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公开(公告)号:CN107478664A
公开(公告)日:2017-12-15
申请号:CN201710796582.2
申请日:2017-09-06
Applicant: 奕瑞影像科技(太仓)有限公司
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明提供一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统,线型双能X射线传感器包括:PCB板,正面设有第一连接结构;线型二极管阵列面板,经由背面贴置于PCB板的正面,线型二极管阵列面板的正面设有第二连接结构,第二连接结构与第一连接结构电连接;高能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与第二连接结构电连接;低能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与高能像素阵列结构具有间距,低能像素阵列结构与第二连接结构电连接。本发明相较于现有的垂直设置的线型双能X射线传感器具有结构简单、体积小及成本低等优点。
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公开(公告)号:CN107228865A
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201710178999.2
申请日:2017-03-23
Applicant: 卡尔蔡司X射线显微镜公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/087 , G01N23/046 , G01N2223/3032 , G01N2223/309 , G01N2223/313 , G01N2223/401 , G01N2223/418 , G01N2223/419
Abstract: 一种用于断层重建、束硬化校正、双能量CT和系统诊断等等的谱测量和估计方法,包括确定源加速电压、预滤器和/或检测器的组合的谱,并且在测量多个预滤器的透射值以后计算所述源加速电压、预滤器和/或检测器组合的校正谱。
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公开(公告)号:CN106353828A
公开(公告)日:2017-01-25
申请号:CN201510434952.9
申请日:2015-07-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0041 , G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量,节省了传统的称重硬件成本。
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公开(公告)号:CN106353343A
公开(公告)日:2017-01-25
申请号:CN201610843896.9
申请日:2016-09-22
Applicant: 东北大学 , 沈阳信息技术研究中心
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/005 , G01N23/087 , G01N2223/04 , G01N2223/045 , G01N2223/1016 , G01N2223/106 , G01N2223/3307 , G01N2223/421 , G01V5/0008 , G06K17/00 , G06K2017/0048 , G06Q50/32
Abstract: 本发明公开了一种小像素透射多信息融合高速安检系统及其识别方法;由交叉带式高速分拣机和控制交叉带式高速分拣机运行的控制装置组成;交叉带式高速分拣机包括分类装置、输送装置及分拣道口;控制装置包括全方位条形码扫描仪、X光检查装置、光障开关检测子系统、外部图像采集子系统、物理参数采集子系统和主控子系统通信联系,本发明提供了利用上述小像素透射多信息融合高速安检系统对邮件进行识别的方法,本系统实现了危险品检查仪设备状态的自检功能,具有将有机物、无机物、混合物进行科学区域分割的功能。
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公开(公告)号:CN102884422B
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201180020812.7
申请日:2011-02-23
Applicant: 拉皮斯坎系统股份有限公司
Inventor: J.本达汉 , C.M.布朗 , T.高赞尼 , W.G.J.兰格韦德 , J.D.史蒂文森
IPC: G01N23/10
CPC classification number: G01N23/087 , G01N23/10 , G01N23/20083 , G01N23/203 , G01V5/0016 , G01V5/0025
Abstract: 本申请公开了用X射线扫描来识别被扫描物体的物质组成的系统和方法。该系统包括至少一个X射线源,用于将X射线束投射在该物体上,其中投射的X射线束的至少部分透射穿过该物体,以及该系统包括用于测量透射的X射线的能量谱的检测器阵列。该测量的能量谱被用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。该X射线扫描系统还可具有准直的高能量后向散射的X射线检测器阵列,用于测量被物体以大于90度的角度散射的X射线的能量谱,其中测量的能量谱和透射能量谱一起用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。
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公开(公告)号:CN105510363A
公开(公告)日:2016-04-20
申请号:CN201511017642.3
申请日:2015-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/202 , G01N2223/501 , G01N2223/505 , G01T1/2008 , G01T1/2018 , G01N23/04 , G01N2223/1016
Abstract: 本申请涉及双能探测装置、系统及方法,属于辐射检查领域。该装置包括:靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列,用于探测相对低能的射线源光子;远离射线源一侧的第二像素探测器阵列,用于探测相对高能的射线源光子;其中第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器,其包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于射线源入射的第一入射面及与第一光敏器件耦合的第一窗口,第一入射面朝向射线源;第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器,其包括第二灵敏介质、第二光敏器件、第二入射面及与第二光敏器件耦合的第二窗口;每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。本公开能够同时兼顾物质有效原子序数的识别、提升空间分辨能力和增强对射线的有效探测。
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公开(公告)号:CN105451659A
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:CN201480044568.1
申请日:2014-10-22
Applicant: 株式会社日立医疗器械
CPC classification number: A61B6/5205 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/582 , G01N23/046 , G01N23/087
Abstract: 估算并校正位于X射线源与检测元件之间的物质的微小的设计公差等所引起的X射线的线质的变化。由此防止双能量摄影法中的物质识别能力的下降。X射线摄像装置(100)具备:固定过滤计算部(223),其使用以二种以上不同的管电压来拍摄空气(无被摄体)而得到的测量数据,计算与基准线质的偏移量,作为规定基准物质的透过距离(固有滤过)。固定过滤计算部通过针对上述测量数据应用基于双能量摄影法的基准物质透过距离变换,从而按照每个检测元件来计算基准物质透过距离(固有滤过)。在被摄体摄影时,通过考虑所计算出的每个检测元件的固有滤过来实施双能量摄影法,从而能够得到线质的变化被校正了的图像。
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公开(公告)号:CN104089944A
公开(公告)日:2014-10-08
申请号:CN201410347354.3
申请日:2014-07-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0033 , G01N21/65 , G01N23/046 , G01N23/087 , G01N2021/651 , G01N2201/0612 , G01V5/0008
Abstract: 公开了一种对液体物品进行安全检查的方法和设备。根据该方法,首先确定液体物品的包装是否为透明、半透明或者不透明;在所述液体物品的包装为透明或半透明的情况下,用拉曼光谱模块对被检液体物品进行拉曼光谱分析,判断被检液体物品是否为危险品或者可疑物品;在被检液体物品的包装为不透明的情况下,用射线双能扫描技术,对被检液体物品进行检查,判断被检液体物品是否为危险品或可疑物品。上述方案具有检查速度快、能进行物质识别、适合各种形状和种类的包装材料、检查结果准确性高等优点,适合安检要求高、被检液体物品复杂、人员多、人员流动速度快等公共场所的安全检查。
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公开(公告)号:CN103995013A
公开(公告)日:2014-08-20
申请号:CN201410054347.4
申请日:2014-02-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01T1/2914 , G01N23/087 , G01T7/005
Abstract: 本发明提供一种在检测多波长X射线时能够去除残留在低能量侧的数据中的高能量侧的X射线的残留图像的X射线数据处理装置、X射线数据处理方法以及X射线数据处理程序。对同时测定多波长的X射线而得到的X射线数据进行处理的X射线数据处理装置具备:管理部(210),接收由具有多个邻接的检测部分的检测器检测出的、通过能量阈值分离的X射线数据,并进行管理;计算部(230),基于接收的X射线数据中的通过高能量侧的阈值获得的高能量侧数据以及通过低能量侧的阈值获得的低能量侧数据,计算出低能量侧数据中的来自于高能量侧数据的检测量;修正部(250),使用计算出的检测量,对低能量侧数据进行再构成。
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公开(公告)号:CN103712999A
公开(公告)日:2014-04-09
申请号:CN201310429775.6
申请日:2013-09-18
Applicant: 住友橡胶工业株式会社
IPC: G01N23/06
CPC classification number: G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/087 , G01N23/2273 , Y10T436/255
Abstract: 本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法,其包括:用高强度X射线辐照其上形成有厚度为以下金属涂层的聚合物材料,并在改变X-射线能量的同时测定X-射线吸收,从而分析聚合物的劣化。
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