一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法

    公开(公告)号:CN116450425B

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202211485634.1

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 本发明提供了一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法,电路包括:测试用输入端口TDI,连接至N个被测PCIExpress IP核的测试用输入端口TI;测试用输出管脚TDO,连接至其中一个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO;所有的被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO都连接至对比模块;对比模块,当N为1时,设定Result信号恒为1;当N大于1时,按位对比N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO,如果N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO存在不同,输出Result信号为0,否则,输出Result信号为1;测试机台ATE,往测试用输入管脚TDI中分两次先后输入不同的测试向量进行测试,如果两次测试中,N个测试用输出管脚TDO输出的数据符合预期,且对比模块输出Result信号为1,则认为测试通过。

    一种基于扫描链的抗辐照FPGA中可编程逻辑块的测试方法

    公开(公告)号:CN115616389A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211177013.7

    申请日:2022-09-26

    Abstract: 一种基于扫描链的抗辐照FPGA中可编程逻辑块的测试方法。包括对可编程逻辑块中寄存器、LUT以及MUX的测试。对于寄存器的测试可以直接将其变成扫描寄存器,再通过扫描链进行测试。对于LUT的测试,测试输入利用外围互联线连接到外部IO,测试输出利用逻辑单元中的寄存器捕获串行移到片外。对于寄存器后MUX的测试,利用外部互连线将MUX的输出连接到LUT的输入端。利用测试点捕获输出并串行移到片外。本发明采用的插入扫描链的测试方法只会增加额外的引脚并没有改变原有的电路结构,可以同时对多个寄存器故障定位,在测试电路中使用抗单粒子翻转的加固触发器以及加固SRAM。更好的满足用户对产品连续不间断稳定运行的要求。

    一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法

    公开(公告)号:CN116450425A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202211485634.1

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 本发明提供了一种抗辐照FPGA内嵌PCIExpress IP核的测试电路和方法,电路包括:测试用输入端口TDI,连接至N个被测PCIExpress IP核的测试用输入端口TI;测试用输出管脚TDO,连接至其中一个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO;所有的被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO都连接至对比模块;对比模块,当N为1时,设定Result信号恒为1;当N大于1时,按位对比N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO,如果N个被测PCIExpress IP核的测试用输出端口TO存在不同,输出Result信号为0,否则,输出Result信号为1;测试机台ATE,往测试用输入管脚TDI中分两次先后输入不同的测试向量进行测试,如果两次测试中,N个测试用输出管脚TDO输出的数据符合预期,且对比模块输出Result信号为1,则认为测试通过。

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