公开(公告)号：CN115629283A

公开(公告)日：2023-01-20

申请号：CN202210995869.9

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路的第一组成部件支路或第二组成部件支路中的任一组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前第一组成部件支路和第二组成部件支路处于正向不导通的状态：控制测评组成部件支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电；控制测评组成部件支路正向不导通且持续第二预设时间，以使得充放电模块进行放电；获取被测评的组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的组成部件的状态，以对被测评的组成部件进行测评。籍此，实现了无需拆卸组成部件即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115078954A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210994071.2

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/27 ,  G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路中的任一组成部件，根据以下内容进行测评且进行测评之前六个支路处于正向不导通的状态：控制被测评的组成部件所在的支路和被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第一预设时间；控制被测评的组成部件所在的支路正向不导通但被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第二预设时间，以使得两者进行放电；获取被测评的组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的组成部件的状态，以对被测评的组成部件进行测评。藉此，实现了无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115629283B

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202210995869.9

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路的第一组成部件支路或第二组成部件支路中的任一组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前第一组成部件支路和第二组成部件支路处于正向不导通的状态：控制测评组成部件支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电；控制测评组成部件支路正向不导通且持续第二预设时间，以使得充放电模块进行放电；获取被测评的组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的组成部件的状态，以对被测评的组成部件进行测评。籍此，实现了无需拆卸组成部件即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115078954B

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202210994071.2

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/27 ,  G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路中的任一组成部件，根据以下内容进行测评且进行测评之前六个支路处于正向不导通的状态：控制被测评的组成部件所在的支路和被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第一预设时间；控制被测评的组成部件所在的支路正向不导通但被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第二预设时间，以使得两者进行放电；获取被测评的组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的组成部件的状态，以对被测评的组成部件进行测评。藉此，实现了无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115267477A

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN202210995289.X

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 赵东艳 ,  王于波 ,  陈燕宁 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对所述电路中六个组成部件支路中的任一所述组成部件，根据以下内容进行测评且进行测评之前所述六个组成部件支路处于正向不导通的状态：控制测评组成部件支路正向导通且持续第一预设时间，以对测评充放电模块进行充电；控制所述测评组成部件支路正向不导通且持续第二预设时间，以使得所述测评充放电模块进行放电；获取被测评的所述组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的所述组成部件的状态，以对被测评的所述组成部件进行测评。藉此，实现了无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115078955B

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202210994445.0

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  陈燕宁 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/27 ,  G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路中的任一所述组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前四个支路处于正向不导通的状态：控制组成部件所在的支路和组成部件的对侧支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电；控制组成部件所在的支路正向不导通但组成部件的对侧支路正向导通且持续第二预设时间，以使得充放电模块进行放电；获取组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断组成部件的状态，以对组成部件进行测评。藉此，实现了在电路的实际工况中无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN115078955A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210994445.0

申请日：2022-08-18

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王于波 ,  陈燕宁 ,  付振 ,  张泉 ,  王勇 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  周宏宇

IPC分类号： G01R31/27 ,  G01R31/26

摘要： 本发明涉及电路部件的测评领域，公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路，该方法包括：针对电路中的任一所述组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前四个支路处于正向不导通的状态：控制组成部件所在的支路和组成部件的对侧支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电；控制组成部件所在的支路正向不导通但组成部件的对侧支路正向导通且持续第二预设时间，以使得充放电模块进行放电；获取组成部件的测评参数；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断组成部件的状态，以对组成部件进行测评。藉此，实现了在电路的实际工况中无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。

公开(公告)号：CN114545139A

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202210365325.4

申请日：2022-04-07

申请人： 北京芯可鉴科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 赵东艳 ,  王于波 ,  陈燕宁 ,  黄凯 ,  董广智 ,  钟明琛 ,  宋彦斌 ,  单书珊 ,  刘芳 ,  田俊 ,  张泉 ,  肖超 ,  尹强

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/12 ,  G01R1/04

摘要： 本发明实施例提供一种测试装置及方法，该测试装置包括：至少一组测试模块，每组测试模块均设有接口，用于接入待测器件；每组测试模块之间为并联连接；设置模块，用于设置所述待测器件的工作温度及输入测试信号至所述测试模块；分析模块，用于根据所述测试模块的输出信号确定所述待测器件的性能参数。该测试装置能够有效评估器件的可靠性。

公开(公告)号：CN118399776A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410477518.8

申请日：2024-04-19

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网重庆市电力公司营销服务中心 ,  国家电网有限公司

发明人： 付振 ,  陈燕宁 ,  张泉 ,  王勇 ,  牛光辉 ,  要文波 ,  尹强 ,  肖超 ,  田俊 ,  杨毓龙 ,  黄凯 ,  刘凯志 ,  周宏宇

IPC分类号： H02M7/217 ,  H02M1/42 ,  H02M3/335 ,  H02M7/5387 ,  G01R31/26

摘要： 本发明提供一种通信电源、MOS器件测评方法及系统，属于电源技术领域。通信电源包括前级电路、移相全桥电路、模式切换电路、变压器、输出电路和控制模块，前级电路与移相全桥电路连接，移相全桥电路与模式切换电路连接，模式切换电路与变压器连接，变压器与输出电路连接，模式切换电路与控制模块连接；前级电路将输入的交流电源转换为直流电源，并将直流电源输入至移相全桥电路；移相全桥电路获取PWM信号，并通过PWM信号控制移相全桥电路中MOS管的通断状态；控制模块控制模式切换电路的通断状态，以使通信电源处于不同的运行工况，避免了拆卸MOS器件。

公开(公告)号：CN117706312A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311436497.7

申请日：2023-10-31

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网重庆市电力公司营销服务中心 ,  国家电网有限公司

发明人： 黄凯 ,  付振 ,  张泉 ,  肖超 ,  尹强 ,  王勇 ,  要文波 ,  刘型志

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明提供一种功率模块的循环试验装置及系统，属于半导体功率模块检测领域，该装置包括：控制装置，用于基于用户的触发指令生成升/降温控制信号；至少一个循环试验模块，每一循环试验模块包括：温度传感器，用于检测功率模块的温度，并输出模块温度信号；温控器，用于根据模块温度信号和升/降温控制信号，生成调温控制指令，并将调温控制指令发送至冷热板模块；冷热板模块，用于根据调温控制指令调节冷热板模块，使得设置在所述冷热板模块上的功率模块实现多个升/降温的温度循环。通过本发明提供的装置，能够准确控制升/降温度，使得试验温度达到试验要求，准确检测功率模块的可靠性。