一种制作相变存储单元相变单元的方法

    公开(公告)号:CN101964394B

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN200910055386.5

    申请日:2009-07-24

    Abstract: 本发明提供了一种制作相变存储单元相变单元的方法,包括:提供相变单元基底,所述相变单元基底包括第一钝化层、贯穿所述第一钝化层的金属层、以及位于所述第一钝化层上的第二钝化层;在所述相变单元基底上形成粘附层;刻蚀所述粘附层和所述第二钝化层至露出所述金属层,形成预填充开口,所述预填充开口的位置和所述金属层的位置对应;在所述粘附层及预填充开口上形成相变材料;依次去除所述第二钝化层上的所述相变材料和所述粘附层。可有效解决传统制作方法中存在的相变材料易从预填充开口中剥落的问题和引入新的存储单元结构导致相变材料加热机制改变以及相变材料污染的问题。

    一种制作相变存储单元相变单元的方法

    公开(公告)号:CN101964394A

    公开(公告)日:2011-02-02

    申请号:CN200910055386.5

    申请日:2009-07-24

    Abstract: 本发明提供了一种制作相变存储单元相变单元的方法,包括:提供相变单元基底,所述相变单元基底包括第一钝化层、贯穿所述第一钝化层的金属层、以及位于所述第一钝化层上的第二钝化层;在所述相变单元基底上形成粘附层;刻蚀所述粘附层和所述第二钝化层至露出所述金属层,形成预填充开口,所述预填充开口的位置和所述金属层的位置对应;在所述粘附层及预填充开口上形成相变材料;依次去除所述第二钝化层上的所述相变材料和所述粘附层。可有效解决传统制作方法中存在的相变材料易从预填充开口中剥落的问题和引入新的存储单元结构导致相变材料加热机制改变以及相变材料污染的问题。

    一种稳定的改性硅溶胶及其制备方法

    公开(公告)号:CN103896290B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201210587486.4

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 本发明涉及化学工程领域,具体涉及一种较宽pH范围稳定的改性硅溶胶及其制备方法。本发明的稳定的改性硅溶胶制备方法如下:将待改性的碱性硅溶胶与阴离子交换树脂混合进行交换反应,获得除去阴离子的硅溶胶;加热使其沸腾,搅拌滴加金属盐溶液,获得待反应液;将待反应液于反应釜中反应0.5~24h,反应温度为100~150℃,得到反应产物;将反应产物与阳离子交换树脂混合进行交换反应,除去反应产物中的金属离子,获得改性的硅溶胶。本发明提供的改性硅溶胶,胶粒粒径10~60nm,二氧化硅含量为0.1~40%,pH值为3~11,常温放置一年以上,能够满足涂料、纺织、半导体等领域的应用需求。

    一种稳定的改性硅溶胶及其制备方法

    公开(公告)号:CN103896290A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201210587486.4

    申请日:2012-12-28

    Abstract: 本发明涉及化学工程领域,具体涉及一种较宽pH范围稳定的改性硅溶胶及其制备方法。本发明的稳定的改性硅溶胶制备方法如下:将待改性的碱性硅溶胶与阴离子交换树脂混合进行交换反应,获得除去阴离子的硅溶胶;加热使其沸腾,搅拌滴加金属盐溶液,获得待反应液;将待反应液于反应釜中反应0.5~24h,反应温度为100~150℃,得到反应产物;将反应产物与阳离子交换树脂混合进行交换反应,除去反应产物中的金属离子,获得改性的硅溶胶。本发明提供的改性硅溶胶,胶粒粒径10~60nm,二氧化硅含量为0.1~40%,pH值为3~11,常温放置一年以上,能够满足涂料、纺织、半导体等领域的应用需求。

    一种相变存储器电极结构的制备方法

    公开(公告)号:CN103500795A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310461919.6

    申请日:2013-09-30

    Abstract: 本发明涉及一种相变存储器电极结构的制备方法,首先在硅衬底上依次沉积第一绝缘层和第二绝缘层,然后刻蚀形成贯通第一绝缘层和第二绝缘层的圆孔状凹槽Ⅰ;在凹槽Ⅰ内沉积钨材料;再通过干法回蚀刻蚀填充于凹槽Ⅰ内的钨材料至其上表面与第一绝缘层的上表面齐平,形成圆孔状凹槽Ⅱ,沟槽Ⅱ底部的钨材料作为下电极;然后在凹槽Ⅱ的内表面及第二绝缘层的上表面上沉积导电薄膜层,继而在沟槽Ⅱ内填充第三绝缘层材料,然后化学机械抛光去除第二绝缘层上表面上多余的第三绝缘层材料和导电薄膜层,剩余导电薄膜层作为上电极;本方法具有大大提高器件的良率,并提高硅片内环形电极高度的均匀性,使得相变过程中的电阻分布变窄,提高器件的稳定性的特点。

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