-
公开(公告)号：CN205538736U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521130020.7
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
-
公开(公告)号：CN205538708U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521129970.8
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机和第三显微物镜。本实用新型适用于对高景深表面疵病光学元件的表面疵病进行检测。
-
公开(公告)号：CN205505996U
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201620035752.6
申请日：2016-01-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 张霖 , 马骅 , 姜宏振 , 任寰 , 陈波 , 杨一 , 马玉荣 , 石振东 , 原泉 , 冯晓璇 , 杨晓瑜 , 马可 , 李东 , 刘勇 , 巴荣声 , 周信达 , 郑垠波
IPC: G01B11/25
Abstract: 本实用新型公开了一种基于条纹投影的全景三维形貌测量装置，包括载物台、红光投影仪、绿光投影仪、蓝光投影仪、红光反射镜、绿光反射镜、蓝光反射镜、彩色CCD相机，红光投影仪产生的红光条纹、绿色投影仪产生的绿光条纹、蓝色投影仪产生的蓝光条纹经载物台上的待测物体表面反射后被红光反射镜、绿光反射镜、蓝光反射镜反射到同一彩色CCD相机。经计算机处理获取的彩色形变条纹图像可快速获取待测物体全景三维形貌。本装置具有结构简单、测量方便的优点，可用于三维传感、机械工程、机器视觉、智能计算机控制、工业监控等多种领域。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN204903422U
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201520652865.6
申请日：2015-08-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型涉及光学检测领域，具体涉及一种基于透射型数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，它利用数字全息技术测量由表面疵病引起的元件反射波前的相位畸变，进而通过相位畸变与光程差的关系来获得表面疵病的形貌结构；本实用新型包括激光器、光学系统、CCD相机及计算机，其有益效果为：实现对于光学元件表面疵病三维形貌的实时快速全场定量检测，使用便携，易于操作。
-
公开(公告)号：CN204855402U
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201520651771.7
申请日：2015-08-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型涉及光学检测领域，具体涉及一种基于反射型补偿数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，它利用数字全息技术测量由表面疵病引起的元件反射波前的相位畸变，进而通过相位畸变与光程差的关系来获得表面疵病的形貌结构；本实用新型包括激光器、光学系统、CCD相机及计算机，其有益效果为：实现对于光学元件表面疵病三维形貌的实时快速全场定量检测，使用便携，易于操作。
-
公开(公告)号：CN204832012U
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201520650621.4
申请日：2015-08-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本实用新型公开了一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中非线性光子学材料的光学非线性测量装置。本申请采用Tophat型激光脉冲作为探测光，根据待测样品厚度选择适当厚度的参考标准样品，分别对参考标准样品和待测样品进行Z扫描测量，调节入射光能量得到相同的归一化透过率峰谷值，再通过数据处理可得到待测样品的非线性折射系数。本申请可适用于厚度超过瑞利长度的非线性光子学材料的光学非线性测量装置。
-
公开(公告)号：CN206296818U
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201620010849.1
申请日：2016-01-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B25B11/00
Abstract: 本实用新型涉及了一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置，其特征在于包括带有元件容纳腔的夹块、辅助夹片、螺杆和螺孔，所述元件容纳腔的腔壁上设有螺孔，所述螺杆通过螺孔贯穿元件容纳腔的腔壁，所述螺杆朝向元件容纳腔的一端设有辅助夹片，通过调整螺杆的进退带动辅助夹片的进退，用于实现辅助夹片对待检光学元件的检测夹持；所述夹块底部设有卡槽，所述卡槽用于该元件检测夹持装置的固定。该夹持装置可以对不同厚度光学元件进行快速安全夹持。本实用新型保持了光学元件在运输、储存、转运、检验和表面观察等操作过程中的洁净传递，减小了光学元件表面的二次污染，同时该装置有体积小、结构简单的特点。
-
公开(公告)号：CN205581024U
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201521129053.X
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
48
records
(took 0.057 seconds)
