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公开(公告)号：CN110988639B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201911085878.9
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种恒定电场应力偏压温度不稳定性的测试方法和装置。所述方法包括：根据预设时长，对待测器件施加应力电压；在对所述待测器件施加应力电压过程结束后，对所述待测器件施加扫描电压，并实时采集所述待测器件的漏电流和所述扫描电压，根据所述扫描电压和所述漏电流确定所述待测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压以及初始阈值电压，确定所述待测器件的当前阈值漂移量；判断施加所述应力电压的次数是否达到预设次数；当判定施加所述应力电压的次数小于所述预设次数时，根据在所述当前阈值漂移量调整所述应力电压；对所述待测器件施加调整后的所述应力电压并维持所述预设时长，然后返回至对所述待测器件施加所述扫描电压的步骤。
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公开(公告)号：CN114331161A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111659736.6
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种集成电路质量评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取集成电路产品质量的质量影响要素集，其中，质量影响要素集包括n个级联的质量影响要素，且第i+1级质量影响要素为第i级质量影响要素的影响因子，1≤i≤n，且n为大于等于2的正整数；并根据质量影响要素集构建质量评价指标体系；进而根据质量评价指标体系对集成电路的产品质量进行评价。通过本方法增加了每级质量评价要素的全面性及关联性，使得集成电路的质量评价体系更加全面和具体，增加了集成电路质量评价体系的准确度。
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公开(公告)号：CN113449461A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110639520.7
申请日：2021-06-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06F111/10 , G06F111/04 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06N3/00 , G06N3/12
Abstract: 本发明涉及开关器件老化实验技术领域，公开了一种开关器件老化等效方法，包括采用不同的等效算法对开关器件的调制参数进行迭代优化；计算在每次迭代中开关器件在电流型老化实验中的总损耗；以电流型、电压型两种老化实验下开关器件的总损耗差值的最小值作为目标函数，寻找开关器件的调制参数的最优解。将本发明提供的开关器件老化等效方法应用于电流型老化实验时，采用不同的等效算法确定电流型老化方法的最优控制策略，从而可以保证电流型老化方法能够达到与电压型老化方法同样的老化效果。同时，电流型老化方法可以反映实际负荷工况下的IGBT模块的老化进程和剩余使用寿命，并保证针对开关器件的老化实验更简单、成本更低、运行可靠性更高。
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公开(公告)号：CN110988639A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911085878.9
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种恒定电场应力偏压温度不稳定性的测试方法和装置。所述方法包括：根据预设时长，对待测器件施加应力电压；在对所述待测器件施加应力电压过程结束后，对所述待测器件施加扫描电压，并实时采集所述待测器件的漏电流和所述扫描电压，根据所述扫描电压和所述漏电流确定所述待测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压以及初始阈值电压，确定所述待测器件的当前阈值漂移量；判断施加所述应力电压的次数是否达到预设次数；当判定施加所述应力电压的次数小于所述预设次数时，根据在所述当前阈值漂移量调整所述应力电压；对所述待测器件施加调整后的所述应力电压并维持所述预设时长，然后返回至对所述待测器件施加所述扫描电压的步骤。
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公开(公告)号：CN108982999A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810770370.1
申请日：2018-07-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种氢效应测试装置以及系统。其中，氢效应测试装置，包括控制模块、气氛调控模组、样品测试模块、数据采集模块以及电连接控制模块的服务器；样品测试模块包括密闭盒体、加热器以及电连接待测器件的测试电路板；加热器与测试电路板设于密闭盒体内；加热器电连接控制模块；测试电路板通过数据采集模块电连接控制模块，利用氢效应测试装置能够随时方便地调节待测器件的测试环境，即盒体的气氛以及温度，因而能够测试出待测器件在不同的条件下氢效应对其造成的影响，进而能够全面、准确、快速的测试出氢效应对器件的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119881576A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510091355.4
申请日：2025-01-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种动态应力评估及参数检测方法、系统、设备、存储介质及程序产品，应用于动态应力评估及参数检测系统，动态应力评估及参数检测系统包括上位机、测试电路板和信号采集器，其中，测试电路板上部署有被测功率器件；方法包括：在施加于被测功率器件的栅应力对应的应力施加时间耗尽的情况下，通过上位机向测试电路板发送测试回路接入指令；通过测试电路板基于测试回路接入指令，控制被测功率器件处于对应的第一应力测试回路；通过信号采集器采集第一应力测试回路下被测功率器件的栅极测试信号；通过上位机基于栅极测试信号，检测被测功率器件的电性能参数。采用本方法提升进行动态应力评估及参数检测的检测准确性。
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公开(公告)号：CN119881507A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510368919.4
申请日：2025-03-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种电迁移串行测试系统及方法，所述系统包括恒定电流源、电阻测试设备、开关阵列、处理及控制模块，开关阵列包括第一总开关、第二总开关、多个测试开关和多个短路开关；恒定电流源通过第一总开关与串联连接的多个试验样品连接，对试验样品加载电流应力；电阻测试设备通过第二总开关分别与多个试验样品并联连接，采集每个试验样品的电阻数据；多个测试开关分别连接在电阻测试设备与试验样品之间；处理及控制模块通过控制开关阵列实现对试验样品电阻的依次测试，根据电阻数据判定失效的试验样品，并控制多个短路开关对失效的试验样品进行短路。本发明能够大幅度减少电迁移试验设备使用数量，有效提高试验效率，降低时间和经济成本。
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公开(公告)号：CN119880159A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510292171.4
申请日：2025-03-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种用于温度成像测试的承载装置及温度成像测试方法，所述承载装置包括固定底板、加热模块和样品固定模块，加热模块和样品固定模块设置在固定底板上，加热模块用于为待测样品提供所需的温度条件，样品固定模块用于支撑并固定待测样品；加热模块包括升降架和设置在升降架上的温度调控平台，升降架能够进行高度调节，带动温度调控平台与固定在样品固定模块上的待测样品底部贴紧或分离，温度调控平台用于在与待测样品底部贴紧的情况下向待测样品传递热量，为待测样品提供所需的温度条件，温度调控平台外接液冷系统，用于进行温度控制。本发明能够有效解决温度测试过程中散热条件与实际工作不一致的问题，极大提高热成像测试的精度。
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公开(公告)号：CN119652316A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411685661.2
申请日：2024-11-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开提供了一种大气中子辐射试验软错误率确定方法、系统、设备及介质，涉及电子器件辐射效应技术领域，包括配置对数模转换电路DAC器件进行大气中子辐射试验的试验参数，试验参数包括至少一类大气中子的能量值、DAC器件参数和测试设备参数；获取DAC器件在试验过程中的数字输入信号、数字输出信号和模拟输出波形；根据数字输入信号、数字输出信号和模拟输出波形，判定DAC器件在试验过程中是否发生单粒子效应并根据单粒子效应的发生次数确定DAC器件的软错误率。本公开通过设置ADC器件，规避模拟信号远距离传输的衰减和畸变，从而更准确的进行软错误率的评估。
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公开(公告)号：CN119575151A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411952853.5
申请日：2024-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/311 , G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种荧光收集装置和发光载体的制备方法。所述荧光收集装置包括：发光载体，包括发光本体和至少一光路调节体，所述发光本体具有氮空位色心，所述光路调节体位于所述发光载体的至少一个表面；激光发射模块，用于发射激光；其中，所述氮空位色心用于在所述激光的激发下产生荧光光子以从所述发光载体表面出射；所述光路调节体用于改变荧光光子的光路路径；荧光探测模块，用于收集所述荧光光子；所述荧光探测模块收集的荧光光子包括至少部分被所述光路调节体改变光路路径的荧光光子。本申请的荧光收集装置能够提高荧光收集效率。
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