一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统

    公开(公告)号:CN109959666A

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201910287502.X

    申请日:2019-04-11

    IPC分类号: G01N21/95 G06T7/00

    摘要: 本发明公开了一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统,该方法包括:实时获取待判别阵列基板当前扫描区域的表面图像数据;对获取到的表面图像数据进行处理,确定阵列基板存在的缺陷与扫描时间的对应关系;根据缺陷与扫描时间的对应关系、预存储的扫描时间与扫描位置的对应关系以及预存储的缺陷类型规则,确定阵列基板中存在缺陷的类型。上述方法可以根据实时获取待判别阵列基板当前扫描区域的表面图像数据,确定阵列基板中存在缺陷的类型,无需工程师进行人为判定,节约了缺陷判定时间,根据判定结果可以及时对缺陷进行处理,避免大量的经济损失。

    阵列基板检测方法及检测装置

    公开(公告)号:CN109036236A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201811076861.2

    申请日:2018-09-14

    IPC分类号: G09G3/00

    CPC分类号: G09G3/006

    摘要: 本发明提供一种阵列基板检测方法及检测装置,涉及显示技术领域,用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。阵列基板检测方法,包括:向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号,以使阵列基板上的数据线生成采集信号;其中,每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号,所述数据线上传输的电信号进行一次累计;获取每根所述数据线上的所述采集信号;根据所述采集信号的突变,确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

    OLED显示面板及其制备方法和显示装置

    公开(公告)号:CN114242757A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111421759.3

    申请日:2021-11-26

    IPC分类号: H01L27/32 H01L51/52 H01L51/56

    摘要: 本发明涉及一种OLED显示面板及其制备方法和显示装置。所述OLED显示面板包括衬底、辅助层、电源信号线与无机封装层。衬底包括显示区与非显示区,非显示区与显示区相邻;辅助层位于衬底上,辅助层在衬底上的投影位于非显示区;电源信号线包括第一导电部,第一导电部位于辅助层远离衬底的一侧,第一导电部的侧壁上形成有第一凹槽,第一凹槽在衬底上的投影位于非显示区,且第一导电部的侧壁在衬底上的投影位于辅助层在衬底上的投影内;无机封装层位于电源信号线与辅助层远离衬底的一侧,无机封装层的部分位于第一凹槽中。根据本发明的实施例,可以降低无机封装层上存在裂缝的风险,进而可以降低水氧侵蚀有机发光材料的风险。