一种高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法和装置

    公开(公告)号:CN107544005A

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201710591993.8

    申请日:2017-07-19

    Abstract: 本发明提供了一种高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法和装置,对高压IGBT的局部放电电流进行预筛选得到局部放电脉冲;然后对预筛选出的局部放电脉冲进行计数,并提取局部放电脉冲的电流幅值;最后根据局部放电脉冲的电流幅值得到局部放电脉冲的时域参数。本发明根据本发明提供的高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法得到的局部放电脉冲的时域参数能够灵敏地对高压IGBT设计和制造过程中的绝缘缺陷进行检测和辨识;且本发明在不对测试获得的大量原始数据进行降噪预处理的条件下,准确且快速地提取局部放电电流中局部放电脉冲的时域参数,进而获得高压IGBT中的绝缘缺陷的局部放电模式。

    一种高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法和装置

    公开(公告)号:CN107544005B

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN201710591993.8

    申请日:2017-07-19

    Abstract: 本发明提供了一种高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法和装置,对高压IGBT的局部放电电流进行预筛选得到局部放电脉冲;然后对预筛选出的局部放电脉冲进行计数,并提取局部放电脉冲的电流幅值;最后根据局部放电脉冲的电流幅值得到局部放电脉冲的时域参数。本发明根据本发明提供的高压IGBT局部放电电流时域参数的确定方法得到的局部放电脉冲的时域参数能够灵敏地对高压IGBT设计和制造过程中的绝缘缺陷进行检测和辨识;且本发明在不对测试获得的大量原始数据进行降噪预处理的条件下,准确且快速地提取局部放电电流中局部放电脉冲的时域参数,进而获得高压IGBT中的绝缘缺陷的局部放电模式。

    一种高可靠性绝缘栅双极晶体管及其制作方法

    公开(公告)号:CN107256885B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN201710524879.3

    申请日:2017-06-30

    Abstract: 本发明提供了一种高可靠性绝缘栅双极晶体管(IGBT),包括N型单晶硅衬底,位于衬底上表面的P阱,P阱深度不小于P阱结深的隔离槽及槽底氧化层,相邻隔离槽之间的浮空P阱,紧靠P阱上表面的N+源区,位于N+源区下方且与隔离槽相邻的P+浅阱,位于衬底上表面的栅氧化层,位于两P阱之间的厚度大于栅氧化层的颈区氧化层,颈区氧化层上表面依次设有二氧化硅层、多晶硅层、介质层,跨越并暴露N+源区和P+浅阱并与相邻隔离槽交叠的发射极和发射极接触孔槽,位于衬底下表面的掺杂层和集电极,在常规的自对准平面型IGBT结构基础上,加入隔离槽及槽底局域氧化层结构,改善了IGBT器件的整体性能,使之成为具有抗辐射能力的高可靠性IGBT。

    一种沟槽栅型IGBT器件及其制备方法、装置

    公开(公告)号:CN110571270A

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201910870940.9

    申请日:2019-09-16

    Abstract: 本发明公开一种沟槽栅型IGBT器件及其制备方法、装置,其中,沟槽栅型IGBT器件,包括沟槽栅结构,其第四功能区层位于第三功能区层与第一电极之间,在第三功能区层上设置有第二功能区层,在第二功能区层的内部成型第一功能区层、第三电极、第一电极层和第二电极层,在第二电极上成型介质层,介质层位于第二电极与第三电极之间,第三电极的一端面与介质层接触,第三电极的另一端面和侧壁区域被第一电极层包围,第二电极层与介质层平行且与沟槽栅结构的底部区域接触,第一功能区层分别与第二电极和介质层接触且设置在沟槽栅结构的两侧,以及在沟槽栅结构设置第二电极层可使得沟槽栅型IGBT器件的反向传输电容得到有效降低。

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