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公开(公告)号：CN109186946B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106199371B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610884239.9
申请日：2016-10-11
Applicant: 厦门大学
Abstract: 利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的方法及装置，涉及交流发光二极管热阻和结温测试。利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的装置设有信号发生器、电压/电流放大器、示波器、控温台、电流/电压探头、积分球、光谱仪；信号发生器的输出端接电压/电流放大器的输入端，电压/电流放大器的输出端接待测AC‑LED，待测AC‑LED固定在控温台上，电流/电压探头接控温台，电流/电压探头的信号输出端接示波器，积分球与待测AC‑LED连接，积分球的光功率输出端接光谱仪。利用正负窄脉冲对结温几乎不影响，对比相同幅值的方波信号，调整热沉温度使两者幅值相等，确定热沉与PN结温差及热阻。
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公开(公告)号：CN109186946A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106784258B
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201710154359.8
申请日：2017-03-15
Applicant: 厦门大学
Abstract: 晶圆级封装LED，涉及LED封装。设有LED芯片、透镜、透镜粘结层，LED芯片设衬底层、掺杂半导体层、半导体发光层、导电反光层、电极、绝缘层和包覆介质，半导体发光层设于第一和第二掺杂半导体层之间，导电反光层设于第二掺杂半导体层下方，第二电极通过导电反光层实现与第二掺杂半导体层之间的电导通，第一电极与第一掺杂半导体层直接连接，第一电极与半导体发光层、第二掺杂半导体层、导电反光层之间由绝缘层绝缘，包覆介质设于LED芯片侧壁的非衬底区域，衬底层内部设有过孔，过孔内壁设高反射率层，透镜包括平板部和光耦合部，平板部固定至衬底层上，光耦合部设于衬底层内的过孔内，且光耦合部的光接收面朝向第一掺杂半导体层。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106770988A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710154357.9
申请日：2017-03-15
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N33/00
CPC classification number: G01N33/00
Abstract: 基于量子点的强极性溶剂快速检测装置，涉及传感器。设有量子点复合膜和承载板，量子点复合膜为包覆量子点的高分子聚合物薄膜，量子点具有钙钛矿结构，其化学式为ABX(m)Y(3‑m)(A＝CH3NH3+，HC(NH2)2+；B＝Pb2+，Sn2+；X，Y＝Br─，Cl─，I─，0≤m≤3)，量子点复合膜贴合于承载板的上表面，承载板包括金属反光层、壳体和控温模块，金属发光层设置于贴合量子点复合膜的壳体外表面，控温模块包括工作介质模块和控制模块，工作介质模块设置于壳体内部，控制模块设置于壳体外部，所述壳体具有良好的导热能力以便通过操作控温模块工作介质模块能够改变量子点复合膜的温度。
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公开(公告)号：CN103308499B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201310196584.X
申请日：2013-05-24
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 一种蓝光LED激发荧光粉性能测试装置及测试方法，涉及荧光粉。提供基于积分球的一种蓝光LED激发荧光粉性能测试装置及测试方法。所述测试装置设有固定底座、积分球、出光筒、蓝光LED光源、TEC控温夹具、恒流源、余弦收集器、光谱仪、计算机、挡板和标准白板。利用LED光谱参数可调、发光稳定的优点作为激发光源，以及积分球装置封闭的特点完整收集荧光粉反射的光线，提出了一套适用性强的荧光粉性能测量系统，可以方便准确地测量分析荧光粉在实际工作条件下的发光效能、外量子效率、光转换效率等重要发光性能指标。同时，系统可以通过灵活更换LED激发光源，实现不同荧光粉对不同激发光源的要求，具有良好的扩展性能。
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公开(公告)号：CN102914323A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210395731.1
申请日：2012-10-17
Applicant: 厦门大学
IPC: G01D18/00
Abstract: 一种光电探测器绝对光谱响应的校准方法及其装置，涉及光电探测器的测试。设有光栅光谱仪、光电采集电路、计算机、待测光电探测器、标准光谱辐照度探头、套筒、会聚透镜组、光源、LED温控夹具和LED稳流源。测出待测光电探测器相对光谱响应得相对光谱响应曲线；把探头和光源固定在套筒里，点亮LED和开启夹具，测出不同电流下LED的光谱辐照度分布；把探头卸掉，将待测光电探测器固定在套筒中，待测光电探测器响应电流经光电采集电路采集不同波长光照下的响应电流值，并送给计算机；已知相对光谱响应和待测光电探测器在LED光源的照射下的响应电流可计算出待测光电探测器的绝对光谱响应度。最终绘出响应度-波长曲线。
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公开(公告)号：CN119814097A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202510027531.8
申请日：2025-01-08
Applicant: 厦门大学
IPC: H04B7/0456 , H04L27/34
Abstract: 本发明公开了一种降低微型LED光通信系统峰值平均功率比的方法及装置，包括：在VLC系统的发射端通过预编码矩阵分别对第一用户的调制数据和第二用户的调制数据进行预编码，分别得到第一用户的预编码输出信号和第二用户的预编码输出信号；基于功率分配因子以及第一用户的预编码输出信号和第二用户的预编码输出信号的总功率对第一用户的预编码输出信号和第二用户的预编码输出信号进行组合计算，得到预编码频域信号；将预编码频域信号扩展为具有Hermitian对称性的扩展频域信号，对扩展频域信号进行快速傅里叶逆变换，得到预编码时域信号；对预编码时域信号进行μ律压缩处理，得到压缩信号，根据压缩信号计算得到峰值平均功率比。本发明能够有效降低PAPR。
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公开(公告)号：CN119767891A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411992297.4
申请日：2024-12-31
Applicant: 厦门大学
IPC: H10H20/814 , H10H20/812 , H10H20/858 , H10H20/01
Abstract: 本发明公开了一种缓解电流拥挤效应的Micro‑LED器件及其制备方法，其外延结构由背面至正面按序包括衬底、缓冲层、n‑GaN层，多量子阱层和p‑GaN层，并通过正面蚀刻至n‑GaN层形成发光台面；p‑GaN层上设有电流扩展层，电流扩展层上设有p电极，n‑GaN层上设有n电极；其中p‑GaN层的正面于电流扩展层下方具有若干凹槽，凹槽内填充高反射率的金属导电材料，显著改善了电流在整个器件中的均匀分布，提高了器件的电流扩展能力，能够显著提升器件的稳定性、可靠性。
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