半导体装置
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103843135A

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201180073852.8

    申请日:2011-09-29

    Abstract: 本发明以提供一种抑制了半导体元件与电极的疲劳断裂的半导体装置为课题。半导体装置包括:第一金属板;多个半导体元件,其被安装在所述第一金属板上;隔板,其被连接于所述多个半导体元件的、与安装于所述第一金属板上的安装面相反的一侧的面上;第二金属板,其被连接于所述隔板的、与连接于所述半导体元件上的连接面相反的一侧的面上;密封树脂,其在所述第一金属板与所述第二金属板之间对所述多个半导体元件进行密封,与在所述多个半导体元件之间以外的部位处因所述密封树脂中产生的收缩而引起的应力相比,在所述多个半导体元件之间因所述密封树脂中产生的收缩而引起的应力更被缓和。

    半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN109285787A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201810786958.6

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明涉及半导体装置的制造方法,关于该半导体装置,金属板在树脂封装体的两面露出,提供气泡不易残留于封装体内的制造方法。本说明书公开的制造方法具备准备工序、设置工序、成型工序、去除工序。在准备工序中,准备半导体元件和金属板的组件。在设置工序中,将组件设置于用于使树脂封装体成型的模具的腔体。使一个金属板与腔体的底表面接触而在另一个金属板的上方设置空间地设置组件。在成型工序中,以覆盖金属板的方式将熔融树脂注入到腔体,在腔体的上部残留空间的一部分地停止熔融树脂的注入,并使树脂硬化。在去除工序中,去除覆盖金属板的树脂部分。

    半导体装置
    35.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105556664B

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201480050991.2

    申请日:2014-09-09

    Abstract: 提供一种能够实现在开关元件的排列方向上的小型化并能够降低浪涌电压、且即使密封树脂体的绝缘性能下降也不易发生短路的半导体装置。在第1开关元件(20)与第2开关元件(30)的排列方向上,第2散热片(52)与第3散热片(54)通过接头部(58)被电连接。另外,第2电源端子(42)在排列方向上配置于第1电源端子(40)与输出端子(44)之间且第2散热片与第3散热片之间的区域。而且,在密封树脂体(66)内,与第1电源端子相同电位的第1电位部和与输出端子相同电位的第3电位部的最短距离、以及与第2电源端子相同电位的第2电位部与第3电位部的最短距离中的至少一个距离比第1电位部与第2电位部的最短距离短。

    半导体装置
    36.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105917463B

    公开(公告)日:2018-09-14

    申请号:CN201480064023.7

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 一种半导体装置(1),包括:基板(10)、半导体元件(20)、端子(42)以及焊料流出防止部(12x)。所述半导体元件通过第一焊料层(51)固定在基板的一侧上。所述端子通过第二焊料层(53)固定在基板的所述一侧上。所述焊料流出防止部形成于在基板的所述一侧中的半导体元件和端子之间,并且构造为防止第一焊料层和第二焊料层流出。所述焊料流出防止部与所述半导体元件之间的距离长于第一焊料层的厚度。

    半导体装置
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105917463A

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201480064023.7

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 一种半导体装置(1),包括:基板(10)、半导体元件(20)、端子(42)以及焊料流出防止部(12x)。所述半导体元件通过第一焊料层(51)固定在基板的一侧上。所述端子通过第二焊料层(53)固定在基板的所述一侧上。所述焊料流出防止部形成于在基板的所述一侧中的半导体元件和端子之间,并且构造为防止第一焊料层和第二焊料层流出。所述焊料流出防止部与所述半导体元件之间的距离长于第一焊料层的厚度。

    半导体装置和用于半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN105575937A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201510738180.8

    申请日:2015-11-03

    Inventor: 门口卓矢

    Abstract: 半导体装置(2)包括第一和第二半导体元件(3、5)和第一和第二导电构件(10、29)。第一半导体元件上的第一电极(3a)通过第一接合层(8a)接合至所述第一导电构件的第一堆叠部(12)。第二半导体元件上的第二电极(5b)通过第二接合层(8f)接合至所述第二导电构件的第二堆叠部(25)。所述第一导电构件的第一接头部(13)通过中间接合层(8g)接合至所述第二导电构件的第二接头部(26)。所述第一接头部的面向所述第二接头部的第一表面、所述第一接头部的与所述第一表面连续的侧表面、所述第二接头部的面向所述第一接头部的第二表面以及所述第二接头部的与所述第二表面连续的侧表面被镍层(19a、19b)覆盖。

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