一种将序列物料进行并行分装的方法

    公开(公告)号:CN105599988A

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201510686038.3

    申请日:2015-10-21

    Inventor: 易定容 孔令华

    CPC classification number: B65B35/30 B65B5/10

    Abstract: 本发明提供了一种将序列物料进行并行分装的方法,包含如下两个重复步骤:1)转流线序列为多道并行排序序列的步骤:使用分流装置将序列物料流来的物料相继分配到滑梯组的N个并行通道中,N≥1;2)并行投放步骤:抬起阻挡装置的第一阻挡横条以释放并行通道从末端出料口数起第一行N个物料到物料接收装置的N个巢穴位置中。本发明提供了一种将序列物料进行并行分装的方法,将生产流水线下来的序列物料进行并行排序,实现一次将N个物料同时并行投放填入物料盒N个不同巢穴位置。

    一种全自动视觉在线质量检测及分检系统

    公开(公告)号:CN106289081A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201510353281.3

    申请日:2015-06-25

    Inventor: 孔令华 易定容

    Abstract: 本发明公开了一种全自动视觉在线质量检测及分检系统,包含磁控线圈的输送、检测、分拣及控制装置四个部分。输送装置的转动部件在电机带动下实现磁控线圈连续转动的同时向前平行移动,检测装置的背光光源位于磁控线圈的一侧,背光相机位于另一侧,正对着背光源,两者之间为转动着经过的磁控线圈,控制装置控制相机在磁控线圈经过时候获得其多幅多角度背光图。顺光相机与顺光光源在转动着经过的磁控线圈的同侧,获得其多幅多角度的顺光图。次品分选口有对应的电动拨击器。本装置能够快速有效地实现对磁控线圈的尺寸公差(内径、外径、螺距、长度、丝径、弯度),表面缺陷(裂纹、毛刺、深沟槽、切口、划伤)自动检测,并对磁控线圈的残次品进行自动筛选。

    一种基于多光谱的荧光免疫层析定量分析及检测系统

    公开(公告)号:CN104977278A

    公开(公告)日:2015-10-14

    申请号:CN201410134934.4

    申请日:2014-04-04

    Inventor: 孔令华 易定容

    Abstract: 一种基于多光谱的荧光免疫层析定量分析及检测系统,包含N通道马赛克滤光片(微滤片)与光电转换单元紧密结合的多光谱荧光收集单元;均匀、稳定的激发光光场;N通道激发滤光片(N≥1),掌上计算机系统和五卡同读的绝对测量校准系统。多光谱荧光收集单元、激发光光场、N通道激发滤光片构成实时收集N种受激发射荧光信号的检测模块,与掌上计算机系统连接能够实现实时地同时地对多色荧光免疫层析半定量、定量的高灵敏度测量。

    一种高度集成的多道数字荧光成像系统

    公开(公告)号:CN203811540U

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201320651700.8

    申请日:2013-10-22

    Inventor: 易定容 孔令华

    Abstract: 一种高度集成的多道数字荧光成像系统,包含:能在同一时刻观察多种荧光染料的M个N通道滤镜组合(N≥2,M≥1);N通道马赛克滤光片与光电转换单元紧密结合的多光谱荧光收集单元。本实用新型可以在同一时刻实时观察样品的多色荧光,实现活细胞的动态观察。

    归一化光强的共焦差动测量有效区域的三维形貌还原方法

    公开(公告)号:CN115031660B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202210711460.X

    申请日:2022-06-22

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明提供归一化光强的共焦差动测量有效区域的三维形貌还原方法,包括:采用相机拍摄焦面图像、焦前图像和焦后图像;对焦面图像的灰度值进行归一化处理,得到归一化图像;提取归一化图像与共聚焦轴向响应曲线对应的有效测量区域,得到有效测量模板,将有效测量模板分别与焦前图像、焦后图像进行掩膜提取,得到有效焦前图像、有效焦后图像;将有效焦前图像、有效焦后图像进行作差,利用差动共焦测量曲线,实现共聚焦差动测量有效测量区域三维还原;本发明方法将共聚焦成像轴向光强曲线和共聚焦差动曲线进行结合,有效的解决了视场中隶属于差动测量范围内的区域提取,实现了真实三维信息的还原。

    无机械运动实现精确激光切割轨迹和显微细胞切割方法

    公开(公告)号:CN107186364B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN201710561322.7

    申请日:2017-07-11

    Inventor: 易定容 孔令华

    Abstract: 本发明提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的方法,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间,使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭;激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑;主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上;激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元,M≥0;在主光斑覆盖的N个微单元中,只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线,n≤N,其它的N‑n+M个微单元为关闭状态;使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时,也呈现中空的闭合曲线,从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。

    一种基于双路径融合的图像分辨率提升方法及系统

    公开(公告)号:CN116912086A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202310365225.6

    申请日:2023-04-07

    Applicant: 华侨大学

    Inventor: 易定容 乐炜桦

    Abstract: 本发明公开了一种基于双路径融合的图像分辨率提升方法及系统,包括:数据采集阶段,获得低分辨率细胞显微图像与高分辨率细胞显微图像;数据预处理阶段,扩充网络模型训练的数据集;网络模型设计阶段,将预处理完成的训练集数据用于DPFSRN网络模型的训练;最优参数获取阶段,由优化器根据网络模型的损失值更新生成器和鉴别器的参数获得最优参数权重;待提升图像获取阶段,获得待提升的低分辨率细胞显微图像;分辨率提升阶段,使用加载有最优参数权重的DPFSRN对待提升的低分辨率细胞显微图像进行分辨率提升处理,并由DPFSRN网络输出对应的高分辨率细胞显微图像。本发明能够提高显微图像的分辨率从而加快显微光学系统的观测效率。

    一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN116222394A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310080544.2

    申请日:2023-02-08

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法,属于共聚焦显微测量领域。载物台带动被测样品沿轴向方向上下移动,实现层扫,并结合照明单元、准直透镜、数字微镜器件、分光透镜、物镜、聚焦透镜使用的差动共聚焦显微测量技术,并且根据测量系统所使用物镜倍数调整参考平面的轴向间距,同时根据每个参考平面中其有效测量区域对焦前离焦图像和焦后离焦图像进行交集运算,确定每一个参考平面中能够还原的图像区域,通过差动共聚焦测量方法与层扫相结合,扩展了差动共聚焦轴向测量量程,实现了轴向大量程测量,还保证了轴向测量精度。

    一种单目窄带多波段共焦成像系统

    公开(公告)号:CN115524842A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202211360742.6

    申请日:2022-11-02

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明实施例公开了一种单目窄带多波段共焦成像系统,涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光;准直透镜将复色光准直为复色光束;滤光转盘承载多个滤光片,并且,能够切换任一滤光片至复色光束的光路上;位于光路上的滤光片能够过滤复色光束形成窄带光;数字微镜器件将窄带光形成点光阵列;照明单元的中心以及数字微镜器件的中心位于准直透镜的光轴上;载物模块承载待成像物体;物镜、分光透镜、聚焦透镜和成像模块的中心共线;数字微镜器件的中心与分光透镜的中心共线;成像模块收集来自聚焦透镜的点光阵列,并形成成像结果。本发明实现了在成像过程中更换滤光片,提高了成像效率。

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