一种基于L2距离相似度评价配准的结构板孔位测量方法

    公开(公告)号:CN119515931A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411531453.7

    申请日:2024-10-30

    Abstract: 一种基于L2距离相似度评价配准的结构板孔位测量方法,属于高精度自动测量技术领域,包括:S1、从结构板的三维模型当中,提取结构孔位的三维坐标,构成一组三维点云作为参考点云;S2、搭建结构板孔位测量环境,通过摄影测量测得结构孔位的三维坐标,作为测量点云;S3、分别对参考点云与测量点云计算L2距离集;S4、根据S3中计算得到的L2距离集,构造基于L2距离的相似度分布图;S5、搜索S4中的相似度分布图,提取最佳匹配点对;S6、通过SVD分解计算匹配点对间坐标变换函数,作为ICP算法初始值;S7、使用ICP算法迭代计算坐标变换关系,实现高精度配准;S8、计算孔位测量结果。

    基于全场三维视觉的电源机箱结构件尺寸自动测量方法

    公开(公告)号:CN116242277A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310131114.9

    申请日:2023-02-17

    Abstract: 基于全场三维视觉的电源机箱结构件尺寸自动测量方法,基于相移条纹投影测量方法,经多亮度条纹投射合成,获取电源机箱结构件一测量视点下的单测量视点点云;据此获取所有测量视点点云,利用测量转台上位置随机的标志点对点云拼接,得到电源机箱结构件的完整点云,并对该完整点云数据进行去噪处理得到电源机箱结构件的测量点云;根据电源机箱结构件的CAD模型得到模型点云,将测量点云与模型点云配准统一坐标系,基于电源机箱结构件模型中提取的形状特征,在测量点云上提取该形状特征对应的局部测量点云,对局部测量点云进行拟合得到几何参数,基于几何参数计算形状特征的实测尺寸信息。本发明适应性强、精度高、速度快,可实现结构件的自动化检测。

    一种基于GPU加速的路径依赖数字图像相关匹配方法

    公开(公告)号:CN110414573A

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201910615683.4

    申请日:2019-07-09

    Abstract: 一种基于GPU加速的路径依赖数字图像相关匹配方法,采用基于GPU加速的路径依赖数字图像相关算法进行实时DIC测量,即将初值传递机制与IC-GN法的结合为核心,完成从整像素到亚像素结果的计算算法,并基于GPU实现算法的并行加速;结合独特的种子点扩散策略提升算法并行度。本发明具有高计算速度、高精度、高鲁棒性的优点,属于数字图像相关测量算法领域。

    一种激光数字散斑干涉仪在线检测精度判定方法及装置

    公开(公告)号:CN118347421A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410359468.3

    申请日:2024-03-27

    Abstract: 本发明一种激光数字散斑干涉仪在线检测精度判定方法及装置,包括以下步骤:制做微变形发生装置;创建上述微变形发生装置的运动参数表;启动激光数字散斑干涉仪开始工作;读取试验环境温度t,从微变形发生装置运动参数表中查询温度为t,产生n倍波长的变形量时的电压信号量v。激光数字散斑干涉仪重采基准图,启动微变形发生装置,输入电压信号量v,使微变形发生装置面板出现微变形。用激光数字散斑干涉仪实时测量上述微变形发生装置,记录激光数字散斑干涉仪上散斑差图中的条纹数,记为m条。当|m‑n| =1时,激光数字散斑干涉仪在线检测精度异常时,试验环境出现故障,中断试验。

    一种平面板件表面涂层轮廓尺寸检测方法及装置

    公开(公告)号:CN115930828A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211678485.0

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明提供了一种平面板件表面涂层轮廓尺寸检测方法,包括以下步骤:在待测平面板件的无涂层区域布置定位靶标并采集待测平面板件图像,从图像中提取板件外轮廓与涂层轮廓;对定位靶标进行高精度三维重构得到三维点云数据,并拟合获取平面板件的空间平面表达式;对涂层轮廓和板件外轮廓向平面板件表面进行逆投影计算,得到涂层轮廓与板件外轮廓的三维点云数据,对三维点云数据进行降维获取二维点云数据;读取平面板件设计轮廓,以外轮廓为配准对象计算坐标转换关系;通过该坐标转换关系将涂层轮廓二维点云数据与设计轮廓配准,获取涂层轮廓尺寸误差的检测值。本发明能够适用于具有不同尺寸、大小及涂层形状的平面板件的表面涂层尺寸检测。

    一种与DIC集成应用的多系统标定方法

    公开(公告)号:CN118347402A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410377545.8

    申请日:2024-03-29

    Abstract: 一种与DIC集成应用的多系统标定方法,包括:搭建由DIC、投影仪、测量系统组成的联合检测环境;开启投影仪,投影一张覆盖检测区域尺寸的图片;在每个散斑投影图像处位置安装一个标准测量件;微调散斑投影图像,使其能覆盖标准测量件标记点,且全部位于斜面与上底面区域;启动DIC,拍摄一张包括n个标准测量件的检测区图;利用图像相关算法计算得到标准测量件标记点坐标;将得到n个标记点坐标的集合,记为点集M;关闭投影仪,启动测量系统测量上述n个标准测量件标记点坐标,得到点集N;得到的标记点点集M、N,计算得到DIC与测量系统坐标系转换矩阵,即完成DIC集成应用的多系统标定。

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