一种压接型功率半导体器件压力分布测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN115790934A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211439668.7

    申请日:2022-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种压接型功率半导体器件压力分布测试装置及测试方法,该装置包括:基座,用于和待测器件连接,保持待测器件的正常工作;压力测量装置,测量施加在待测器件的整体压力值;超声波发射接收传感器,测量待测器件内部每个芯片的相对压力;处理器,用于接收整体压力值和相对压力,获取待测器件内部每个芯片压力值。通过设置基座,为待测器件提供通流能力,还可以作为待测器件进行压力测试时的物理载体;设置超声波发射接收传感器以及压力测量装置实现了芯片相对压力以及器件整体压力的测量;设置处理器计算得到待测器件内部每个芯片压力值。解决了现有技术中无法对工作状态下压接型功率半导体器件内部芯片压力进行准确测试的问题。

    一种功率芯片封装结构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115662975A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211325118.2

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明提供了一种功率芯片封装结构,包括:相对设置的上板组件和下板组件;依次串联连接的第一互联单元、第三互联单元组和第二互联单元,均位于上板组件和下板组件之间,第三互联单元组包括至少一个第三互联单元;第一互联单元包括若干并联连接的第一芯片、第二互联单元包括若干并联连接的第二芯片、第三互联单元包括若干并联连接的第三芯片。本发明的功率芯片封装结构能够满足高电压大功率器件的要求。

    一种高压功率半导体单芯片封装模块及方法

    公开(公告)号:CN118099115A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202211442627.3

    申请日:2022-11-17

    Abstract: 一种高压功率半导体单芯片封装模块及方法,包括:底板、外壳、功率回路电极端子、控制回路电极端子、衬板、高压功率半导体芯片、键合线、硅凝胶、绝缘电压评定单元。高压功率半导体单芯片模块封装结构,围绕电极端子的出口孔设置多个伞裙增大爬电距离,显著降低了器件高度,高电压、低寄生参数、低损耗。通过更改衬板版图设计,可适配多种不同类型和尺寸的芯片封装需求,显著提高了封装灵活性。栅极采用开尔文连接方式,实现功率回路和控制回路分离,降低开关振荡,提升器件安全工作区。本发明的底板采用高热导率、低热膨胀系数材料降低器件结壳热阻,实现高功率密度封装,满足单芯片评估需求。

    一种功率半导体模块
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115910985B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202211405522.0

    申请日:2022-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种功率半导体模块,包括:栅极PCB板和多个并联的子模组,每个子模组包括半导体芯片和栅极引出端,栅极PCB板包括驱动连接单元,栅极引出端的一端连接半导体芯片的栅极;栅极PCB板上设置有多个与栅极引出端的另一端电连接的栅极触点,多个栅极触点通过多个第一布线层与驱动连接单元连接,流经多个第一布线层的电流路径一致。通过实施本发明,使得驱动端至各栅极触点的电流路径一致,实现了栅极寄生参数均衡化,从而有效提升了模块内部并联模组间电流的均流能力,提升了模块整体的安全工作区。并且均流能力的提升,能够在增加并联子模组的同时,提升其安全可靠性。

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