一种垂直型CMOS电路结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN116013858A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202211599448.0

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明提出一种垂直型CMOS电路结构及其制作方法,属于集成电路领域。制作步骤如下:在P型掺杂衬底上制作NMOS器件;在N型掺杂衬底上制作PMOS器件;分别制作与PMOS、NMOS中源、漏、栅相连接的金属接触点;利用键合设备对两片晶圆进行键合;对键合后晶圆进行减薄,并完成后续工艺;键合时,1个NMOS器件与多个PMOS器件形成垂直型CMOS结构,或者1个PMOS器件与两个以上NMOS器件形成垂直型CMOS结构。本发明的垂直型CMOS电路结构可以提高载流子迁移率;可以降低MOS管噪声;电路结构中将不存在闩锁效应;能提高单位面积内的晶体管数量;将省略部分光刻、刻蚀、注入和沉积工艺,提高生产效率。

    一种基于仿生视觉的CMOS图像传感器像素结构

    公开(公告)号:CN112420759A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202011243957.0

    申请日:2020-11-10

    Abstract: 本发明涉及CMOS图像传感器技术领域,提供一种基于仿生视觉的CMOS图像传感器像素结构,包括:彩色信号收集单元、黑白信号收集单元、第三转移晶体管TG3、复位晶体管RST、源极跟随器SF和行选择晶体管RS;所述黑白信号收集单元,包括:第一钳位光电二极管PPD1、第一转移晶体管TG1和第一浮置扩散电容FD1;所述彩色信号收集单元,包括:第二钳位光电二极管PPD2、第二转移晶体管TG2和第二浮置扩散电容FD2。本发明能够在同一CMOS图像传感器中分别获得高灵敏度的黑白图像信号和彩色图像信号。

    基于复位晶体管复用技术的高动态范围图像传感器像素单元

    公开(公告)号:CN114640808B

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202210221520.X

    申请日:2022-03-09

    Abstract: 基于复位晶体管复用技术的高动态范围图像传感器像素单元,属于半导体光电方向图像传感器领域。通过控制像素工作过程中的时序信号和调整工艺制造结构的方式控制像素电路中复位晶体管的工作方式,使得复位晶体管在像素工作过程中的复位阶段起到复位作用,在像素积分阶段复位晶体管形成二极管连接起到电荷补偿作用。复位晶体管复用技术使得像素电路在弱光下保持低噪声和线性关系,在强光下由光电二极管流到FD点的光生电荷形成的电流与复位晶体管形成的二极管中的导通电流将达到动态平衡,此时FD点电荷将不再随积分时间变化,而只和光强成对数关系。使用该像素结构的图像传感器,积分过程中复位晶体管能够构成电荷补偿通路,极大的拓展动态范围。

    面向CMOS图像传感器的实时压缩存储内核

    公开(公告)号:CN115942140A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211598486.4

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种面向CMOS图像传感器的实时压缩存储内核,属于CMOS图像传感器数据处理系统领域和可编程逻辑器件领域。本发明包括DDR3接口控制模块、RISC‑V处理器模块以及JPEG‑LS协处理器模块。本发明为通用型压缩存储内核设计,将压缩算法固化为硬件协处理器加速压缩过程,并且通过定制RISC‑V处理器最大化减少了电路面积,且通过系统层面优化控制,使DDR3接口控制器模块和JPEG‑LS协处理器模块高效稳定工作。本发明使用时可作为自定义IP,给出输入端和输出端的信号,并且编写能被RISC‑V交叉编译工具链编译通过的运行在RISC‑V处理器上的程序,即可实现大量数据的自定义压缩存储。

    一种高速Flash-SAR混合式模数转换器

    公开(公告)号:CN115833837A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211598509.1

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明提出一种高速Flash‑SAR混合式模数转换器,属于芯片技术领域。本发明包括采样开关、Flash ADC、比较器、电容式数模转换器、逐次逼近寄存器和数字纠错电路。本发明采用了全差分的结构,输入信号经过Flash ADC快速完成3位数字码的转换,同时控制电容式数模转换器的高三位电容对应开关的转换,并通过比较器完成后面位数的转换。本发明将电容阵列分为两段,每一段电容都采用基于二进制误差补偿的电容架构设计,减小了比较器的失调、顶板电压的不完全建立和转换开关本身的热噪声给系统带来的误差;且由于Flash ADC中编码电路的存在,实现从温度计码到二进制码的转换,节省了芯片的面积,降低了功耗。

    一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器

    公开(公告)号:CN113162613A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN202110581803.0

    申请日:2021-05-24

    Abstract: 本发明涉及模拟集成电路技术领域,提供一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器,包括:斜坡发生器和控制信号生成电路;所述控制信号生成电路,用于对输入参考时钟信号和输出时钟信号进行采样和比较,生成包含有相位差信息的控制信号,用于斜坡发生器的充放电控制;所述斜坡发生器,包括:基准电流源、电压跟随器、第一电容、基准电压源、第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第七PMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管。本发明能够实现线性的,连续的相位误差比较,降低相位误差比较器的量化噪声,实现低噪声锁相环。

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