一种片上波导损耗测量方法、测量装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN112444372A

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN201910797728.4

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本申请提供一种片上波导损耗测量方法、测量装置及其制造方法。该片上波导损耗测量装置包括:形成于绝缘体上的硅(SOI)衬底的顶层硅中的光耦合器;形成于所述顶层硅中的沿直线方向延伸的直线型波导,所述直线型波导的光入射端与所述光耦合器的光出射端在横向上对置;形成于所述顶层硅中的环形谐振腔,所述环形谐振腔与所述直线型波导之间的最小距离为第一距离;位于所述直线型波导的靠近所述光耦合器一侧的偏振调节元件,所述偏振调节元件调节所述直线型波导中的光的偏振态;光电探测器,其形成于所述顶层硅上,探测所述直线型波导的光输出端所输出的光并生成电流;以及加热器,其形成于所述环形谐振腔的预定距离处。

    基于晶圆键合技术的Ⅲ-Ⅴ/Si异质结构及集成方法

    公开(公告)号:CN112186050A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201910599543.2

    申请日:2019-07-04

    Abstract: 本发明提供一种基于晶圆键合技术的Ⅲ‑Ⅴ/Si异质结构及集成方法,集成方法包括:1)于硅波导层上形成介质层,于介质层中形成Ⅲ‑Ⅴ族材料异质集成窗口;2)于集成窗口内及介质层上形成非晶材料层并抛光,非晶材料层为非晶硅层或者非晶Ⅲ‑Ⅴ族材料层;3)键合Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底及非晶材料层,并减薄Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底;4)采用退火工艺实现非晶材料层的固相外延,形成单晶材料层,单晶材料层为单晶硅层或单晶Ⅲ‑Ⅴ族材料层。本发明通过将具有单晶结构的Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底与硅直接键合方式集成,可获得高质量的Ⅲ‑Ⅴ族材料。本发明可有效发挥硅材料与Ⅲ‑Ⅴ族材料优势,形成Ⅲ‑Ⅴ族材料/硅异质结结构,大大提升光电器件的性能。

    偏振分束器及其形成方法
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111830627A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201910328570.6

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及光学技术领域,尤其涉及一种偏振分束器及其形成方法。所述偏振分束器包括:衬底;位于所述衬底表面且均沿第一方向延伸的第一波导、狭缝波导和第二波导;所述第一波导、所述狭缝波导与所述第二波导在沿与所述第一方向垂直的第二方向上平行排列,且所述狭缝波导位于所述第一波导与所述第二波导之间;所述第一方向为光线的传播方向,所述第一方向与所述第二方向均为平行于所述衬底的方向;所述光线中的横磁偏振光能够自所述第一波导经所述狭缝波导耦合至所述第二波导。本发明实现了对光线中TM偏振模式与TE偏振模式的分离,在未来的偏振复用以及传感等方面有着诸多潜在的应用。

    一种锗铅合金材料的制备方法

    公开(公告)号:CN111785792A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN201910272710.2

    申请日:2019-04-04

    Abstract: 本发明提供了一种锗铅合金材料的制备方法。该方法包括:在衬底上沉积基底介质层;在基底介质层中形成开孔所述衬底从所述开孔露出的部分被作为生长种子窗口;在所述基底介质层表面以及从所述开孔露出的衬底表面沉积包含锗(Ge)元素和铅(Pb)元素的材料层;在所述材料层表面沉积阻挡介质层;以及对所述衬底进行退火,在所述材料层中形成所述四族半导体锗铅合金材料。根据本申请,能够在衬底表面形成质量较高的GePb合金,并且,该方法与CMOS工艺的兼容性较好,有利于GePb合金在硅基器件中的应用。

    一种三维芯片封装结构及封装方法

    公开(公告)号:CN111477613A

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN202010501441.5

    申请日:2020-06-04

    Abstract: 本发明提供一种三维芯片封装结构及封装方法,封装结构包括:封装基板;三维堆叠芯片组件,包括第一芯片组件及第二芯片组件,第一芯片组件的尺寸大于第二芯片组件的尺寸;热桥结构,形成于第一芯片组件上,与第二芯片组件间具有间距;散热盖组件,形成于封装基板上,热桥结构、第一芯片组件与散热盖组件之间热导通。本发明通过引入热桥结构,形成导热通路,有利于三维堆叠芯片的散热,大幅度降低底部芯片的散热热阻和温度。本发明的设计,还可以降低第一芯片的温差,从而能够大幅度降低热应力。热桥结构分担了原本施加到三维堆叠芯片上的散热器等的压力,从而使得封装受力更为均匀,结构更加稳定。本发明工艺简单,基本不影响现有的封装工艺流程和制程。

    一种波导型光电探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN111211182A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201811379153.6

    申请日:2018-11-19

    Inventor: 汪巍 方青 余明斌

    Abstract: 本申请提供一种波导型光电探测器及其制造方法,该波导型光电探测器,包括:位于衬底表面的绝缘层;位于所述绝缘层表面的硅波导;位于所述绝缘层表面的硅光电倍增区,其连接于所述硅波导的末端;以及位于所述硅光电倍增区的至少部分表面的光电转换层,其中,所述光电转换层的材料为锗锡(GeSn),所述硅波导传递的光通过消逝波耦合进入所述光电转换层,并在所述光电转换层中生成光电流,所述硅光电倍增区将所述光电流进行放大。根据本实施例,能够避免光探测器速率和量子效率间相互制约的问题,且容易与其他无源光器件集成,并且,该光电探测器由于具有使电流倍增的光点倍增区,因而具备大的光电流放大倍数和高的灵敏度。

    波导集成的GeSn光电探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN110896112A

    公开(公告)日:2020-03-20

    申请号:CN201810958988.0

    申请日:2018-08-22

    Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种波导集成的GeSn光电探测器及其制造方法。所述波导集成的GeSn光电探测器,包括GeSnOI衬底以及均位于所述GeSnOI衬底表面的光纤-波导模斑耦合器、SiN光波导和器件结构;所述器件结构,包括沿所述GeSnOI衬底的轴向方向设置于所述GeSnOI衬底上的GeSn吸收层;所述SiN光波导的输出端沿平行于所述GeSnOI衬底的方向与所述GeSn吸收层的中心对齐连接;所述光纤-波导模斑耦合器包括与所述SiN光波导的输入端连接的SiN反锥型波导,且所述SiN反锥型波导与所述SiN光波导同层设置。本发明能够有效避免光探测器速率与量子效率间相互制约的问题,提高了GeSn光电探测器的灵敏度以及稳定性。

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