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公开(公告)号:CN105702732B
公开(公告)日:2018-07-31
申请号:CN201510821015.9
申请日:2015-11-24
Applicant: 万国半导体股份有限公司
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L21/28008 , H01L27/088 , H01L29/404 , H01L29/407 , H01L29/42364 , H01L29/42376 , H01L29/4238 , H01L29/66484 , H01L29/66613 , H01L29/66734 , H01L29/78 , H01L29/7811 , H01L29/7813
Abstract: 多个栅极沟槽形成在有源晶胞区中的半导体衬底中。一个或多个其他沟槽形成在不同区域。每个栅极沟槽都具有在底部的第一导电材料,以及在顶部的第二导电材料。在栅极沟槽中,第一绝缘层将第一导电材料与衬底隔开,第二绝缘层将第二导电材料与衬底隔开,第三绝缘层将第一导电材料和第二导电材料隔开。一个或多个其他沟槽都含有一部分第一导电材料,呈半U型,在其他沟槽底部,以及第二导电材料在其他沟槽顶部。在其他沟槽中,第三绝缘层将第一导电材料和第二导电材料隔开。第一绝缘层的厚度大于第三绝缘层的厚度,第三绝缘层的厚度大于第二绝缘层的厚度。
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公开(公告)号:CN105702732A
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201510821015.9
申请日:2015-11-24
Applicant: 万国半导体股份有限公司
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L21/28008 , H01L27/088 , H01L29/404 , H01L29/407 , H01L29/42364 , H01L29/42376 , H01L29/4238 , H01L29/66484 , H01L29/66613 , H01L29/66734 , H01L29/78 , H01L29/7811 , H01L29/7813 , H01L29/7827 , H01L29/66666 , H01L29/7831
Abstract: 多个栅极沟槽形成在有源晶胞区中的半导体衬底中。一个或多个其他沟槽形成在不同区域。每个栅极沟槽都具有在底部的第一导电材料,以及在顶部的第二导电材料。在栅极沟槽中,第一绝缘层将第一导电材料与衬底隔开,第二绝缘层将第二导电材料与衬底隔开,第三绝缘层将第一导电材料和第二导电材料隔开。一个或多个其他沟槽都含有一部分第一导电材料,呈半U型,在其他沟槽底部,以及第二导电材料在其他沟槽顶部。在其他沟槽中,第三绝缘层将第一导电材料和第二导电材料隔开。第一绝缘层的厚度大于第三绝缘层的厚度,第三绝缘层的厚度大于第二绝缘层的厚度。
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