半导体器件的制造方法
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104465339B

    公开(公告)日:2017-07-11

    申请号:CN201310757104.2

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件的制造方法,包括:在n+型碳化硅衬底的第一表面上顺序地形成n‑型外延层、p‑型外延层、以及n+区域;在n+区域形成缓冲层;在缓冲层的一部分上形成光敏薄膜图案;利用光敏薄膜图案作为掩模对缓冲层蚀刻以形成缓冲层图案,缓冲层图案布置在光敏薄膜图案下方并露出n+区域的一部分;在n+区域的露出部分和光敏薄膜图案上顺序地形成第一金属层和第二金属层;去除缓冲层图案、光敏薄膜图案、第一金属层的第二部分、以及第二金属层的第二部分;利用第一金属层的第一部分和第二金属层的第一部分作为掩模对n+区域的露出部分蚀刻以形成沟槽,其中沟槽穿过n+区域和p‑型外延层,形成在n‑型外延层上。

    连接器系统
    36.
    发明公开
    连接器系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN114079198A

    公开(公告)日:2022-02-22

    申请号:CN202110130046.5

    申请日:2021-01-29

    Abstract: 本公开涉及一种连接器系统,该连接器系统包括:第一连接器,被配置为电连接到需要排出空气的特定装置,并且将从特定装置排出的空气引入到第一连接器中;第一连接线,包覆电连接到第一连接器的第一电缆,第一连接线的一侧连接到第一连接器;以及第二连接器,连接到第一连接线的相对侧并电连接到第一电缆,其中第一连接器、第一连接线和第二连接器被配置为彼此连通,使得被引入到第一连接器中的空气在经过第一连接线之后通过第二连接器排出。

    半导体器件及其制造方法
    37.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107579109B

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN201611031572.1

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明公开了半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,包含:n‑型层,布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,形成在n‑型层中并且彼此分离;n+型区,布置在第一沟槽的侧面与第二沟槽的侧面之间并且布置在n‑型层上;栅极绝缘层,布置在第一沟槽内;源极绝缘层,布置在第二沟槽内;栅极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅极上;源极,布置在氧化层、n+型区、及源极绝缘层上;以及漏极,布置在n+型碳化硅衬底的第二表面上。

    半导体器件及其制造方法
    38.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108615758B

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN201710622691.2

    申请日:2017-07-27

    Abstract: 本发明公开了半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,可包括:n‑型层,依次布置在n+型碳化硅衬底的第一表面处;p型区域,布置在n‑型层中;辅助n+型区域,布置在p型区域上或p型区域中;n+型区域,布置在p型区域中;辅助电极,布置在辅助n+型区域和p型区域上;栅电极,与辅助电极分离并布置在n‑型层上;源电极,与辅助电极和栅电极分离;以及漏电极,布置在n+型碳化硅衬底的第二表面处,其中,辅助n+型区域与n+型区域彼此分离,并且源电极与n+型区域接触。

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