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公开(公告)号:CN109427900A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201810568075.8
申请日:2018-06-05
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/10 , H01L21/336
Abstract: 一种半导体器件和制造半导体器件的方法,该半导体器件包括:在衬底上的沟道图案,沟道图案在第一方向上延伸;在衬底上的栅极图案,栅极图案在交叉第一方向的第二方向上延伸并围绕沟道图案;以及在沟道图案与栅极图案之间的界面层,界面层形成在沟道图案的上表面和下表面中的至少一个表面上。
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