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公开(公告)号：CN105632551B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201510960374.2
申请日：2015-12-18
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种存储阵列、存储对象逻辑关系的存储芯片及方法，存储阵列包括：第一引出线和第二引出线，不同编号的第一引出线和第二引出线之间分别连接一存储单元，相同编号的第一引出线和第二引出线之间分别连接一可控开关。存储芯片包括：接口模块；产生控制信号的控制模块；产生写电流、擦电流或读电流的驱动模块；选通第一、第二引出线的第一、第二译码器；以及存储逻辑关系值的存储阵列。存储方法包括：写入和读出操作。本发明通过全新的存储阵列实现对象间的逻辑关系的存储；同时在读出时，通过可控开关在相同编号的引出线间传递，将结果转换为条件，以此综合间接关系因素，可用于仿脑智能应用场景，提高存储阵列中的信息量。
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公开(公告)号：CN107591179A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：CN201710813137.2
申请日：2017-09-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，所述电路结构包括N位循环计数器电路，与所述N位循环计数器电路连接的N个地址产生电路，及与N个所述地址产生电路连接存储器阵列，通过把对一个存储器字的N次操作分散到N个不同的存储器字中，避免了对一个存储器字的过度操作，在每次掉电时，把触发器电路的状态存储在非挥发相变存储器中，在每次上电时，读出非挥发相变存储器中的数据，使触发器电路及N位循环计数器电路恢复到掉电前状态，实现了存储器字在任何情况下的均衡操作。通过本发明所述一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，解决了现有技术中相变存储器无法实现每个存储单元的读写擦均衡的问题。
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公开(公告)号：CN106410773A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610846364.0
申请日：2016-09-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H02H9/04
CPC classification number: H02H9/047
Abstract: 本发明提供增强型堆叠式ESD电路及混合电压输入输出接口电路，所述ESD电路在传统堆叠电路的基础上增加了偏置电压传输电路和高压传输电路；偏置电压传输电路，分别与分压电路及反相器电路连接，用于实现当内部ESD总线的电压为正常上电脉冲时，偏置电压传输电路开启，将分压电路的输出电压传输到反相器电路；高压传输电路，分别与内部ESD总线及泄放电路连接，用于实现当内部ESD总线的电压为高压瞬态脉冲时，高压传输电路开启，并将高压瞬态脉冲产生的高压信号传输到泄放电路，增大ESD电路的电流泄放能力。通过本发明的增强型堆叠式ESD电路及混合电压输入输出接口电路，解决了传统堆叠式ESD电路存在泄放电流能力弱的问题。
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公开(公告)号：CN104715792A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310674694.2
申请日：2013-12-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C11/56
CPC classification number: G11C13/0004 , G11C13/0069 , G11C13/0097
Abstract: 本发明提供一种具有初始化功能的相变存储器写擦电路，所述相变存储器写擦电路至少包括：初始化控制电路，与电源连接，用于接入内部电路上电复位信号及外部信号并发出初始化复位信号；初始化电路，包括原始电流源；所述初始化电路与所述电源及所述初始化控制电路连接，并在所述初始化复位信号的控制下发出复位电流脉冲使相变存储单元初始化；写擦控制电路，包括写擦控制信号产生电路及与所述写擦控制信号产生电路相连的写擦操作电路；所述写擦操作电路连接于所述电源及所述相变存储单元之间。本发明可以提高相变存储器的位合格率，同时还具有快速写擦功能。
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公开(公告)号：CN104616690A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201410837990.4
申请日：2014-12-24
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种基于二极管选通的相变存储器读出电路及读出方法，其中，所述基于二极管选通的相变存储器读出电路至少包括：偏置电路，用于提供恒定电流，以产生偏置电压；读电流限流电路，用于根据所述偏置电压对流过需要读数据位上的相变存储单元的读电流进行限流；基准电流限流电路，用于提供基准电流，并根据所述偏置电压对所述基准电流进行限流；比较电路，用于将限流后的读电流和限流后的基准电流进行比较，并根据比较结果读取所述需要读数据位上的相变存储单元所存储的数据。本发明的基于二极管选通的相变存储器读出电路，能够适应相变存储器制备工艺中的偏差，使相变存储器具有良好的产品一致性，同时减小了数据读取难度和读错概率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102820055B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201110151738.4
申请日：2011-06-07
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 一种读电压/读电流可切换的相变存储器的数据读出电路，包括：箔位电压产生电路；预充电电路；箔位电路，具有产生箔位电流的第一工作模式和产生预放大电压的第二工作模式；读模式切换电路，在读模式选择信号控制下选择读电流模式或读电压模式；电流电压转换电路，读电流模式下，将箔位电流和参考电流进行运算，转换为互补的两路电压；比较放大电路，将选择的两路电压进行比较，输出读出结果；在读电流模式下，两路电压为电流电压转换电路转换后形成的两路电压；在读电压模式下，两路电压为预放大电压和读电压模式下的参考电压。相比于现有技术，本发明数据读出电路实现了读电压/读电流的切换，可以针对不同的负载条件选择与其相匹配的读模式。
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公开(公告)号：CN104347113A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201410675312.2
申请日：2014-11-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海市纳米科技与产业发展促进中心
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的读出电路及读出方法，包括用于存储数据的目标相变存储单元；根据目标相变存储单元的当前状态产生读电流的读电路；将读电流与读参考电流进行比较，并产生读出电压信号的比较电路。在相变存储器进行读取操作时，将目标相变存储单元的字线置位到读字线电压；当读使能有效时，目标相变存储单元所在的位线将产生相应的读电流；通过比较读电流和读参考电流的大小，得到读出的电压信号。本发明不需要通过钳位的方式限制位线电压，因此能有效地加快读取过程，特别适用于使用Diode等作为选通管时相变存储器阵列位线具有较高压降的情况，避免了位线钳位等方式带来的读出时延，有利于高速相变存储器产品的实现。
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公开(公告)号：CN104317753A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410562409.2
申请日：2014-10-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种存储设备及其数据读写方法，其中，所述存储设备至少包括：相变存储器芯片；耦合到所述相变存储器芯片的相变存储器接口控制模块；耦合到外部设备的SD接口控制模块；以及耦合到所述相变存储器接口控制模块和所述SD接口控制模块的存储控制器，用于响应来自于所述SD接口控制模块的数据读取或写入命令，并通过所述相变存储器接口控制模块控制对所述相变存储器芯片的读取或写入。本发明的存储设备为基于相变存储器的SD卡，采用相变存储器芯片作为存储介质，可以进行随机读写。另外，相较于FLASH，坏块管理和ECC纠错等操作也更加简单，实现了坏块屏蔽功能，且具有抗疲劳的特点。
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公开(公告)号：CN101916590B
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201010258113.3
申请日：2010-08-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C16/06
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的数据读出方法及读出电路，当读数据电路在读取相变存储器的一条位线上被选择出的相变存储单元所存储的数据的同时，预充电电路对所述相变存储器的各待读取相变存储单元各自所在的位线中的至少一条进行预充电操作，由此可解决相变存储器在读出时由于位线寄生电容大而无法快速读出的问题，有效提高数据的读出速度。
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公开(公告)号：CN102820056A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201110151742.0
申请日：2011-06-07
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G11C13/004 , G11C13/0004 , G11C13/0026 , G11C2013/0054
Abstract: 一种相变存储器的数据读出电路，涉及一个或多个相变存储单元，每一个相变存储单元通过位线和字线与控制电路连接；所述数据读出数据包括：箔位电压产生电路，用于产生箔位电压；预充电电路，在箔位电压的控制下对位线进行快速充电；箔位电流产生电路，在箔位电压的控制下产生使位线维持在箔位平衡态时的箔位电流；箔位电流运算电路，将箔位电流进行求差和倍乘运算，增大高阻态时箔位电流和低阻态时箔位电流的差值；比较放大电路，将经过运算处理后的箔位电流与参考电流比较，输出读出结果。相比于现有技术，本发明的相变存储器的数据读出电路能有效地提高数据的读出速度、减小高低阻间的误读窗口、减小数据读出时的串扰、提高读出数据的可靠性。
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