-
公开(公告)号：CN113218628A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110429396.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种微型发光器件空间光色分布检测系统及其检测方法，涉及微型发光器件。检测系统包括带空腔的半球体、底板、三维台、电流源、光纤、光纤集成面板、分束镜、CCD相机、高光谱成像光谱仪和计算机；微型发光器件与电流源相连接，置于球心处，将已知辐照度光谱分布数据的标准光源置于半球体中心位置，进行系统校准；光纤将空间光分布传输到光纤集成面板上，高光谱成像光谱仪采集二维图像及光谱信息，通过计算机数据处理，得到微型发光器件三维空间光色分布，所有光纤光分布积分后即为微型发光器件光通量或光功率。将发光器件的三维空间光色分布特性转化为二维分布特性，能快速准确地检测出微型发光器件的光学特性。
-
公开(公告)号：CN110057466A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
-
公开(公告)号：CN109655233A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811546859.7
申请日：2018-12-18
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种多路光谱成像显示屏光学检测系统及其检测方法，属于显示屏光学检测技术领域，解决机器视觉法对于单像素点的检测则不够全面、成像亮度计缺乏对显示屏光学信息全面分析的技术问题。解决方案为：一种多路光谱成像显示屏光学检测系统，它包括光源、积分球、成像镜头、分束器、相机、多路光纤固定器、光路复用器、光谱仪、激光器和测距仪，依次经过系统校准、待测显示屏光学检测，用镜头收集待测显示屏发出的光线，十六路光纤及光谱仪采集像平面对应显示屏像素光谱，同时通过激光和相机的辅助对焦，使每一路光纤精确地对应显示屏像素点。通过对光谱的校准分析，可以得到该像素点的光谱分布、亮度、色度等参数，全面地对显示屏的显示质量做出分析。
-
公开(公告)号：CN119197647A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411383868.4
申请日：2024-09-30
Applicant: 厦门大学 , 厦门市计量检定测试院
Abstract: 本发明提供了一种绝缘子多参数联动检测装置，其通过流转组件将用于测量绝缘子的镀锌层厚度的缺陷检测组件和用于测量绝缘子受力性能的检测组件联动设置在一柜体内，并借助枢设有绝缘子的周转箱依次通过缺陷检测组件与性能检测组件以对绝缘子的相关数据进行记录，实现了对绝缘子的爬电距离、镀锌层厚度、机械破坏负荷强度等项目的自动化检测，具有检测效率高、检测成本低、安全可靠等优点，在检测过程结束后自动输出检测结果供质量判别，相比传统人工记录后再判别，可大幅节约时间，提高检测效率。
-
公开(公告)号：CN109655233B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201811546859.7
申请日：2018-12-18
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种多路光谱成像显示屏光学检测系统及其检测方法，属于显示屏光学检测技术领域，解决机器视觉法对于单像素点的检测则不够全面、成像亮度计缺乏对显示屏光学信息全面分析的技术问题。解决方案为：一种多路光谱成像显示屏光学检测系统，它包括光源、积分球、成像镜头、分束器、相机、多路光纤固定器、光路复用器、光谱仪、激光器和测距仪，依次经过系统校准、待测显示屏光学检测，用镜头收集待测显示屏发出的光线，十六路光纤及光谱仪采集像平面对应显示屏像素光谱，同时通过激光和相机的辅助对焦，使每一路光纤精确地对应显示屏像素点。通过对光谱的校准分析，可以得到该像素点的光谱分布、亮度、色度等参数，全面地对显示屏的显示质量做出分析。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119515907A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411573161.X
申请日：2024-11-06
Applicant: 厦门大学 , 厦门市计量检定测试院
Abstract: 本发明涉及一种自适应堆叠工件点云数据合成与实例分割方法及装置，方法包括：通过采集单个工件的点云数据，应用特征保持重建算法自动化逆向建模得到单个工件的CAD模型，并建立和训练包含骨干网络模块、语义预测模块、中心点偏移量预测模块、二值聚类模块、向心偏移模块和投票模块的堆叠工件实例分割模型；通过点云数据补全和细节特征保持算法对点云数据进行补全并细化边缘细节，将处理后的点云数据输入训练好的实例分割模型中，实现堆叠工件点云数据的精准实例分割。本发明通过自适应点云数据合成、深度学习实例分割和点云数据补全等技术，显著提高了点云数据的质量和分割精度，适用于复杂工业环境中的工件识别和操作任务。
-
公开(公告)号：CN113218628B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202110429396.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种微型发光器件空间光色分布检测系统及其检测方法，涉及微型发光器件。检测系统包括带空腔的半球体、底板、三维台、电流源、光纤、光纤集成面板、分束镜、CCD相机、高光谱成像光谱仪和计算机；微型发光器件与电流源相连接，置于球心处，将已知辐照度光谱分布数据的标准光源置于半球体中心位置，进行系统校准；光纤将空间光分布传输到光纤集成面板上，高光谱成像光谱仪采集二维图像及光谱信息，通过计算机数据处理，得到微型发光器件三维空间光色分布，所有光纤光分布积分后即为微型发光器件光通量或光功率。将发光器件的三维空间光色分布特性转化为二维分布特性，能快速准确地检测出微型发光器件的光学特性。
-
公开(公告)号：CN110057466B
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
-
公开(公告)号：CN109186946B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
-
公开(公告)号：CN109186946A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
11
records
(took 0.016 seconds)
