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公开(公告)号：CN116758160A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310735104.6
申请日：2023-06-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于正交视觉系统的光学元件装配过程位姿检测方法及装配方法，属于工业装配视觉检测领域，本发明为解决现有光学元件装配中光学元件边缘与装配框容易发生碰撞，导致装配失误的问题。本发明方法包括：S1、构建视觉检测系统步骤；所述视觉检测系统包括一台全局相机和两台侧视角相机，S2、视觉检测系统中三台相机的联合标定步骤；其中，以全局相机的相机坐标系作为统一的全局坐标系；S3、光学元件位姿解算步骤；三台相机同步获取光学元件的俯视图和两个侧视图，从三台相机的图像中提取光学元件边缘在各自像素坐标系下的解析式，结合联合标定数据，将不同相机的像素坐标系下的边缘对齐到统一的全局坐标系下；通过这些边缘的解析式确定光学元件的位姿。
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公开(公告)号：CN112129775B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202011012482.4
申请日：2020-09-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种匀光棒条形光源及基于该光源的光学元件损伤检测装置，属于光学元件损伤检测技术领域。解决了现有大口径光学元件检测存在检测光源均匀性差影响检测结果准确性的问题。本发明括玻璃棒和激光器，所述玻璃棒由一圆弧面和一平面组成，圆弧面的弧度大于180度，平面为等腰梯形，所述平面为粗糙散射面；圆形玻璃棒的一端设置有激光器，所述激光器的光束从圆形玻璃棒的一个端面沿轴向射入，另一端的端面上贴设有反光条或涂有反光层；所述激光器的光束经弧形面或另一端贴设的反光条或反光层反射后经粗糙散射面射出。采用相机成像即可实现对器件的损伤进行检测。采用相机成像即可实现对器件的损伤进行检测。适用于光学元件损伤检测使用。
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公开(公告)号：CN115096288B
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202210706524.7
申请日：2022-06-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 移动机器人导航轨迹解算精度和能力测试方法,解决了现有不便使用靶标轨迹评测机器人自身轨迹解算精度的问题，属于导航轨迹精度测试技术领域。本发明使用高精度激光扫描测距仪器，扫描环境获得场景完整点云和图像，采用虚拟轨迹和虚拟传感器类型与视角(与被测机器人使用的传感器类型和参数、视角相同)，对该场景完整点云和图像进行采样，生成虚拟轨迹和虚拟传感器类型与视角对应的传感器数据帧序列，被测机器人使用该传感器数据帧序列(等同于该机器人在该实际环境中进行运动和数据采集)，解算生成机器人运动轨迹，生成的机器人运动轨迹与虚拟轨迹(作为真值)进行比较，测试被测机器人轨迹解算精度和能力。
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公开(公告)号：CN113222250B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202110519652.6
申请日：2021-05-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及基于卷积神经网络的大功率激光装置输出波形预测方法，属于大功率激光装置技术领域，在各条光路上设立监测点，提取波形数据及其对应的能量数据，选择指定光路，剔除异常数据，预处理波形数据，形成输入输出数据集，搭建卷积神经网络模型，利用训练数据集对卷积神经网络模型进行迭代优化，直至达到终止条件，将下一发次的预设数据集输入到训练后的卷积神经网络模型，得到预测输出波形，本发明对各光路的实际输出波形进行精准预测，为装置的参数配置、计划调整、资源配备提供决策支持，从而通过调整输入波形与整形模块参数的手段，满足物理实验对各光路间输出波形的要求。
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公开(公告)号：CN113962915B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111221433.6
申请日：2021-10-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 非均匀照明条件下的自适应非线性超动态图像合成方法，解决了现有非均匀暗场照明条件下成像时被检测目标图像饱和的问题，属于光学元件检测技术领域。本发明在照明条件不变的条件下，损伤点所在的区域的照度场不均匀，采集n幅随着相机的曝光时间变化的图像。随着曝光时间增加，损伤点的图像灰度值会相应增加，判断图像中是否出现饱和点，如果出现饱和点，利用该饱和点之前曝光时间的图像中对应位置处的灰度值和曝光时间，对神经网络训练，实现非线性回归，利用神经网络获取对应饱和点在之后的曝光时间的灰度值，替换饱和的灰度值，生成超动态图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112114326A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010997655.6
申请日：2020-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明的FMCW距离测量的扫频信号拼接方法及装置涉及一种信号处理方法及装置，目的是为了克服现有FMCW距离测量中信号拼接具有的相位跳变问题时，导致激光雷达探测识别精度低问题，其中方法具体包括：引入辅助干涉仪，得到第一辅助干涉信号的相位和第二辅助干涉信号的相位；根据第一辅助干涉信号的相位和第二辅助干涉信号的相位，以及拼接后的辅助干涉信号，得到拼接后的辅助干涉信号的相位信息；通过拼接后的辅助干涉信号的相位信息，得到用于相位跳变消除的正交基；利用正交基消除拼接后的测量干涉信号中由拼接产生的相位跳变。
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公开(公告)号：CN112034475A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202010941152.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: FMCW激光雷达扫频光源跳模补偿方法，涉及消除激光雷达扫频光源跳模的技术领域。本发明为解决现有距离测量系统无法消除激光雷达扫频光源跳模影响的问题。本发明首先对辅助干涉仪输出的信号进行希尔伯特变换，获得辅助干涉仪输出信号的相位信息φaux(n)，利用该相位信息φaux(n)获取用于消除跳模的正交基 该正交基 包含扫频跳模信息；其次、对测量干涉仪输出的信号进行采样，正交基对测量干涉仪输出的信号进行卷积，获得距离谱，完成跳模消除。本发明主要用于对扫描光源的跳模影响进行消除。
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公开(公告)号：CN107421470B
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201710379041.X
申请日：2017-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种双路自准直仪，涉及光学自准直仪领域。解决了现有随着测量距离的增加，使得测量环境波动直接影响测量精度，从而降低了测量精度的问题。绿光光源发出的光作为测量光；红光光源发出的光作为校准光，两个光源发出的光分别通过分光镜、准直镜，在1号二向色镜处汇合，在此处绿光发生反射，依次通过1号二向色镜、反射镜、1号准直镜、1号分光镜，成像在1号面阵CCD的光敏面处；红色激光经1号二向色镜透射后入射至2号二向色镜，经2号二向色镜透射后，入射至角锥棱镜，红光经角锥棱镜的反射后，依次经1号二向色镜、2号准直镜、2号分光镜透射后，成像在2号面阵CCD的光敏面。本发明主要适用于较大测量距离的光路的应用。
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公开(公告)号：CN105092608B
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201510616600.5
申请日：2015-09-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/958
Abstract: 终端光学元件损伤在线检测中孪生像的剔除方法，涉及光学元件检测技术领域，尤其涉及终端光学元件损伤在线检测中孪生像的剔除方法。本发明是要解决晶体双折射造成的重影剔除的问题。本发明方法通过以下步骤进行：一、计算出M×N个点在成像系统中CCD上所成的o光像与e光像的坐标；二、计算出M×N个有向线段的距离与倾角；三、对计算出的M×N个有向线段的距离与倾角进行统计分析，找出o光像与e光像的位置关系；四、把e光像作为重影像，e光像的灰度积分值合并到o光像上，剔除e光像；五、保留o光像作为损伤点的唯一像。至此，完成了孪生像中的重影像的剔除。本发明适用于光学元件检测技术领域。
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公开(公告)号：CN107145909A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710317105.3
申请日：2017-05-08
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种自动区分入光面损伤或出光面损伤的光学元件损伤所属表面的分类方法，属于光学损伤分类领域。本发明具体为：选取光学元件；利用FODI系统采集光学元件真空隔离片的损伤在线图像，并在该光学元件真空隔离片通光口径范围内标记出所有的损伤点；对光学元件真空隔离片通光口径范围内的入光面与出光面逐一扫描，记录下损伤点位置与形态，作为离线数据；使用几何变换把离线数据匹配到采集的在线图像上，获得入光面与出光面损伤的训练样本集；建立分类模型，采用训练样本集训练分类模型，获取分类模型的最优参数；利用具有最优参数的分类模型对光学元件的损伤进行分类，确定为入光面损伤或出光面损伤。本发明用于FODI系统中损伤识别与分类。
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