微同轴结构的微延时线芯片的制作方法

    公开(公告)号:CN111883898B

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN202010519992.4

    申请日:2020-06-09

    IPC分类号: H01P11/00

    摘要: 本发明适用于射频微波技术领域,提供了一种微同轴结构的微延时线芯片的制作方法,该方法包括:在第一基片、第二基片和第三基片制备多个第一通孔,第二基片和第三基片制备多个第二通孔;第一基片和第三基片制备位置对应的第一凹槽和第二凹槽;在第二凹槽的两端槽内各制备一个转接支撑结构,每个转接支撑结构内设置第三通孔,在槽底制备第四通孔,第三通孔与第四通孔连通,在第三基片的下表面制备焊盘;在第二基片上制备同轴芯体;将第一基片、第二基片以及第三基片依次键合,获得微同轴结构的微延时线芯片,通过将微延时线芯片中的同轴芯体(传输线)进行转折、绕线或者堆叠等结构形式变换,可以控制传输线的长度同时调节芯片的延时量。

    滤波器调试用辅助装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117849411A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202410032153.8

    申请日:2024-01-09

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/28

    摘要: 本发明提供了一种滤波器调试用辅助装置,包括底座、导向组件、固定组件、锁定组件和升降组件;导向组件设于所述底座;固定组件设于所述底座上,所述固定组件包括两组固定机构,至少其中一组所述固定机构沿第一路径滑动连接于所述导向组件,两组所述固定机构间隔设置形成容纳滤波器的调试空间,两组所述固定机构分别设有接头连接件;所述锁定组件用于固定两组所述锁定组件;升降组件设于所述底座。本发明提供的滤波器调试用辅助装置,旨在解决现有技术中对滤波器进行调试时需要施加外力固定SMA接头和测试设备连接,施力大小不易控制,容易造成SMA接头损坏,且对于不同型号的滤波器无法统一调试工装,导致调试成本较高的问题。

    微同轴结构的微延时线芯片的制作方法

    公开(公告)号:CN111883898A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010519992.4

    申请日:2020-06-09

    IPC分类号: H01P11/00

    摘要: 本发明适用于射频微波技术领域,提供了一种微同轴结构的微延时线芯片的制作方法,该方法包括:在第一基片、第二基片和第三基片制备多个第一通孔,第二基片和第三基片制备多个第二通孔;第一基片和第三基片制备位置对应的第一凹槽和第二凹槽;在第二凹槽的两端槽内各制备一个转接支撑结构,每个转接支撑结构内设置第三通孔,在槽底制备第四通孔,第三通孔与第四通孔连通,在第三基片的下表面制备焊盘;在第二基片上制备同轴芯体;将第一基片、第二基片以及第三基片依次键合,获得微同轴结构的微延时线芯片,通过将微延时线芯片中的同轴芯体(传输线)进行转折、绕线或者堆叠等结构形式变换,可以控制传输线的长度同时调节芯片的延时量。