半导体器件及其制造方法
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1658389A

    公开(公告)日:2005-08-24

    申请号:CN200510009401.4

    申请日:1993-12-04

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件,包括:半导体膜;形成在半导体膜中的一对第一杂质区;形成在一对第一杂质区之间的第一沟道区;形成在半导体膜中的一对第二杂质区;形成在一对第二杂质区之间的第二沟道区;形成在半导体膜上的栅绝缘膜;第一栅电极,形成为与第一沟道区相邻,并且栅绝缘膜夹在其间;第二栅电极,形成为与第二沟道区相邻,并且栅绝缘膜夹在其间;形成在第一栅电极和第二栅电极上的绝缘膜;形成在绝缘膜中的接触孔;以及形成在绝缘膜上的连线,其中一对第一杂质区中的一个第一杂质区与一对第二杂质区中的一个第二杂质区接触;其中连线电连接到一对第一杂质区中的一个第一杂质区和一对第二杂质区中的一个第二杂质区。

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