Ⅲ族氮化物化合物半导体叠层结构体的成膜方法

    公开(公告)号:CN101522942B

    公开(公告)日:2012-09-26

    申请号:CN200780036234.X

    申请日:2007-09-13

    Abstract: 本发明提供一种可稳定地在基板上成膜出由结晶性良好的III族氮化物化合物半导体形成的多层膜结构的方法。多层膜结构从基板侧起至少包含缓冲层和基底层,采用溅射法成膜出缓冲层和基底层。使缓冲层的成膜温度低于基底层的成膜温度,或使缓冲层的膜厚为5nm~500nm。进而,多层膜结构从基板侧起至少包含基底层和发光层,包括采用溅射法成膜出基底层,并且,采用金属有机化学气相淀积(MOCVD)法成膜出发光层的工序。

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