公开(公告)号：CN101796821A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN200880105556.X

申请日：2008-09-04

Applicant: 国立大学法人东北大学 ,  株式会社岛津制作所

Inventor： 须川成利 ,  近藤泰志 ,  富永秀树

IPC: H04N5/335 ,  H04N5/225

CPC classification number: H04N5/35572 ,  H04N5/3559 ,  H04N5/3575 ,  H04N5/3742 ,  H04N5/37452 ,  H04N5/378

Abstract: 本发明提供一种固体摄像元件及其驱动方法，对像素区域(2a)内配置成二维状的每个像素(10)设置独立的像素输出线(14)，各像素输出线(14)上连接多个存储部。连续读取模式下，在所有像素中同时执行光电荷蓄积，从各像素(10)通过像素输出线(14)将信号一齐保持到存储部中后，依次读取各存储部中保持的信号并将其输出。另一方面，分组读取模式下，通过对多个存储部依次执行下述动作来保持多帧的信号，所述动作为：在所有像素(10)中同时执行光电荷蓄积，从各像素(10)通过像素输出线(14)将信号一齐保持到存储部中。收到摄影停止的指示后停止新信号的保持并在该时刻依次读取存储部中保持的多帧份的图像信号。由此，能进行虽然帧数有限但非常高速的摄影和虽然速度有所下降但不受帧数限制的摄影。

公开(公告)号：CN101238566A

公开(公告)日：2008-08-06

申请号：CN200580051329.X

申请日：2005-08-18

Applicant: 爱德万测试株式会社 ,  国立大学法人东北大学

Inventor： 冈安俊幸 ,  须川成利 ,  寺本章伸

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: H01L23/544 ,  G01R31/31718 ,  G11C2029/4402 ,  H01L21/76254 ,  H01L22/14 ,  H01L2223/5444 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49004 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。

公开(公告)号：CN101147264A

公开(公告)日：2008-03-19

申请号：CN200580049186.9

申请日：2005-07-04

Applicant: 国立大学法人东北大学

Inventor： 须川成利 ,  寺本章伸

IPC: H01L29/78 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  H01L21/66 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: G01R31/275 ,  G01R31/2884

Abstract: 一种测试电路，包括：多个被测量晶体管，电性地并联设置；选择部，依次选择各个被测量晶体管；以及输出部，依次输出选择部所依次选择的被测量晶体管的源极电压。