准一维硫化锡纳米线的宽波段偏振光探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN110190154B

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN201910495256.7

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 一种硫化锡单晶、其制备方法、准一维硫化锡纳米线、偏振光探测器及晶体管。该硫化锡单晶的制备方法包括:将硫粉和锡粉混合,得到混合物;将得到的混合物真空封入容器内后放入加热设备中生长,得到所述硫化锡单晶。本发明基于准一维硫化锡纳米线,制备的光电探测器由于高稳定性、高响应度、可探测多角度线偏振光等特点,具有广泛的应用前景;采用高温管式炉烧结即可简单直接地获得,得到的晶体结晶质量高,成本低,性能优异,能够大规模可重复地生产,对环境无污染。

    基于肖特基结的线偏振光探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN110416348B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN201910706871.8

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种基于肖特基结的线偏振光探测器及其制备方法,属于光探测器的制备技术领域。所述基于肖特基结的线偏振光探测器,包括:漏电极、源电极、二氧化硅衬底以及有源层;所述漏电极、有源层以及源电极从左至右依次位于所述二氧化硅衬底上方;所述有源层的材料为N型半导体纳米线;所述漏电极和源电极的材料均为金属材料。本发明提供的基于肖特基结的线偏振光探测器,通过使用半导体纳米线作为有源层,而源、漏电极均为金属材料,使半导体和金属的交界面为肖特基结,肖特基结可以使有源层本身只能吸收可见光延伸至红外光。

    基于二维硒化亚锗光电探测器的成像元件制备方法

    公开(公告)号:CN109950364A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201910261491.8

    申请日:2019-04-02

    Abstract: 本发明提供了一种基于二维硒化亚锗光电探测器的成像元件制备方法,属于二维半导体成像技术领域。该基于二维硒化亚锗光电探测器的成像元件制备方法,包括:制备二维硒化亚锗单晶;将所二维硒化亚锗单晶剥离成二维硒化亚锗纳米片并转移到有二氧化硅氧化层的硅片衬底上,得到二维硒化亚锗纳米片薄层;将所述二维硒化亚锗纳米片薄层制备成二维硒化亚锗两端器件,得到基于二维硒化亚锗光电探测器的成像元件;所述二维硒化亚锗两端器件即为所述二维硒化亚锗光电探测器。本发明通过将二维硒化亚锗纳米片制备为二维硒化亚锗两端器件,替代原来的电荷耦合元件,可以实现尺寸小,利于加工和集成的效果。

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