半导体装置的形成方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114883257A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210094605.6

    申请日:2022-01-26

    Abstract: 实施例在形成纳米结构场效晶体管装置时,采用两层的内侧间隔物结构。可选择第一内侧间隔物层与第二内侧间隔物层的材料,以具有不匹配的热膨胀系数。一旦沉积后冷却结构,具有较大热膨胀系数的内侧间隔物层将施加压缩应力于其他内侧间隔物层(因为两层具有一般界面),而具有较小热膨胀系数的层将施加反作用的拉伸应力。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN107230729B

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN201710178653.2

    申请日:2017-03-23

    Abstract: 一种半导体器件包括位于衬底上方沿着第一方向延伸的鳍,和位于鳍上方在第二方向上延伸的栅极结构。栅极结构包括位于鳍上方的栅极介电层、位于栅极介电层上方的栅电极、和位于沿着第二方向延伸的栅电极的相对横向表面上的绝缘栅极侧壁。在与栅电极结构相邻的区域中的鳍中形成源极/漏极区,并且应力源层位于源极/漏极区和半导体衬底之间。应力源层包括含有1019原子cm‑3或更少的掺杂剂的GeSn或SiGeSn,以及鳍的位于栅极结构下方的部分是沟道区。本发明实施例涉及半导体器件及其制造方法。

    FINFET器件和方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112447715B

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202010883722.1

    申请日:2020-08-28

    Abstract: 本申请公开了FINFET器件和方法。一种器件,包括从半导体衬底延伸的鳍;在鳍之上的栅极堆叠;在栅极堆叠的侧壁上的第一间隔件;在与第一间隔件相邻的鳍中的源极/漏极区域;在栅极堆叠、第一间隔件和源极/漏极区域之上延伸的层间电介质层(ILD),ILD具有第一部分和第二部分,其中ILD的第二部分比ILD的第一部分更靠近栅极堆叠;延伸穿过ILD并接触源极/漏极区域的接触插塞;在接触插塞的侧壁上的第二间隔件;以及第一隔离件和第二隔离件之间的气隙,其中,ILD的第一部分延伸穿过气隙并与第二间隔件物理接触,其中,ILD的第一部分密封气隙。

    半导体结构及其形成方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116247005A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310095228.2

    申请日:2023-02-07

    Abstract: 提供了半导体结构及其形成方法。在实施例中,方法包含接收工作件,包含基板、自基板突出的主动区、以及设置于主动区的通道区上方的虚置栅极结构。方法亦包含形成沟槽于主动区的源极/漏极区中,形成牺牲结构于沟槽中,顺应地沉积介电膜于工作件上方,执行第一蚀刻制程以回蚀刻介电膜并形成沿着牺牲结构的多个侧壁延伸的多个鳍片侧壁间隔物,执行第二蚀刻制程以移除牺牲结构并露出沟槽,形成外延源极/漏极部件于沟槽中以使鳍片侧壁间隔物包夹外延源极/漏极部件的一部分,以及以栅极堆叠取代虚置栅极结构。

    制造半导体装置的方法
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109427593B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN201810987391.9

    申请日:2018-08-28

    Abstract: 一种制造半导体装置的方法包含在基板上形成具有交替的多个第一半导体层和多个第二半导体层的堆叠的鳍状结构。多个第一半导体层和多个第二半导体层包含沿第一半导体层和第二半导体层的长度的第二部分的任一侧上的第一部分。多个第一半导体层和多个第二半导体层是由不同的材料形成。移除第一半导体层的第二部分以形成开口。形成掩模层于开口上方的最上层的第二半导体层的第二部分上方。利用来自辐射源的辐射照射第一半导体层和第二半导体层的第一部分,以使来自第一半导体层和第二半导体层的第一部分的材料彼此结合。

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