包括铁电薄膜结构的电子器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115939195A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202210916857.2

    申请日:2022-08-01

    Abstract: 本发明公开了一种电子器件,该电子器件包括:衬底,包括源极、漏极以及在源极和漏极之间的沟道;栅电极,布置在衬底上方并面向沟道,栅电极在第一方向上与沟道隔开;以及在沟道和栅电极之间的铁电薄膜结构,该铁电薄膜结构包括在第一方向上从沟道起顺序布置的第一铁电层、包括电介质材料的结晶阻挡层、和第二铁电层。第一铁电层的晶粒的尺寸的平均值可以小于或等于第二铁电层的晶粒的尺寸的平均值,并且由于小的晶粒,可以改善性能的离散。

    垂直非易失性存储器器件和包括其的电子装置

    公开(公告)号:CN116249353A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202211550188.8

    申请日:2022-12-05

    Abstract: 本公开提供了垂直非易失性存储器器件和包括其的电子装置。该垂直非易失性存储器器件可以包括:多个绝缘层和多个导电层,在垂直于衬底的表面的方向上交替地堆叠在衬底的表面上;在衬底上的沟道层,其中沟道层在垂直于衬底的表面的方向上延伸,沟道层可以在所述多个绝缘层的侧表面和所述多个导电层的侧表面上;以及铁电层,在沟道层与所述多个导电层的侧表面之间。

    互补金属氧化物半导体器件
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114566466A

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202111402444.4

    申请日:2021-11-24

    Abstract: 提供了一种半导体器件,包括具有半导体沟道层和金属氧化物半导体沟道层的第一半导体晶体管,并且具有其中第二半导体晶体管堆叠在第一半导体晶体管的顶部上的结构。第二半导体晶体管的栅极堆叠和第一半导体晶体管的栅极堆叠的顶部可以重叠大于或等于90%。第一半导体晶体管和第二半导体晶体管可以具有相似水平的操作特性。

    半导体器件、包括该半导体器件的半导体装置和电子设备

    公开(公告)号:CN114551719A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202111419151.7

    申请日:2021-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件、包括该半导体器件的半导体装置、以及包括该半导体器件的电子设备。该半导体装置包括多个半导体器件。半导体器件均在两个电极之间包括铁电层、导电金属氧化物层和半导体层。导电金属氧化物层可以在铁电层和半导体层之间。铁电层、导电金属氧化物层和半导体层可以都包括金属氧化物。导电金属氧化物层可以包括从由铟氧化物、锌氧化物、锡氧化物及其任意组合组成的组中选择的一种或更多种材料。

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