半导体装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107634640B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201710370298.9

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 提供一种无需在半导体芯片上设置温度检测元件且不增加封装的控制端子数而能够通过简单的结构来精度良好地测定芯片温度的半导体装置。半导体装置具备:开关元件(11),其具有控制电极、第一主电极以及第二主电极;栅极驱动电路(2),其连接在控制电极与第一主电极之间,输出用于对控制电极进行驱动的栅极驱动信号;密勒电压检测器(10),其检测开关元件(11)的控制电极与第一主电极间的关断时的密勒电压;电流值检测电路(6),其检测流过开关元件(11)的主电流;以及温度计算电路(7),其根据所检测出的密勒电压和主电流来计算开关元件(11)的温度。

    电力变换装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103944366A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410013448.7

    申请日:2014-01-13

    Inventor: 小川省吾

    CPC classification number: H02P3/22 H02P29/024 H02P29/0241

    Abstract: 本发明公开了一种电力变换装置。提供了一种具有简单配置的电力变换装置,从而可保护电力变换装置主体免于来自负载的再生电力的伤害。该电力变换装置包括电力变换装置主体(逆变器装置)和制动电路,对该电力变换装置主体输入电源电压且该电力变换装置主体驱动负载,且该制动电路保护该电力变换装置主体免于施加至该电力变换装置主体的过电压的伤害,其中该制动电路包括齐纳二极管,当施加至该电力变换装置主体的电压超过预定值时该齐纳二极管导通,从而抑制了施加至该电力变换装置主体的电压。

    热敏电阻搭载装置及热敏电阻部件

    公开(公告)号:CN106252332B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201610273177.8

    申请日:2016-04-28

    Abstract: 本发明提供热敏电阻搭载装置及热敏电阻部件。在不限制布线层的布局的情况下在基底基板设置热敏电阻。提供一种热敏电阻搭载装置,具备绝缘性的基底基板和设置于基底基板的上方的热敏电阻部件,热敏电阻部件具有绝缘性基板、设置于绝缘性基板的上方的电极、以及设置于绝缘性基板的上方,并与电极电连接的热敏电阻。

    半导体装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107634640A

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201710370298.9

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 提供一种无需在半导体芯片上设置温度检测元件且不增加封装的控制端子数而能够通过简单的结构来精度良好地测定芯片温度的半导体装置。半导体装置具备:开关元件(11),其具有控制电极、第一主电极以及第二主电极;栅极驱动电路(2),其连接在控制电极与第一主电极之间,输出用于对控制电极进行驱动的栅极驱动信号;密勒电压检测器(10),其检测开关元件(11)的控制电极与第一主电极间的关断时的密勒电压;电流值检测电路(6),其检测流过开关元件(11)的主电流;以及温度计算电路(7),其根据所检测出的密勒电压和主电流来计算开关元件(11)的温度。

    半导体装置
    10.
    外观设计

    公开(公告)号:CN302716403S

    公开(公告)日:2014-01-15

    申请号:CN201330349626.X

    申请日:2013-07-24

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:半导体装置。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品是将由安装有功率半导体元件等电路构成部件的电路基板等安装在树脂盒内的半导体装置。3.本外观设计产品的设计要点:本外观设计的设计要点在于产品的形状和图案。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图1。

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