公开(公告)号：CN102479736A

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN201110396126.1

申请日：2011-11-28

Applicant: 东京毅力科创株式会社

Inventor： 出口雅敏 ,  船越秀朗 ,  武井利亲 ,  佐藤礼史 ,  清田弥 ,  石丸大辅 ,  待鸟真一 ,  须中郁雄 ,  龟井繁则

IPC: H01L21/67 ,  H01L21/68

CPC classification number: H01L21/67178 ,  H01L21/6708 ,  H01L21/6715 ,  H01L21/6719 ,  H01L21/67259 ,  H01L21/681 ,  H01L21/68707

Abstract: 本发明提供基板处理系统及基板处理方法。其抑制涂敷膜的向输送臂的附着并且适当地处理基板。涂敷显影处理系统(1)包括：用于调节晶圆(W)的中心位置的位置调节装置(42)；用于在晶圆上涂敷聚酰亚胺溶液的涂敷处理装置；用于输送晶圆的晶圆输送装置(80)。晶圆输送装置包括：以比晶圆的半径大的曲率半径沿着晶圆的周缘部弯曲的臂部；自臂部向内侧突出并用于保持晶圆的背面的保持部。位置调节装置包括：保持晶圆的背面的中心部的吸盘；对被保持于吸盘的晶圆的中心位置进行检测的位置检测部；使吸盘移动的移动机构；控制部，其根据位置检测部所检测到的检测结果控制移动机构，以使被保持于吸盘的晶圆的中心位置与臂部的中心位置对齐。

公开(公告)号：CN118737937A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410295970.2

申请日：2024-03-15

Applicant: 东京毅力科创株式会社

Inventor： 待鸟真一

IPC: H01L21/687 ,  H01L21/02 ,  B08B5/04

Abstract: 本发明提供基板处理装置和基板处理方法。在具备可升降的处理部以对基板进行处理的基板处理装置中，防止由自驱动机构产生的微粒对基板的污染。本公开的基板处理装置具备：基部，其具备驱动机构；罩部，其覆盖所述基部；升降体，其自被所述罩部覆盖的内部区域向该区域的外侧的外部区域突出，利用所述驱动机构相对于所述基部升降移动；处理部，其在所述外部区域与所述升降体连接，用于对基板进行处理；以及抽吸部，其形成有用于抽吸自所述驱动机构产生的微粒的抽吸口。

公开(公告)号：CN102479736B

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201110396126.1

申请日：2011-11-28

Applicant: 东京毅力科创株式会社

Inventor： 出口雅敏 ,  船越秀朗 ,  武井利亲 ,  佐藤礼史 ,  清田弥 ,  石丸大辅 ,  待鸟真一 ,  须中郁雄 ,  龟井繁则

IPC: H01L21/67 ,  H01L21/68

CPC classification number: H01L21/67178 ,  H01L21/6708 ,  H01L21/6715 ,  H01L21/6719 ,  H01L21/67259 ,  H01L21/681 ,  H01L21/68707

Abstract: 本发明提供基板处理系统及基板处理方法。其抑制涂敷膜的向输送臂的附着并且适当地处理基板。涂敷显影处理系统(1)包括：用于调节晶圆(W)的中心位置的位置调节装置(42)；用于在晶圆上涂敷聚酰亚胺溶液的涂敷处理装置；用于输送晶圆的晶圆输送装置(80)。晶圆输送装置包括：以比晶圆的半径大的曲率半径沿着晶圆的周缘部弯曲的臂部；自臂部向内侧突出并用于保持晶圆的背面的保持部。位置调节装置包括：保持晶圆的背面的中心部的吸盘；对被保持于吸盘的晶圆的中心位置进行检测的位置检测部；使吸盘移动的移动机构；控制部，其根据位置检测部所检测到的检测结果控制移动机构，以使被保持于吸盘的晶圆的中心位置与臂部的中心位置对齐。