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公开(公告)号：CN1258780C
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN03119631.4
申请日：2003-03-18
Applicant: 北京科技大学
IPC: H01F41/02
Abstract: 本发明提供了一种径轴向两用磁场注射成形机，由注射装置、合模装置、取向电磁体、液压传动及电气控制系统五部分组成；其特征在于：线包(1)以底部导柱支撑方式置于底部支撑导柱(4)上，线包(1)与移动油缸(5)用连杆连接，并通过线包移动油缸(5)的作用在导柱(4)上实现自由平稳地滑动；线包(1)内的励磁线圈2采用的是内冷式铜管，并由带有电源吸收回路的控制柜(3)控制取向时间及取向电流；在线圈(2)内设有两组磁轭11和中心磁轭12。本发明的优点在于：实现了一机两用，提高了取向磁场强度、散热速度。
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公开(公告)号：CN106596356B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201610866462.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种基于二维X射线检测技术晶粒尺寸的快速检测方法，属于晶粒尺寸测量技术领域。该方法首先对参考样品进行金相或EBSD数据采集，得到参考样品的平均晶粒大小、晶粒分布情况等，对参考样品多个检测视场进行标记，对比标记视场的金相结果和X射线衍射结果，建立衍射信息与晶粒尺寸关系；从而建立基于平均晶粒尺寸公式和晶粒尺寸分布模型。然后对测试样品采集X射线衍射信息，依据参考样品的计算模型即可计算平均晶粒和晶粒尺寸分布。该方法能够实现对晶粒尺寸的快速检测，适用于多晶材料晶粒尺寸快速检测的工业应用。
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公开(公告)号：CN106199567B
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201610530879.X
申请日：2016-07-07
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01S11/00
Abstract: 本发明提供一种近场电磁场测距系统，系统实时性强。所述系统包括：信号获取模块，用于获取接收信号，接收信号包括：电场成分与磁场成分；时延估计模块，用于依据当前采样周期的电磁场时延获取当前采样周期与下一个采样周期之间的接收信号中电场成分和磁场成分之间的时延差值，并依据当前采样周期的电磁场时延及获取的时延差值，得到下一采样周期的电磁场时延估计值，以便实时估计接收信号中电场成分和磁场成分之间的电磁场时延；频率确定模块，用于确定接收信号的频率；距离确定模块，用于依据实时估计得到的接收信号中电场成分和磁场成分之间的电磁场时延及接收信号的频率，确定测距目标之间的通信距离。本发明适用于通信技术领域。
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公开(公告)号：CN105954744B
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201610251728.0
申请日：2016-04-21
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供种双向测距方法及系统,能够降低对网络时间同步误差对测距结果的影响,提高定位结果的准确性。所述方法包括:组网后,获取网络中的汇聚节点、簇头节点及簇内节点;利用超宽带技术获取簇头节点之间的距离、簇头节点与汇聚节点之间的距离、簇内的整簇节点之间的距离及每个簇内随机两个簇内节点与汇聚节点之间的距离;所述汇聚节点依据获取的所述簇头节点之间的距离、簇头节点与汇聚节点之间的距离、簇内的整簇节点之间的距离及每个簇内随机两个簇内节点与所述汇聚节点之间的距离,得到所述汇聚节点、簇头节点及簇内节点的位置。本发明适用于无线传感器网络定位技术领域。
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公开(公告)号：CN104624462B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201410842593.6
申请日：2014-12-30
Applicant: 北京科技大学
IPC: B06B1/06
Abstract: 本发明涉及超声扫描显微镜检测领域和超声波成像领域，尤其是一种用于超声扫描显微镜的可变频变焦换能器制作方法，其特征在于：1）利用微机械加工工艺在单晶硅上获得曲率半径不同的五个自聚焦曲面；2)采用低压化学气相沉积法分别在上述自聚焦曲面上沉积五种不同厚度的ZnO压电薄膜晶片，薄膜之间相互分开；3）通过单独引出的电极选择性激励各ZnO压电薄膜晶片，获得频率可调的超声波；4）将五种不同厚度的压电薄膜晶片封装为一个整体，并用SAM电子连接器连接形成变频变焦的换能器。本发明通过五种不同曲率半径的自聚焦曲面获得五种不同的焦距，并通过各自引出的电极选择性激励其中任意厚度的压电薄膜晶片即可实现超声换能器的变频变焦功能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104914426B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201510330634.8
申请日：2015-06-15
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01S11/02
Abstract: 本发明提供一种基于自适应时延估计的近场测距系统及方法，系统简单易于实现。所述系统包括：至少一个发射设备，与发射设备配对的发射天线，至少一个接收设备，与接收设备配对的接收天线，所述接收设备包括：自适应时延估计模块；所述发射设备，用于通过与所述发射设备配对的发射天线发射低频窄带信号；所述接收设备，用于通过与所述接收设备配对的接收天线接收发射的低频窄带信号中的电场成分和磁场成分，并通过所述自适应时延估计模块自适应估计所述电场成分与磁场成分之间电磁场时延，同时根据电磁场时延与测距目标之间的通信距离的关系，确定接收设备与发射设备之间的通信距离。本发明适用于通信领域。
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公开(公告)号：CN104597508B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201410751347.X
申请日：2014-12-09
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供一种基于三轴磁传感器的三维磁场定位方法及系统，能够对处于地表下长距离的待定位信号源进行定位。所述方法包括：通过发射电路与谐振线圈产生交变磁场信号，所述谐振线圈为圆形线圈和谐振电容串联构成的串联谐振电路；对地表上的4个不同检测点分别测量所述交变磁场信号的磁感应强度的矢量坐标；确定待定位信号源的三维坐标值。所述系统包括：产生单元，通过发射电路与谐振线圈产生交变磁场信号，所述谐振线圈为圆形线圈和谐振电容串联构成的串联谐振电路；测量单元，用于对地表上的4个不同检测点分别测量所述交变磁场信号的磁感应强度的矢量坐标；确定单元，用于确定待定位信号源的三维坐标值。本发明适用于空间磁场定位技术领域。
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公开(公告)号：CN103886642B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410137363.X
申请日：2014-04-04
Applicant: 北京科技大学
IPC: G06T17/30
Abstract: 本发明涉及一种钢板表面三维重建的快速实现方法，采用红、绿、蓝三个单色光源沿不同角度同时照明钢板表面，其入射光与钢板轧制速度方向的角度在±50度范围，通过垂直于钢板表面的彩色CCD摄像机拍摄光源照射的钢板表面区域，分离其彩色图像的R、G、B通道，得到近似于红、绿、蓝光源单独照明下获得的三幅图像。本方法的复杂度与图像像素数量呈线性关系，而全局优化算法则呈平方关系，因此算法的耗时大大减少，且本算法的误差要略小于全局优化算法。
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公开(公告)号：CN105223216A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510611851.4
申请日：2015-09-23
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种基于X射线衍射的材料微结构在线检测系统,系统包括：检测台、支撑架、X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，支撑架设置在检测台上方，支撑架为半圆弧支撑架，支撑架底部与检测台翻转连接，半圆弧支撑架设置有半圆弧轨道，X射线发射器和X射线探测器通过半圆弧轨道与半圆弧支撑架滑动连接，X射线发射器和X射线探测器与控制处理器连接。通过设置X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，利用X射线衍射在线检测材料微结构，能够提高材料微结构控制的准确度，方便改变X射线发射器和X射线探测器间的夹角，从而实现各种角度的X射线照射和探测，提高材料微结构检测的灵活性和适应性。
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公开(公告)号：CN105115944A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201510563980.0
申请日：2015-09-07
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供一种用于LIBS物质成分检测的自动聚焦方法及系统，能够获取稳定、高质量的光谱信号。所述方法包括：选择粗聚焦参考平面，并设置精聚焦的聚焦范围R、光谱积分波长范围RI、精聚焦次数N；加载待测样本，根据位移传感器测量到的参考平面与第一聚焦透镜之间的距离，调整聚焦位置，即第一聚焦透镜到待测样本表面的距离；根据设置的聚焦范围R、光谱积分范围RI、精聚焦次数N，按照预设的步距p改变聚焦位置同时进行光谱采集，确定每次采集到的光谱质量评价指标，并将最优光谱质量评价指标对应的聚焦位置确定为最优聚焦位置，完成本次自动聚焦。本发明适用于原子光谱检测技术领域。
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