同步测量高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的装置

    公开(公告)号:CN107356407A

    公开(公告)日:2017-11-17

    申请号:CN201610305698.7

    申请日:2016-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种同步测量高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的装置,共光轴依次设置准直器、高反镜组、第一楔板玻璃、第一多槽可插拔衰减器、凸透镜和光纤探头,上述元件构成光谱测量光路,准直器设置在待测光纤激光器输出端,光纤探头与光纤光谱仪连接;平凹镜和功率计靶面依次设置在高反镜组的反射光路上,功率计靶面与功率计连接;第二楔板玻璃设置在第一楔板玻璃的反射光路,第二多槽可插拔衰减器和光束质量分析仪依次设置在第二楔板玻璃的反射光路上;上述元件设置在光学平台上。本发明实现了高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的同步测量,提高了测量效率;同时有效减少了光学像差和泵浦光等干扰因素对测量结果的影响,提高了测量精度。

    基于宽带光谱域显微干涉术的近红外位移传感装置及微位移量测量方法

    公开(公告)号:CN106705856A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201510463961.0

    申请日:2015-07-31

    Abstract: 本发明提供一种基于宽带光谱域显微干涉术的近红外位移传感装置,包括宽带光源、柯勒照明系统、显微镜筒、干涉物镜、精密电控平台、短波截止滤光片、SMA905光纤接头、光纤、光谱仪、计算机和。光路结构沿光路行进方向依次是宽带光源、柯勒照明系统、显微镜筒,之后进入干涉物镜,经过干涉物镜的半透半反膜分成参考光束和测试光束,两者分别经过干涉物镜的参考板和被测件表面反射,沿原路返回并发生干涉,干涉信号经过显微镜筒的成像透镜和短波截止滤光片投射到像面,SMA905光纤接头将光纤固定于显微镜筒的像面,干涉信号通过光纤导入光谱仪,光谱仪与计算机连接,输出谱域干涉条纹。

    偏摆工件非球面的非接触式测量系统与方法

    公开(公告)号:CN104165599B

    公开(公告)日:2017-01-25

    申请号:CN201410413452.2

    申请日:2014-08-20

    Abstract: 本发明提供一种偏摆工件非球面的非接触式测量系统,包括:非接触式光学轮廓仪探头、轮廓仪升降调整机构、精密三维位移台、数显倾角仪、二维偏摆台、底座及计算机系统,非接触式光学轮廓仪探头固定在轮廓仪升降调整机构上;精密三维位移台固定于二维偏摆台上,用于对被测件的承载和横向移动与定位;数显倾角仪固定于二维偏摆台上,用于测量二维偏摆台的偏摆角度;二维偏摆台固定于底座上,用于通过偏摆实现被测件的偏摆;计算机系统经与非接触式光学轮廓仪探头、精密三维位移台、数显倾角仪数据连接,接收测量点面形数据、被测件的横向位移数据及偏摆角度,进行处理实现非球面面形恢复。本发明还涉及一种偏摆工件非球面的非接触式测量方法。

    基于斜入射的平面度绝对检验方法

    公开(公告)号:CN101963496A

    公开(公告)日:2011-02-02

    申请号:CN201010503037.8

    申请日:2010-09-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于斜入射的平面度绝对检验方法,该方法通过斐索干涉仪的空腔干涉以及两次斜入射测量得到三组波面数据,使用Zernike多项式对波面拟合,通过求解待测表面的旋转不变量和旋转因变量获得整个平面的绝对面形分布。本发明简化了测量步骤缩短了测量时间,不需要拆装参考透射平晶,仅需要三次测量能够得到被检平面的绝对面形分布,特别适用于高反射率光学平面的面形绝对检验。

    一种带尾纤且免轴向调整的可调光纤耦合器

    公开(公告)号:CN114879310B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202210698855.0

    申请日:2022-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种带尾纤且免轴向调整的可调光纤耦合器,包括光纤准直器、准直器调整架、光纤输出头;待耦合自由空间准直激光入射到光纤准直器,光纤准直器固定于准直器调整架的夹具中,尾纤的输出端连接光纤输出头。所述光纤准直器的透镜与尾纤轴向解耦可调,利用波像差干涉仪依次将透镜和尾纤调校至理想姿态,使光纤准直器具有最佳准直效果和最小波前畸变;所述光纤准直器的透镜与尾纤调整完成后封装为一体,实现了自由空间准直激光的免轴向调整高效率光纤耦合;所述准直器调整架旋转维度解耦可调,配合保偏耦合光路,在不损失耦合效率的前提下,实现了线偏振光的保偏光纤耦合。

    一种短增益纤振荡放大共泵浦高功率窄线宽激光器

    公开(公告)号:CN113823990B

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202111048129.6

    申请日:2021-09-08

    Abstract: 本发明公开了一种短增益纤振荡放大共泵浦的高功率窄线宽激光器,包括种子源和放大器,种子源包括依次相连的第一光纤耦合器、信号反射光纤光栅、第一部分吸收光纤、匹配输出光纤光栅;匹配输出光纤光栅的输出端连接与放大器的输入端;放大器包含第二部分吸收光纤和第二光纤耦合器。本发明利用部分吸收光纤无需完全吸收泵浦光的特点减少增益光纤的长度,提升非线性效应阈值功率,抑制光谱展宽并保障输出光谱纯度。激光器互通了振荡器种子源与放大器的泵浦功率,使其互相利用,提升了激光器的光光转化效率。由于种子源能利用放大器的反向泵浦,使其随激光器反向泵浦功率正相关动态变化,有效抑制了ASE效应。

    一种低反射率光学系统波像差的动态干涉测量方法

    公开(公告)号:CN116086775A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202310052050.3

    申请日:2023-02-02

    Abstract: 本发明公开了一种低反射率光学系统波像差动态干涉测量方法,首先建立单频半导体激光器不同温度及电流工作点的功率和纵模数量数据库;然后对待测低反射率光学系统进行评估,得到振动环境下取得良好对比度动态干涉图的激光器功率阈值;接着从激光器的功率和纵模数量数据库中动态筛选出阈值功率以上且单纵模运转的温度和电流工作点,从而实现低反射率光学系统波像差进行动态干涉测量。本发明可以有效解决动态干涉仪在对低反射率光学系统波像差进行测量时因光源纵模及线宽特性差、功率低而导致的动态测量失效问题。

    一种三包层光纤合束器包层光功率分布的测量方法

    公开(公告)号:CN115683574A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211423290.1

    申请日:2022-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种三包层光纤合束器包层光功率分布的测量方法,首先利用第一包层光标定光路获取基准光斑直径,接着利用第二包层光剥除光路剥除三包层光纤第二包层光,再利用包层光功率测量光路获取三包层光纤合束器第一包层内传输的包层光功率,最后计算三包层光纤合束器的包层光的功率分布。本发明可以通过获得的第二包层光剥除器完全剥离光纤中的第二包层光,并在高功率条件下准确测量三包层光纤合束器的包层光,提升了对三包层光纤合束器包层光功率分布测量的精度,进一步促进优化三包层光纤合束器的光束质量。

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