以一定角度馈送到平面中的光辐射,沿主耦合路径(HKS)耦合到波导中并且从而耦合到器件的平面中。根据本发明提供了,耦合元件相对于主耦合路径的耦合效率度小于1并且对于耦合元件-当辐射入光辐射时-沿次级耦合路径(NKS)输出光损耗辐射(D),所述光损耗辐射与沿主耦合路径传送的辐射成比例或至少近似成比例,对于光电器件具有检测器(30),其连接到耦合元件(20)并且完全或至少部分地记录光损耗辐射,并产生检测器信号(DS),并且对于光电器件具有连接到检测器的控制单元,所述控制单元基于检测器信号影响光电器件的至少一个操作变量。

    光电器件
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107580686B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201680026789.5

    申请日:2016-05-03

    IPC分类号: G02B6/28

    摘要: 本发明涉及一种光电器件(5),其包括集成到器件的平面(EB)中的光波导(10),所述光波导能够在平面中引导光辐射,以及耦合元件(20),其连接到波导并且能够将在波导中被引导并且从其馈送到耦合元件中的光辐射,沿主耦合路径(HKS)耦合离开平面,和/或将以一定角度馈送到平面中的光辐射,沿主耦合路径(HKS)耦合到波导中并且从而耦合到器件的平面中。根据本发明提供了,耦合元件相对于主耦合路径的耦合效率度小于1并且对于耦合元件‑当辐射入光辐射时‑沿次级耦合路径(NKS)输出光损耗辐射(D),所述光损耗辐射与沿主耦合路径传送的辐射成比例或至少近似成比例,对于光电器件具有检测器(30),其连接到耦合元件(20)并且完全或至少部分地记录光损耗辐射,并产生检测器信号(DS),并且对于光电器件具有连接到检测器的控制单元,所述控制单元基于检测器信号影响光电器件的至少一个操作变量。