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公开(公告)号:CN103296088A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201310061264.3
申请日:2013-02-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/6681 , H01L21/02255 , H01L21/32053 , H01L21/76224 , H01L27/092 , H01L29/517 , H01L29/66545 , H01L29/66795 , H01L29/7848 , H01L29/785
Abstract: 本发明提供了场效应晶体管及其制造方法。该晶体管可以包括:具有有源图案的基板,该有源图案具有顶表面和两个侧壁;栅电极,邻近有源图案的顶表面和侧壁并且跨过有源图案;栅间隔物,覆盖栅电极的侧壁;栅电介质图案,在栅电极的底表面处;源电极,在栅电极的一侧的有源图案上;漏电极,在栅电极的另一侧的有源图案上;以及硅化物图案,分别在源电极和漏电极的表面上。栅电介质图案包括至少一个高k层,栅间隔物的介电常数小于栅电介质图案的介电常数。
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公开(公告)号:CN103296088B
公开(公告)日:2018-04-27
申请号:CN201310061264.3
申请日:2013-02-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/6681 , H01L21/02255 , H01L21/32053 , H01L21/76224 , H01L27/092 , H01L29/517 , H01L29/66545 , H01L29/66795 , H01L29/7848 , H01L29/785
Abstract: 本发明提供了场效应晶体管及其制造方法。该晶体管可以包括:具有有源图案的基板,该有源图案具有顶表面和两个侧壁;栅电极,邻近有源图案的顶表面和侧壁并且跨过有源图案;栅间隔物,覆盖栅电极的侧壁;栅电介质图案,在栅电极的底表面处;源电极,在栅电极的一侧的有源图案上;漏电极,在栅电极的另一侧的有源图案上;以及硅化物图案,分别在源电极和漏电极的表面上。栅电介质图案包括至少一个高k层,栅间隔物的介电常数小于栅电介质图案的介电常数。
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