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公开(公告)号：CN105223216B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201510611851.4
申请日：2015-09-23
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种基于X射线衍射的材料微结构在线检测系统,系统包括：检测台、支撑架、X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，支撑架设置在检测台上方，支撑架为半圆弧支撑架，支撑架底部与检测台翻转连接，半圆弧支撑架设置有半圆弧轨道，X射线发射器和X射线探测器通过半圆弧轨道与半圆弧支撑架滑动连接，X射线发射器和X射线探测器与控制处理器连接。通过设置X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，利用X射线衍射在线检测材料微结构，能够提高材料微结构控制的准确度，方便改变X射线发射器和X射线探测器间的夹角，从而实现各种角度的X射线照射和探测，提高材料微结构检测的灵活性和适应性。
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公开(公告)号：CN106596356A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201610866462.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种基于二维X射线检测技术晶粒尺寸的快速检测方法，属于晶粒尺寸测量技术领域。该方法首先对参考样品进行金相或EBSD数据采集，得到参考样品的平均晶粒大小、晶粒分布情况等，对参考样品多个检测视场进行标记，对比标记视场的金相结果和X射线衍射结果，建立衍射信息与晶粒尺寸关系；从而建立基于平均晶粒尺寸公式和晶粒尺寸分布模型。然后对测试样品采集X射线衍射信息，依据参考样品的计算模型即可计算平均晶粒和晶粒尺寸分布。该方法能够实现对晶粒尺寸的快速检测，适用于多晶材料晶粒尺寸快速检测的工业应用。
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公开(公告)号：CN106596356B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201610866462.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种基于二维X射线检测技术晶粒尺寸的快速检测方法，属于晶粒尺寸测量技术领域。该方法首先对参考样品进行金相或EBSD数据采集，得到参考样品的平均晶粒大小、晶粒分布情况等，对参考样品多个检测视场进行标记，对比标记视场的金相结果和X射线衍射结果，建立衍射信息与晶粒尺寸关系；从而建立基于平均晶粒尺寸公式和晶粒尺寸分布模型。然后对测试样品采集X射线衍射信息，依据参考样品的计算模型即可计算平均晶粒和晶粒尺寸分布。该方法能够实现对晶粒尺寸的快速检测，适用于多晶材料晶粒尺寸快速检测的工业应用。
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公开(公告)号：CN105223216A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510611851.4
申请日：2015-09-23
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种基于X射线衍射的材料微结构在线检测系统,系统包括：检测台、支撑架、X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，支撑架设置在检测台上方，支撑架为半圆弧支撑架，支撑架底部与检测台翻转连接，半圆弧支撑架设置有半圆弧轨道，X射线发射器和X射线探测器通过半圆弧轨道与半圆弧支撑架滑动连接，X射线发射器和X射线探测器与控制处理器连接。通过设置X射线发射器、X射线探测器和控制处理器，利用X射线衍射在线检测材料微结构，能够提高材料微结构控制的准确度，方便改变X射线发射器和X射线探测器间的夹角，从而实现各种角度的X射线照射和探测，提高材料微结构检测的灵活性和适应性。
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