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公开(公告)号:CN102479736A
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201110396126.1
申请日:2011-11-28
Applicant: 东京毅力科创株式会社
CPC classification number: H01L21/67178 , H01L21/6708 , H01L21/6715 , H01L21/6719 , H01L21/67259 , H01L21/681 , H01L21/68707
Abstract: 本发明提供基板处理系统及基板处理方法。其抑制涂敷膜的向输送臂的附着并且适当地处理基板。涂敷显影处理系统(1)包括:用于调节晶圆(W)的中心位置的位置调节装置(42);用于在晶圆上涂敷聚酰亚胺溶液的涂敷处理装置;用于输送晶圆的晶圆输送装置(80)。晶圆输送装置包括:以比晶圆的半径大的曲率半径沿着晶圆的周缘部弯曲的臂部;自臂部向内侧突出并用于保持晶圆的背面的保持部。位置调节装置包括:保持晶圆的背面的中心部的吸盘;对被保持于吸盘的晶圆的中心位置进行检测的位置检测部;使吸盘移动的移动机构;控制部,其根据位置检测部所检测到的检测结果控制移动机构,以使被保持于吸盘的晶圆的中心位置与臂部的中心位置对齐。
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公开(公告)号:CN102479736B
公开(公告)日:2015-08-05
申请号:CN201110396126.1
申请日:2011-11-28
Applicant: 东京毅力科创株式会社
CPC classification number: H01L21/67178 , H01L21/6708 , H01L21/6715 , H01L21/6719 , H01L21/67259 , H01L21/681 , H01L21/68707
Abstract: 本发明提供基板处理系统及基板处理方法。其抑制涂敷膜的向输送臂的附着并且适当地处理基板。涂敷显影处理系统(1)包括:用于调节晶圆(W)的中心位置的位置调节装置(42);用于在晶圆上涂敷聚酰亚胺溶液的涂敷处理装置;用于输送晶圆的晶圆输送装置(80)。晶圆输送装置包括:以比晶圆的半径大的曲率半径沿着晶圆的周缘部弯曲的臂部;自臂部向内侧突出并用于保持晶圆的背面的保持部。位置调节装置包括:保持晶圆的背面的中心部的吸盘;对被保持于吸盘的晶圆的中心位置进行检测的位置检测部;使吸盘移动的移动机构;控制部,其根据位置检测部所检测到的检测结果控制移动机构,以使被保持于吸盘的晶圆的中心位置与臂部的中心位置对齐。
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公开(公告)号:CN301795038S
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN201130174998.4
申请日:2011-06-13
Applicant: 东京毅力科创株式会社
Designer: 佐藤礼史
Abstract: 1.本外观设计产品是基板输送用保持具。其用途为:保持、输送如半导体晶片等的圆形基板的基板输送用保持具。2.本外观设计的设计要点在于形状的设计。3.立体图是最能表明设计要点的图片。4.右视图与左视图对称,故省略右视图。
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公开(公告)号:CN301776952S
公开(公告)日:2011-12-28
申请号:CN201130174987.6
申请日:2011-06-13
Applicant: 东京毅力科创株式会社
Abstract: 本外观设计产品是基板保持具。其用途为:用于保持如半导体晶片等的圆形基板的基板保持具。本外观设计的设计要点在于形状。立体图是最能表明设计要点的图片。右视图与左视图对称,故省略右视图。
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