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公开(公告)号:CN105021968B
公开(公告)日:2018-08-21
申请号:CN201510386850.4
申请日:2015-07-03
Applicant: 厦门大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种LED寿命加速在线测试系统,涉及LED测试系统。设有老化装置、光谱采集装置、电测试装置和计算机控制处理模块;老化装置设有恒温控制器和老化恒流源;光谱采集装置设有至少1路光纤、余弦收集器、测试采样夹具、十六路光复用器和光谱仪;电测试装置设有电矩阵开关和测试源表;计算机控制处理模块包括计算机控制和计算机处理部分。采用PID加热器对LED热沉进行直接控温,不仅使系统实现小型化,控温更加准确稳定,并且节约了大量能源,且加热器具有绝热装置,避免了高温对测试设备的影响;在线测试结果更加连续,且避免了因为测试条件不一致引入的误差;测试参数完整;通过将物理和数学模型相结合,在短时间内更加准确预测寿命。
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公开(公告)号:CN105973571A
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201610268420.7
申请日:2016-04-27
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 一种基于CCD的LED芯片显微表面亮度的测量方法,涉及LED亮度测量。1)获取亮度标准值;2)获取亮度测量值;3)测量LED芯片显微表面亮度。弥补现有的LED芯片表面亮度量化测量的空缺,可以对LED芯片表面的亮度分布进行测量。在一定曝光时间下,只需获取图像的灰度值,就能准确有效地测量出LED芯片显微表面的亮度分布情况,并能对LED芯片显微表面的亮度进行量化分析。
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公开(公告)号:CN105954209A
公开(公告)日:2016-09-21
申请号:CN201610250294.2
申请日:2016-04-21
Applicant: 厦门大学
CPC classification number: G01N21/27 , G01J3/2889
Abstract: 一种光源近场空间分布多路测试系统,涉及光源分布测试系统。设有样品控温夹具、光谱采集装置、旋转装置、电流源、计算机;光谱采集装置设有十六路光纤、余弦收集器、十六路光复用器、CCD光谱仪和十六路光纤固定夹具;旋转装置设有电动旋转台和旋转台控制器;样品控温夹具设在电动旋转台上,样品控温夹具与电流源连接,余弦收集器用于光谱辐射的取样,收集180°立体角内的光;十六路光纤套在余弦收集器上并作为入光口,余弦收集器固定在十六路光纤固定夹具上;旋转装置用于控制十六路光纤的转动,电动旋转台由计算机设定每次旋转角度、旋转速度、旋转总角度和旋转方向,电动旋转台带动十六路光纤旋转。
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公开(公告)号:CN105021968A
公开(公告)日:2015-11-04
申请号:CN201510386850.4
申请日:2015-07-03
Applicant: 厦门大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种LED寿命加速在线测试系统,涉及LED测试系统。设有老化装置、光谱采集装置、电测试装置和计算机控制处理模块;老化装置设有恒温控制器和老化恒流源;光谱采集装置设有至少1路光纤、余弦收集器、测试采样夹具、十六路光复用器和光谱仪;电测试装置设有电矩阵开关和测试源表;计算机控制处理模块包括计算机控制和计算机处理部分。采用PID加热器对LED热沉进行直接控温,不仅使系统实现小型化,控温更加准确稳定,并且节约了大量能源,且加热器具有绝热装置,避免了高温对测试设备的影响;在线测试结果更加连续,且避免了因为测试条件不一致引入的误差;测试参数完整;通过将物理和数学模型相结合,在短时间内更加准确预测寿命。
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公开(公告)号:CN204086326U
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201420651816.6
申请日:2014-11-03
Applicant: 厦门大学
IPC: G01R1/04
Abstract: 一种用于多路LED光衰老化测试的夹具,涉及夹具。设有采样套筒、采样套筒固定架、光纤支架。所述采样套筒上部设有固定装置,固定装置上安装光纤-余弦校正器;采样套筒内设有与采样套筒连为一体的环形光阑,采样套筒下部为中空圆管;采样套筒固定架与采样套筒相连成一体,采样套筒固定架左右两端各有一个支柱和金属固定螺栓;光纤支架固定于采样套筒固定架上,光纤支架设有圆环,供光纤穿过,并避免光纤因超过弯曲半径导致的损坏。所述支柱可为长方形支柱。所述固定装置分为两部分,分别固定余弦校正器和光纤,在固定装置下方可设有挡环,用于余弦校正器顶端的定位;所述光纤支架上设有圆形孔,圆形孔用于固定光纤,防止光纤弯曲。
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