-
公开(公告)号:CN110970489B
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN201910913267.2
申请日:2019-09-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/336 , H01L29/78
Abstract: 本公开涉及半导体器件和形成半导体器件的方法。一种方法包括:形成从衬底延伸的第一鳍,在第一鳍上方并且沿着第一鳍的侧壁形成第一栅极堆叠,沿着第一栅极堆叠的侧壁形成第一间隔件,第一间隔件包括第一碳氧化硅组合物,沿着第一间隔件的侧壁形成第二间隔件,第二间隔件包括第二碳氧化硅组合物,沿着第二间隔件的侧壁形成第三间隔件,第三间隔件包括氮化硅,以及在第一鳍中并且与第三间隔件相邻形成第一外延源极/漏极区域。
-
公开(公告)号:CN114823520A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202210088064.6
申请日:2022-01-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L21/8234 , H01L27/088
Abstract: 提供一种半导体结构及其形成方法。半导体结构包括基板;鳍片结构,在基板上方;栅极结构,在鳍片结构上方;以及外延区,形成在鳍片结构中并相邻栅极结构。外延区嵌入多个掺质丛簇。
-
公开(公告)号:CN110970489A
公开(公告)日:2020-04-07
申请号:CN201910913267.2
申请日:2019-09-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/336 , H01L29/78
Abstract: 本公开涉及半导体器件和形成半导体器件的方法。一种方法包括:形成从衬底延伸的第一鳍,在第一鳍上方并且沿着第一鳍的侧壁形成第一栅极堆叠,沿着第一栅极堆叠的侧壁形成第一间隔件,第一间隔件包括第一碳氧化硅组合物,沿着第一间隔件的侧壁形成第二间隔件,第二间隔件包括第二碳氧化硅组合物,沿着第二间隔件的侧壁形成第三间隔件,第三间隔件包括氮化硅,以及在第一鳍中并且与第三间隔件相邻形成第一外延源极/漏极区域。
-
-