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公开(公告)号：CN112859996B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN109903805B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201910139097.7
申请日：2019-02-25
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供的一种存储器片内自测试方法、装置和存储器，通过获取自测试信号后令所述存储器进入自测试状态；在所述存储器中寻找由一或多个连续无故障的所述存储单元构成的满足预设大小的存储区域作为无故障区域；对所述存储器的各存储单元进行测试并将存在故障的存储单元的故障信息存储到所述无故障区域；在自测试结束后将所述无故障区域存储的首地址输出到外部端口以供读取。本发明能够降低了测试成本，而且可以对存储器进行全速测试，增加了测试的故障覆盖率和测试效率，减小了测试的面积开销，能够更加方便及时地发现存储器的问题所在。
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公开(公告)号：CN110619906B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910763063.5
申请日：2019-08-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供了一种多级相变存储器的读出电路及读出方法，涉及微电子技术领域，解决了传统方法无法读出多级相变存储单元存储的多位数据的技术问题。本发明提供的多级相变存储器的读出方法应用于存储有N位二进制数据的相变存储单元，读出方法按照由高位到低位的顺序逐位读取目标相变存储单元的N位二进制数据，读出方法包括N个阶段，第M阶段包括步骤：获取目标相变存储单元当前状态所对应的读电流；获取参考电流，其中，当M＝1时选择起始参考电流，当M>1时根据之前读出的数据位选择对应阶段的参考电流；比较读电流和对应阶段的参考电流，获得读出电压信号；处理读出电压信号，获得二进制数据的第N‑M+1位数据信号；其中，1≤M≤N。
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公开(公告)号：CN112859996A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN110335636B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201910605311.3
申请日：2019-07-05
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的多级存储读写方法及系统，包括：数据存储模块，包括多个存储数据的数据单元；参考模块，包括多个参考单元，2k‑1个参考单元对应1个数据单元，用于存储与存储的数据对应的参考信号，k为存储的数据比特；读出功能模块，在读取某一数据单元时将其对应的参考信号读出，并还原数据单元中储存的数据。本发明采用2T2R的结构作为基本单位进行数据存储，通过两个相变存储元件不同阻值的组合在一定程度上减少阻值漂移带来的影响，实现高密度存储；设置检纠错功能，通过检错、纠错提高相变存储器多值存储的可靠性；设置参考单元，通过参考单元计算还原存储的数据，实现高可靠性读取；同时降低检纠错的难度，进一步提高可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107591179B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201710813137.2
申请日：2017-09-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，所述电路结构包括N位循环计数器电路，与所述N位循环计数器电路连接的N个地址产生电路，及与N个所述地址产生电路连接存储器阵列，通过把对一个存储器字的N次操作分散到N个不同的存储器字中，避免了对一个存储器字的过度操作，在每次掉电时，把触发器电路的状态存储在非挥发相变存储器中，在每次上电时，读出非挥发相变存储器中的数据，使触发器电路及N位循环计数器电路恢复到掉电前状态，实现了存储器字在任何情况下的均衡操作。通过本发明所述一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，解决了现有技术中相变存储器无法实现每个存储单元的读写擦均衡的问题。
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公开(公告)号：CN110619907A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201910806010.7
申请日：2019-08-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本申请实施例涉及神经网络领域。采用本发明提供的突触电路，包括：第一存储器、第二存储器和开关组件；开关组件包括第一开关管、第二开关管和第三开关管；第一开关管的第一端与第一存储器的第一端连接，第一开关管的控制端与第一位线接口连接；第二开关管的第一端与第二存储器的第一端连接，第二开关管的控制端与第二位线接口连接；第一存储器的第二端与第二存储器的第一端连接；第三开关管的第一端与第二存储器的第二端连接，第三开关管的第二端与字线接口连接，第三开关管的第三端接地。基于本申请实施例，通过第一开关管和第二开关管分别控制串联的第一存储器和第二存储器，在数据存储时可以减少存储器间的交叉干扰。
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公开(公告)号：CN106205684B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201610486617.8
申请日：2016-06-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供一种相变存储器读出电路及读出方法，包括：读参考电压生成电路，产生一个可以快速区分读晶态电阻电流和读非晶态电阻电流的读参考电流，并将电流信号转化为电压信号；以及，将读参考电压还原为读参考电流后与相变存储单元中读出的电流相比较的灵敏放大器。本发明同时获取读电流及读参考电流，读参考电流的瞬态值处于读晶态电阻电流和读非晶态电阻电流之间。本发明在读参考电流中引入对位线寄生参数和读传输门寄生参数的匹配，在读电流中引入对电流镜寄生参数的匹配，消除了伪读取现象，减小了读出时间；且信号传递速度快、适用范围广、寄生参数匹配方法简单。
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公开(公告)号：CN107644664A
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201710889441.5
申请日：2017-09-27
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种三维垂直型存储器电路及位线与字线电压配置方法，实现在对三维垂直型存储器进行读/写操作时，将所述三维垂直型存储器中的所有位线置为读不选择位线电压或写不选择位线电压，将其所有字线置为读不选择字线电压或写不选择字线电压，将其所有源线置为0V；待读/写脉冲信号到来时，将待操作存储单元的源线置为电源电压，同时对待操作存储单元所在的位线和字线进行电压配置，以使所述待操作存储单元两端的电压之差等于读操作电压或写操作电压，半选通存储单元两端的电压之差等于所述读操作电压的一半或所述写操作电压的一半。通过本发明所述电路及方法，实现所述存储器读出速度快，功耗低、工程实现性高、漏电少、读出正确率高。
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公开(公告)号：CN106816172A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201710041124.8
申请日：2017-01-17
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
CPC classification number: G11C13/0097
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的整体擦除装置，主要是在现有相变存储器的基础上单独增加了包含擦除使能开关、字线电压产生电路、擦除电压产生电路、位线擦除开关电路以及字线擦除开关等的整体擦除装置，以避免受二进制独热码译码器的限制，而应用本发明可以在整体擦除使能信号有效时，所有字线擦除开关开启，所有相变存储单元的选通管都开启，再通过位线擦除开关电路把擦除电压传送到位线上，实现相变存储器快速擦除的效果，而有效解决现有技术中，由于相变存储器没有一次整体擦除的功能，使得每次对整个相变存储器进行擦除时都不得不花费很长时间，进行数万次、上百万次甚至更多次的擦除操作的弊端。
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