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公开(公告)号：CN100395554C
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN01800044.4
申请日：2001-02-09
Applicant: OHT株式会社
IPC: G01R31/02 , G01R31/302
CPC classification number: G01R31/312
Abstract: 本发明提供了一种按照完全非接触检测方式，对导电图形实施检测的检测装置、检测方法和检测组件。所述对回路基板上的导电图形实施非接触式检测用的检测方法，是将若干个具有导电性的单元，按照相互隔离方式沿着回路基板上的所述导电图形实施配置，并且可以通过向至少一个所述单元供给随时间变化的检测信号，不使用引线销针而对导电图形实施检测信号的供给，通过供给检测信号，借助导电图形，测出出现在其它所述单元处的输出信号，依据测出的所述输出信号，对所述导电图形实施检测。
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公开(公告)号：CN101163392A
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200710180984.6
申请日：2007-10-10
Applicant: OHT株式会社
IPC: H05K13/02
Abstract: 在现有的搬运带载体的搬运机构中，无论是采用穿孔的搬运机构、采用滚轮对进行夹持搬运的手柄式滚轮搬运机构、还是夹住带的里外面进行搬运的夹板机构，都会对带表面产生损伤。本发明提供一种基板检测器的搬运机构，滑动搬运部6A、6B中的吸附垫25、30交互地吸附保持在带状基板5的里面，并从搬运方向的上游向下游移动；通过进行该连续的交互往复移动，使带状基板5在搬运方向上从上游侧向下游侧移动。
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公开(公告)号：CN100368762C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200480004385.3
申请日：2004-02-27
Applicant: OHT株式会社
CPC classification number: G01B7/28
Abstract: 本发明的导电体状态检查装置，是在检查对象为导体的情况时，可依非接触且高精度地检测出检查对象的状态。在经从供电部供电着检查信号的检查对象导电体(520)附近，大致平行配设2片感测板(570、580)，利用感测板(570)的测定电平，检查相对向于感测板(570)的导电标志份形状，同时，将感测板(570、580)所产生的检测信号利用减法器(550)进行减法运算，并利用除法器(560)将其中一感测板所产生的检测值除以减法运算结果，而将其中一感测板所产生的检测值予以规格化，并检测出由二感测板所产生的相对检测信号值比率，将感测板与导电体(520)间的距离所对应的检测结果当作X而获得。
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公开(公告)号：CN101107535A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200680002731.3
申请日：2006-01-18
Applicant: OHT株式会社
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R31/2812 , G01R31/025
Abstract: 本发明提供可以检测衬底上的导电图案的断路状态的电路图案检查装置及其方法。在导电图案的一方端部配置供电部12，以非接触的方式提供检查信号，在该导电图案的另外一方端部配置断路传感器13，用来以非接触的方式检测检查信号。另外，在离开该导电图案多个图案的距离的导电图案，在配置有断路传感器13的同一侧的端，以非接触状态配置噪声传感器19。将断路传感器13检测到的检查信号和噪声混合的信号，和噪声传感器检测到的未与检查信号混合的噪声的信号输入到差动放大器20，用来除去同相成分的信号的噪声，藉以排除噪声的影响，可以以非接触的方式准确检查被配置在衬底上行状的导电图案是否良好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1883016A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480033824.3
申请日：2004-11-26
CPC classification number: G01R31/043
Abstract: 在电线束检查装置中的检查夹具中，即使构成电线束的连接器规格发生变更，只通过少许变更就能够应付，不需要像以往那样连接器规格每变化一次就重新制作全部夹具。连接器保持部(400)具有用于收容连接器外壳(10)的收容部(450)，在收容部(450)的相对的侧面内壁部上设有传感器板，并且向插入连接器(10)的端子施加交流信号，在相对的传感器板，通过检查控制部(100)检测出通过端子传输的交流信号，通过传感器板检测出的检测信号的相对值，检测出安装到连接器的安装位置，由此确认端子是否插入的插入状态。此时，在连接器外部形状小于连接器收容部(450)的情况下，将连接器(10)插入附属部件(460a、460b)的通孔(465a、b)后，对应每个附属部件(460)收容到连接器收容部(450)内。
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公开(公告)号：CN1229651C
公开(公告)日：2005-11-30
申请号：CN01803772.0
申请日：2001-11-15
Applicant: OHT株式会社
IPC: G01R31/28 , G01R31/304 , G01R1/02
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 本发明提供一种能快速检查电路基板的检查装置及检查方法。作为被检查对象的LCD驱动模块(100)，载置有LCD驱动用的LSI(110)，电路布线(111)连接于SEG端子，电路布线(112)连接于LSI(110)的COM端子。检查装置1向LSI(110)的输入端子(113)中输出LSI驱动信号。传感器(2、3)以非接触方式分别配置在与电路布线(111、112)相对向的位置上，通过驱动LSI(110)，检测电路布线(111、112)上所产生的电位变化，用检查装置(1)分析该检测信号。
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公开(公告)号：CN1189756C
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN01800096.7
申请日：2001-02-21
Applicant: OHT株式会社
IPC: G01R31/02 , G01R31/302 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2812
Abstract: 本发明提供了一种可以对导电图形的形状实施精细检测的检测装置和相应的传感器。其中传感元件可以包含有MOSFET，取表面积比较大的一侧扩散层构成被动元件，并且与导电图形相对设置。这种被动元件与MOSFET的源极相连接，门极与纵向选择部相连接，漏极与横向选择部相连接。当通过时间信号生成部对传感元件实施选择时，可以由纵向选择部向门极传送出信号，使MOSFET处于导通状态。此时，如果由电极触头输出检查信号，则导电图形上的电位将产生变化，而且随该变化会有电流由源极流入至漏极，进而通过横向选择部输出至信号处理部处。通过对输出有检出信号的传感元件的位置实施分析，便可以确定导电图形相对于回路基板上的位置。
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公开(公告)号：CN1181354C
公开(公告)日：2004-12-22
申请号：CN01802704.0
申请日：2001-09-25
Applicant: OHT株式会社
CPC classification number: G01R3/00 , G01R1/06794
Abstract: 本发明提供一种检查部件，能抑制探针的轴心偏移，并且能提高探针和其它构成组件之间定位的精确度，而且能将上述组件的位置配置得更接近。包括：接触于电路连接线并供给检查信号的探针(14a)；印刷形成有非接触于电路连接线、并检测供给于该电路连接线的检查信号的电极(13)的基板(12)；其中，基板(12)具有使所述探针贯穿插入的孔穴，即引导所述探针在轴方向移动的孔穴(12a)。可用更少的非接触感应器来检查中途分支的电路连接线。
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公开(公告)号：CN1549932A
公开(公告)日：2004-11-24
申请号：CN02816803.8
申请日：2002-08-27
Applicant: OHT株式会社
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R31/311 , G01R31/2805 , G01R31/309
Abstract: 供给一种可以简单结构来确实且容易地检测电路布线状况的电路布线检查装置。检查系统(20)向电路基板上的电路布线供给检查信号(S141)，用多个传感器部件检测对应供给的检查信号的电路布线上的特定部位的电位变化(S142)，在该部位的检测结果不在规定范围内的情况下(S143－N)，进行表示电路布线形状的图像数据的生成(S151以下)，在该部位的检测结果在规定范围内的情况下(S143－Y)，省略表示电路布线形状的图像数据的生成。
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