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公开(公告)号:CN117894697A
公开(公告)日:2024-04-16
申请号:CN202311319782.0
申请日:2023-10-12
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供能够容易地确认检查部分的位置的带标记的膜芯片的制造方法。本发明的实施方式的带标记的膜芯片的制造方法包括:确定对于片的检查区域的工序;将上述检查区域划分成多个芯片区域并对各芯片区域进行检查的工序;对检查后的多个芯片区域分别在相同位置进行标记的工序;以及沿着上述多个芯片区域将上述片切断的工序。
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公开(公告)号:CN117885459A
公开(公告)日:2024-04-16
申请号:CN202311318589.5
申请日:2023-10-12
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: B42D25/22 , B42D25/475
Abstract: 本发明提供能够稳定地制造具有期望的形状及尺寸的膜芯片的带信息码的片的制造方法。本发明的实施方式的带信息码的片的制造方法包括:确定对于片的检查区域的工序;将检查区域划分成多个芯片区域并对各芯片区域进行检查的工序;以及将具有与多个芯片区域的位置和各芯片区域的检查结果相关的信息的信息码设置于片的工序。
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