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公开(公告)号：CN118999824A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411464870.4
申请日：2024-10-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种反射率热成像测试方法和计算机设备，所述方法采用连续波段光源为待测试器件的待测试区域提供入射光，通过热反射校准系数测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的热反射校准系数；通过反射率测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的反射率；通过数据处理步骤基于待测试器件所有位置的最大热反射校准系数，以及所有位置在热反射校准系数最大情况下对应波段光源下测试的反射率，计算获得待测试器件所有位置的温度数据，并将温度数据组合形成温度分布。本发明能够解决现有技术中存在的测试时间长、部分区域因材料对光源响应较差而导致温度测试结果出现极大偏离的问题，提高反射率热成像测试的效率和准确度。
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公开(公告)号：CN118801572A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410979683.3
申请日：2024-07-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H02J13/00 , G06F30/20 , G06F113/04 , G06F119/08 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种上述功率模块的监测方法、装置、低压配电网和计算机设备，涉及智能电网技术领域，本申请通过获取低压配电网中各功率模块的配置信息和运行状态参数，运行状态参数包括温度参数、湿度参数和电流参数，首先根据各功率模块的配置信息确定各功率模块对应的加速寿命模型，之后即可根据各功率模块的温度参数、湿度参数和电流参数以及对应的加速寿命模型确定各功率模块的寿命预测值，从而实现对低压配电网中各功率模块的寿命的预测，有利于对各功率模块进行可靠性检测及运行管理。
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公开(公告)号：CN118133728A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311725084.0
申请日：2023-12-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/30
Abstract: 本申请涉及一种电路生成方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取用户输入的电路需求信息；根据所述电路需求信息从电路模板数据库中存储的多个电路模板中筛选得到至少一个目标电路模板，并计算各所述目标电路模板的初始参数信息；根据各所述目标电路模板的初始参数信息和电路元件参数库中存储的多个第一电路元件的标准参数值，获取各所述目标电路模板的目标参数信息；根据各所述目标电路模板和各所述目标电路模板的目标参数信息，生成多个目标电路。采用本方法能够提高电路设计效率。
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公开(公告)号：CN116071309B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202211683938.9
申请日：2022-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/00 , G06V10/44 , G06N3/08 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及一种元器件的声扫缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取待检测元器件的目标声扫图像；将所述目标声扫图像输入至目标检测模型中的特征提取网络中，提取所述目标声扫图像的目标特征图；其中，所述特征提取网络中包括注意力模块；将所述目标特征图输入至所述目标检测模型中的检测头网络中，得到所述待检测元器件的缺陷检测结果。采用本方法能够通过引入训练好的目标检测模型，提高对待检测元器件进行缺陷检测的效率；进一步的，在目标检测模型中的特征提取网络中引入注意力模块，能够使提取的目标特征图所包含的特征更为全面且精准，进而提高了对待检测元器件进行缺陷检测的精确度。
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公开(公告)号：CN118011291A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410157404.5
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及磁场探测技术领域，特别是涉及一种磁场测量探头和系统。磁场测量探头包括基础环形线圈和反相巴伦；环形线圈与反向巴伦连接；基础环形线圈，用于探测目标磁场的初始磁场信号，并将初始磁场信号传输至反相巴伦；反相巴伦，用于对初始磁场信号进行相位反转，得到目标磁场信号，本申请在通过磁场测量探头对目标磁场进行磁场测试时，并未采用有源放大电路，因此，本申请相比起传统技术中通过引入有源放大电路的磁场测量探头进行磁场测量的方式，能够有效降低磁场测量探头的生产成本，能够实现针对磁场测量探头的大规模批量生成，并且，可实现针对目标磁场的有效磁场检测，得到目标磁场信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117453143A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311623071.2
申请日：2023-11-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F3/06
Abstract: 本申请涉及一种数据缓冲区的管理方法、装置，方法包括：获取数据采集通道关联的缓冲区序列，缓冲区序列包括的多个缓冲区位于不同的连续地址空间内，不同数据采集通道的缓冲区序列中相同次序的缓冲区属于相同的连续地址空间；接收到数据采集通道关联的写操作，确定数据采集通道的当前写缓冲区；在当前写缓冲区已满的情况下，确定当前写缓冲区在缓冲区序列中的次序，并基于次序确定目标写缓冲区；获取正在执行的读操作关联的读缓冲区，在读缓冲区与目标写缓冲区不重叠的情况下，确定目标写缓冲区的写地址；向写地址写入所述写操作关联的采集数据。采用本方法能够在有限的硬件条件下提升硬件资源的利用率从而提升数据采集效率。
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公开(公告)号：CN117419892A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311217731.7
申请日：2023-09-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种激光器带宽测试夹具和测试系统。激光器带宽测试夹具，用于固定激光器，激光器带宽测试夹具包括电路板、射频转接件、电源转接件和器件连接件。电源转接件和器件连接件分别设于电路板沿第一方向的两侧，器件连接件上设有用于固定所述激光器的固定部，固定部被构造为能够使激光器沿所述第一方向延伸设置，且固定于固定部上，电源转接件用于连接电源和电路板。射频转接件电连接于电路板，且用于接入射频信号，电路板用于使激光器分别与射频转接件和电源电连接。通过电路板将电源转接件、射频转接件以及设于器件连接件上的激光器进行耦合，而无需额外设置电路即可对空间光垂直腔面发射激光器的性能进行测试，从而提高了对应的测试效率。
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公开(公告)号：CN117372343A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311252047.2
申请日：2023-09-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/00 , G06T7/62 , G06T7/73 , G06V10/764
Abstract: 本申请涉及一种芯片空洞的检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：对目标芯片图像中的空洞和芯片进行识别，得到空洞信息和芯片信息；根据空洞信息和芯片信息，对目标芯片图像内的芯片进行空洞检测，得到检测结果；检测结果用于表征芯片是否合格。采用本方法能够提高芯片检测效率。
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公开(公告)号：CN117268824A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311393086.4
申请日：2023-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种微通道散热器性能测试夹具与装置，夹具包括引流组件及定位组件。引流组件设有进液微通道与出液微通道，进液微通道、出液微通道分别用于与微通道散热器连通，引流组件还形成有用于与微通道散热器位置对应的观察窗口。定位组件可拆卸地设置于引流组件上，定位组件用于使得微通道散热器压紧固定于引流组件上，定位组件还用于固定芯片样品。可以采用PIV显微镜对微通道散热器进行流场可视化实验研究，具体通过观察窗口获取微通道散热器的图像信息，根据图像信息得到流速矢量图，实现流场流速分布的可视化。此外，微通道散热器流场观测结果可作为微通道散热器的结构优化依据，以提高流道温度分布均匀性和总体散热能力。
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公开(公告)号：CN114354656B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202111486993.4
申请日：2021-12-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明公开了一种系统级样品试验系统，屏蔽体用于屏蔽辐射，屏蔽体内设有试验空间，屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体，样品位移台可移动设置，使样品位移台能够进入或离开试验空间，样品位移台包括基座、样品台及调整机构，调整机构用于调整样品台相对基座的高度。可将样品位移台置于屏蔽体外，并将样品置于样品台上固定，利用调整机构预调整样品台上样品的高度，随后可将样品位移台移动至试验空间内，样品位移台移动至试验空间内后不再调整或只需进行细微调整样品的位置，可减少操作人员及样品位移台在试验空间内的停留时间，能够减少辐射试验对人体及样品位移台的伤害，具有更好的安全性。
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