公开(公告)号：CN116433658A

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN202310673938.9

申请日：2023-06-08

Applicant: 季华实验室

Inventor： 宋梦洒 ,  易京亚 ,  魏晟 ,  温志庆

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/40 ,  G06T7/70 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/80 ,  G01N21/88

Abstract: 本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测物体类镜面的调制图、相位图和曲率图，以及类镜面数据库的表面缺陷训练样本，表面缺陷训练样本包括表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，复合调制图、相位图和曲率图，生成彩色三通道图，根据表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，构建类镜面缺陷检测模型，将彩色三通道图输入类镜面缺陷检测模型，得到待测物体类镜面的缺陷检测结果数据，通过将三通道图输入类镜面缺陷检测模型，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。

公开(公告)号：CN116402819A

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN202310673969.4

申请日：2023-06-08

Applicant: 季华实验室

Inventor： 易京亚 ,  宋梦洒 ,  魏晟 ,  温志庆

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/40 ,  G06T7/70 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/80 ,  G01N21/88

Abstract: 本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测类镜面物体表面的变形条纹图，通过相移法，计算变形条纹图对应的横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，根据横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，结合预设的计算窗口因子，计算得到相位伪相关质量差值图，利用图像分析技术，检测相位伪相关质量差值图，得到待测类镜面物体表面的缺陷结果数据，通过检测由类镜面物体表面的包裹相位数据计算得到相位伪相关质量差值图，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。

公开(公告)号：CN115950439B

公开(公告)日：2023-06-02

申请号：CN202310249471.5

申请日：2023-03-15

Applicant: 季华实验室

Inventor： 杨红杰 ,  熊得竹 ,  魏晟 ,  温志庆

IPC: G01C21/20

Abstract: 本申请属于路径规划技术领域，公开了一种双向RRT路径规划方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：根据障碍物的轮廓，把地图划分为障碍物区和多个空白区；分别以起始点和目标点为两棵路径树的首个节点，根据所述障碍物区的轮廓确定采样点所在的空白区，并在所确定的所述空白区内采样，以交替地扩展两棵路径树的节点，直到两棵所述路径树相交，以此得到初始路径；对所述初始路径进行平滑处理得到最终的路径；从而能够提高路径规划效率。

公开(公告)号：CN115018935B

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210946717.X

申请日：2022-08-09

Applicant: 季华实验室

Inventor： 魏晟 ,  温志庆

IPC: G06T7/80 ,  G01C25/00

Abstract: 本申请涉及自动导航标定技术领域，提供了一种相机与车辆的标定方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：使车辆依次移动至多个车辆位姿处，并在每次车辆移动后，获取标定物相对相机的第一位姿数据和车辆相对激光跟踪仪的第二位姿数据；根据第二位姿数据和第一位姿数据计算相机相对车辆的第三位姿数据；根据第三位姿数据、第一位姿数据和第二位姿数据计算每次车辆移动后标定物相对激光跟踪仪的第四位姿数据；计算第四位姿数据的旋转向量模长的第一标准方差和平移向量模长的第二标准方差；最终将符合预设标准的第一标准方差和第二标准方差对应的第三位姿数据作为相机相对车辆的位姿标定结果。本发明具有标定流程简单和标定精度高的有益效果。

公开(公告)号：CN113752268A

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN202111331010.X

申请日：2021-11-11

Applicant: 季华实验室

Inventor： 魏晟 ,  杨红杰 ,  胡迪 ,  温志庆

IPC: B25J9/16 ,  B25J19/02 ,  B65G47/90

Abstract: 本申请涉及电路板检测技术领域，并具体公开了一种电路板抓取控制方法、装置、设备及存储介质。其中方法包括：获取两个时刻拍摄电路板形成的拍摄图像；基于两个时刻对应的所述拍摄图像，计算所述电路板在两个时刻的位姿参数；基于所述电路板在两个时刻的位姿参数，计算所述电路板在两个时刻的位姿偏差；判断所述位姿偏差是否小于预设偏差；响应于所述位姿偏差小于所述预设偏差，控制机械臂夹爪抓取所述电路板。相对于在电路板移动的情况下抓取电路板的方法，本申请提供的电路板抓取控制方法可以更为精准地抓取电路板。

公开(公告)号：CN112116638A

公开(公告)日：2020-12-22

申请号：CN202010924056.1

申请日：2020-09-04

Applicant: 季华实验室

Inventor： 魏晟 ,  温志庆 ,  周德成 ,  李伟 ,  甘中学

IPC: G06T7/33

Abstract: 本发明提供了一种三维点云匹配方法、装置、电子设备和存储介质，通过获取RGB‑D相机生成的工件的三维点云信息；对所述三维点云信息进行预处理，以提高三维点云的质量；获取多个对应所述工件不同姿态的点云模板；以多线程并行处理的方式，采用ICP匹配算法用多个所述点云模板分别对所述三维点云进行匹配；根据各点云模板与所述三维点云的匹配效果获取工件姿态识别结果；从而提高利用RGB‑D相机的三维点云进行工件姿态识别时的准确性和效率。