极紫外(EUV)光掩模
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117192886A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310678851.0

    申请日:2023-06-08

    Abstract: 本发明提供一种极紫外(EUV)光掩模,其可以包括掩模结构,该掩模结构包括主区域、围绕主区域的划线道区域、在划线道区域外侧且彼此分开并且各自具有相同的第一宽度的缓冲区域、以及在缓冲区域外侧的黑色边界区域。缓冲区域可以包括第一缓冲区域、第二缓冲区域和第三缓冲区域。黑色边界区域可以包括第一拐角区域、第二拐角区域和第三拐角区域。第一拐角区域可以接触第一缓冲区域和第二缓冲区域。第二拐角区域可以接触第一缓冲区域、第三缓冲区域和划线道区域的一边。第三拐角区域可以接触第二缓冲区域和第三缓冲区域。

    半导体器件
    6.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118841395A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202311547973.2

    申请日:2023-11-20

    Abstract: 本公开涉及半导体器件。一种示例半导体器件包括:衬底,所述衬底包括逻辑单元区域和键区域;虚设有源图案,所述虚设有源图案位于所述键区域上;以及键图案,所述键图案位于所述虚设有源图案中。所述键图案包括在所述衬底的上部处凹陷的键单元。所述键单元包括:低于所述虚设有源图案的顶表面的底表面;以及围绕所述底表面的多个内侧表面。所述内侧表面包括第一内侧表面和与所述第一内侧表面相对的第二内侧表面。所述第二内侧表面的硅原子表面密度与所述第一内侧表面的硅原子表面密度之比率在大约0.9至大约1.1的范围内。

    半导体器件
    7.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN116613144A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310105816.X

    申请日:2023-02-13

    Abstract: 一种半导体器件包括:基板,包括套刻标记区域;以及在套刻标记区域上的多个标记图案。所述多个标记图案包括第一标记图案、第二标记图案、第三标记图案、第四标记图案、第五标记图案、第六标记图案和第七标记图案。第二标记图案至第七标记图案被排列为在顺时针方向上围绕第一标记图案并具有形成六边形形状的中心点。

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