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公开(公告)号：CN108181326B
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN201611159090.4
申请日：2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离；以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统，通过对多能谱物质识别问题的分析，提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统，多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力，特别是在安检应用领域，物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。
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公开(公告)号：CN107680065A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201711173570.0
申请日：2017-11-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G06T5/006 , G06T3/4023
Abstract: 本公开公开了一种辐射图像校正方法和校正装置及校正系统，涉及辐射成像领域。其中的校正方法包括：采集激光扫描仪的扫描数据；根据激光扫描仪的扫描数据，确定被检对象的运动状态信息，所述被检对象的运动状态信息包括被检对象的运动速度和行进状态中的至少一项；根据所述被检对象的运动速度和行进状态中的至少一项，对所述被检对象的辐射图像进行校正。本公开利用激光扫描仪作为图像校正的传感设备，监测精度比较高，能够提高辐射图像校正的实时性。
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公开(公告)号：CN106526686A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611117356.9
申请日：2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/005
Abstract: 本发明公开了一种螺旋CT设备和一种三维图像重建方法。该螺旋CT设备包括：检测台，用于承载待检对象，所述检测台限定出位于其上方的用于容纳待检对象的检测空间；转动支撑装置，在检测状态下，在平行于第一方向的平面内围绕所述检测空间，并能够围绕所述检测空间进行转动；多个X射线源，位于所述转动支撑装置上，用于发送经过所述检测空间的X射线；多个X射线接收装置，与所述多个X射线源一一对应，分别与所述多个X射线源相对地位于所述转动支撑装置上，用于采集穿过所述检测空间的X射线信号，其中，所述多个X射线源和所述多个X射线接收装置能够随所述转动支撑装置一致转动。
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公开(公告)号：CN106324648A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610797744.X
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/00
CPC classification number: G01T1/247 , G01T1/241 , G01T1/2928 , H01L31/0296 , H01L31/085 , H01L31/1832
Abstract: 本发明提出了一种半导体探测器及其封装方法。所述半导体探测器包括：阳极电路板，包括读出芯片；阴极电路板，所述阴极电路板包括阴极电路板高压端顶层、阴极电路板底部连接层和填充在阴极电路板高压端顶层和阴极电路板底部连接层之间的电介质，所述阴极电路板高压端顶层和阴极电路板底部连接层通过过孔连接；探测器晶体，包括晶体主体、阳极和阴极，所述阳极与所述阳极电路板上的读出芯片相连，其中所述阴极电路板高压端顶层用于连接半导体探测器的输入，所述阴极电路板底部连接层与所述探测器晶体的阴极直接接触而连接所述阴极和所述阴极电路板。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106249270A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610798761.5
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/00
CPC classification number: G01T1/24 , G01T1/241 , H01L31/022408 , H01L31/0324
Abstract: 公开了一种半导体探测器。根据实施例，该半导体探测器可以包括：半导体探测材料，包括彼此相对的第一侧面和第二侧面；设置于第一侧面上的阴极；以及设置于第二侧面上的阳极，其中，阳极包括限定半导体探测器的探测像素的像素阳极阵列以及设置于相邻的像素阳极之间的中间阳极。根据本公开的实施例，可以实现信号修正，提高探测器的能量分辨率和信噪比。
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公开(公告)号：CN106124539A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201610797192.2
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01T1/241 , G06T7/11 , G06T7/70 , G06T2207/10116
Abstract: 本发明提供一种探测器以及用于智能划分能区的探测系统和方法，其中所述探测方法可以包括：由探测器采集从探测对象透射的射线，产生探测信号，所述探测器的每一像素列包括一个A类电极和多个B类电极，且沿探测对象的移动方向依次布置所述A类电极和所述B类电极，使得从探测对象透射的射线先进入A类电极，随后进入B类电极；基于与A类电极对应的探测信号，得到探测对象的图像数据，并基于图像数据估计探测对象的物质成分；根据所估计的物质成分，调整用于能区划分的一个或多个阈值；以及根据所调整后的阈值来确定与B类电极对应的探测信号的能区，并计算在每个能区中的信号数目，得到探测器对象的图像数据，从而得到探测对象的准确成分。
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公开(公告)号：CN105181723A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201510627055.X
申请日：2015-09-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
CPC classification number: H05G1/30 , G01N23/083 , G01N2223/313 , G01N2223/423 , G01V5/0041 , G21K1/043 , G21K1/10
Abstract: 本发明公开一种双能射线扫描系统、扫描方法以及检查系统，涉及辐射扫描成像检测领域。其中的双能射线扫描系统包括射线源、过滤器；射线源用于发出高能射线和低能射线；过滤器包括低能滤波部分和低能透过部分；当射线源发出高能射线时过滤器的低能滤波部分对准射线源的出束方向，使得高能射线的低能部分被过滤掉、高能射线的高能部分透射出来，当射线源发出低能射线时过滤器的低能透过部分对准射线源的出束方向，使得低能射线透射出来，从而既能提高高能射线的穿透率，又无损低能射线的空间丝分辨能力，同时保障了穿透率指标和空间丝分辨能力指标，使得双能射线可以充分利用其穿透特性的区别对被检物体进行识别，达到安全检查的目的。
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公开(公告)号：CN119575496A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975500.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，射线源、飞轮和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源按照各自的预设出束频率进行脉冲出束，且各扫描装置的射线源的出束时机错开，使得各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
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公开(公告)号：CN119259504A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411629953.4
申请日：2024-11-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Inventor： 陈志强 , 李元景 , 张丽 , 宗春光 , 周合军 , 张植俊 , 刘必成 , 党永乐 , 张俊斌 , 徐晓莹 , 刘家良 , 王振严 , 韩文学 , 卞振华 , 徐斌 , 朱道瑶 , 韩凯锋 , 黄新闯
Abstract: 提供了一种物料分选方法，具体包括：获取待分选物料的X射线图像以及三维图像；基于所述X射线图像以及所述三维图像中的至少一个，识别各物料的物料状态，其中，所述物料状态包括非粘连状态和粘连状态，所述粘连状态包括与其余至少一个物料相接触的状态；对于所述X射线图像以及所述三维图像，若已执行物料状态识别则基于所述各物料的物料状态进行图像分割，若未执行物料状态识别则直接对所述各物料进行图像分割；基于所述各物料的物料状态，将经图像分割的所述X射线图像中的各物料分别与经图像分割的所述三维图像中的对应物料相匹配；根据所述X射线图像以及所述三维图像之间的物料匹配结果进行物料分选。还提供了一种物料分选装置。
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