半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1722461A

    公开(公告)日:2006-01-18

    申请号:CN200510084695.7

    申请日:2005-07-18

    Abstract: 本发明提供一种设置有具有窄的基极结合部分的发射极层的半导体装置。半导体装置,包含设于半导体基板上的集电极层。导电层设于集电极层上,具有基极层功能。硅膜设于导电层上。发射极电极设于硅膜上。第1膜覆盖发射极电极的侧面。硅膜包含:与发射极电极接触,具有发射极层功能的第1区域;和,与此第1区域不同的第2区域。第1区域和发射极电极的接触面,位于比第1膜的下面的水平面靠上的水平面。硅膜的第2区域的至少一部分,位于导电层和第1膜之间,导电层与第1膜相接。

    半导体器件的制造方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1971859A

    公开(公告)日:2007-05-30

    申请号:CN200610144613.8

    申请日:2006-11-09

    Abstract: 一种半导体器件制造方法,包括在包含活性区的半导体衬底上形成导电层和硅膜,在活性区上的硅膜上形成含第一杂质的发射极电极,用发射极电极作为掩模部分地蚀刻硅膜,形成覆盖半导体衬底的绝缘膜和覆盖发射极电极侧面的侧壁膜,在导电层和硅膜中引入第二杂质,使第二杂质到达入活性区,形成在导电层和硅膜中的部分中的含第二杂质的杂质区,以及将发射极电极中所含第一杂质扩散到硅膜中,在硅膜中形成含第一杂质的第一区和不含第一杂质的第二区。

    半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1790736A

    公开(公告)日:2006-06-21

    申请号:CN200510119957.9

    申请日:2005-09-27

    Abstract: 本发明提供一种减小发射极层的宽度、高性能的半导体装置。该半导体装置包括:集电极层(2),其形成在半导体基板(1)之上;含有硅的导电层(4),其形成在集电极层之上;硅膜(5),其形成在导电层(4)之上;发射极电极(7a),其形成在硅膜(5)之上;侧面膜(9),其覆盖发射极电极(7a)的侧面,所述发射极电极(7a)的底面高于侧面膜的下表面,所述硅膜的所述第2区域(5)的至少一部分位于导电层(4)与侧面膜(9)之间;杂质区域(10),其与所述导电层相邻形成;和硅化物膜(8b),其跨越所述第2区域(5)的所述侧面、导电层(4)的所述侧面和杂质区域(10)的所述表面形成。

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