基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110243306B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN201910661568.0

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法,包括干涉仪、工业机器人以及坐标系建立组件,所述干涉仪能够通过连接工装安装在工业机器人上,所述坐标系建立组件包括参考件和校准件,所述校准件包括能够安装在工业机器人上的连接盘和设置在连接盘一侧的校准杆,所述校准杆的延伸方向与连接盘的连接盘安装轴线平行,该校准杆与连接盘距离最远的一点为校准点。本发明具有结构灵活简单、应用范围广、高效安全、环境适应性好等优点,兼具子孔径干涉测量的高空间分辨率等优点,可以同时满足各种重力姿态下的大口径光学元件平面面形高精度在位测量问题,可以进行表面未经过镀膜或打毛等处理的平面面形测量。

    大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN114413794B

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202210109674.X

    申请日:2022-01-29

    Abstract: 本发明公开了一种大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法,包括依次设置的激光器、整形器、标准镜、凹透镜和CCD相机,激光器出射激光经整形器整形后垂直入射到凹透镜,从而产生从多个角度入射到待测KDP晶体表面的激光,CCD相机用于接收并记录由待测KDP晶体出射的激光;所述测量系统还包括激光自准直仪、晶体自准直仪和图像处理模块,激光自准直仪用于对标准镜及激光器出射激光进行准直,晶体自准直仪用于准直待测KDP晶体,图像处理模块能够读取CCD相机获取的图像并计算出对应的相位匹配角。本发明能够实现KDP晶体相位匹配角度的精确测量,具有自动化程度高,操作方便,测量准确等优点。

    基于单模-多模-无芯光纤结构的分子态有机污染物监测传感器

    公开(公告)号:CN107247037B

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN201710631796.4

    申请日:2017-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于单模‑多模‑无芯光纤结构的分子态有机污染物监测传感器,包括:单模光纤;多模光纤,其与单模光纤的熔接;表面包覆溶胶‑凝胶二氧化硅薄膜的无芯光纤,其一端与多模光纤的输入端偏心熔接;无芯光纤与多模光纤偏心熔接后的不重叠位置处包覆第一金属膜层,其另一端面附着第二金属膜层。将在线监测传感器置于被监测环境中,当分子态有机污染物浓度发生变化,会导致表面薄膜折射率发生变化,从而引起整个波导结构有效折射率发生变化导致谐振条件发生变化,使马赫‑泽德混合干涉中一干涉臂光程发生变化导致整个波导干涉条件发生变化,最后光谱仪监测输出信号波长,通过对输出信号进行处理即可反推外部环境分子态有机污染物浓度。

    基于空间坐标测量的多点放样工装及放样方法

    公开(公告)号:CN109291029B

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN201811421807.7

    申请日:2018-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于空间坐标测量的多点放样工装及放样方法,包括水平底板和空心柱筒,在水平底板上开设有放样锥定位孔,空心柱筒的内腔与放样锥定位孔连通,在内腔中配置有中心放样锥和放样锤,在水平底板上布置有放样锥条形引导槽,各个放样锥条形引导槽均沿空心柱筒的径向延伸,并均配置有角点放样锥;空心柱筒的上端配置有球形反射器,在水平底板的上表面设置有两个坐标测量孔,在水平底板上安装有调节部件。采用本发明提供的基于空间坐标测量的多点放样工装及放样方法,通过一次调整就能够快速地在地面做出各个放样标识,有效提高大型科学装置地面支撑架支腿安装时放样的效率与精度,进而提高大型科学装置地面支撑架安装的效率与精度。

    基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110243306A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910661568.0

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法,包括干涉仪、工业机器人以及坐标系建立组件,所述干涉仪能够通过连接工装安装在工业机器人上,所述坐标系建立组件包括参考件和校准件,所述校准件包括能够安装在工业机器人上的连接盘和设置在连接盘一侧的校准杆,所述校准杆的延伸方向与连接盘的连接盘安装轴线平行,该校准杆与连接盘距离最远的一点为校准点。本发明具有结构灵活简单、应用范围广、高效安全、环境适应性好等优点,兼具子孔径干涉测量的高空间分辨率等优点,可以同时满足各种重力姿态下的大口径光学元件平面面形高精度在位测量问题,可以进行表面未经过镀膜或打毛等处理的平面面形测量。

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