-
公开(公告)号：CN118136083A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311412536.X
申请日：2023-10-27
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了存储器装置、纠错码电路及其操作方法和配置方法。所述存储器装置包括存储器单元阵列和纠错码(ECC)电路。被配置为纠正从存储器单元阵列读出的数据码中的错误的ECC电路包括：(i)校正子计算单元，被配置为基于数据码和H矩阵来运算多个校正子，(ii)错误位置检测单元，被配置为基于所述多个校正子生成错误向量，以及(iii)错误纠正单元，被配置为基于错误向量纠正数据码内的错误，并且输出纠正后的数据。
-
公开(公告)号：CN111327331B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201911132195.4
申请日：2019-11-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H03M13/11
Abstract: 公开了纠错码电路、半导体存储器装置以及存储器系统。半导体存储器装置的纠错码电路包括校正子生成电路和纠正电路。响应于解码模式信号，校正子生成电路通过使用第一奇偶校验矩阵和第二奇偶校验矩阵中的一个基于从存储器单元阵列读取的码字中的消息和第一奇偶校验位，来生成校正子。纠正电路接收所述码字，基于校正子纠正所述码字中的(t1+t2)个错误位的至少一部分，并输出纠正的消息。这里，t1和t2分别是大于0的自然数。
-
公开(公告)号：CN116206666A
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202211076157.3
申请日：2022-09-02
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种半导体存储器件包括缓冲器管芯和多个存储器管芯。多个存储器管芯内的一个存储器管芯中的纠错码(ECC)引擎对主数据执行RS编码以生成奇偶校验数据，并使用奇偶校验检查矩阵对主数据和奇偶校验数据执行RS解码。奇偶校验检查矩阵包括子矩阵，并且子矩阵中的每一个与两个不同的符号相对应。子矩阵中的每一个包括两个单位子矩阵和两个相同的α矩阵，两个单位子矩阵设置在子矩阵的第一对角方向上，并且两个相同的α矩阵设置在第二对角方向上。奇偶校验检查矩阵的第y行中的高电平值元素的数量与第(y+p)行中的高电平值元素的数量相同。
-
公开(公告)号：CN116110440A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211374119.6
申请日：2022-11-03
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种纠错电路包括：纠错码(ECC)编码器，被配置为：基于奇偶校验生成矩阵来生成与主数据相对应的奇偶校验数据，并将包括主数据和奇偶校验数据的码字输出到多个存储器件；以及ECC解码器，被配置为：从多个存储器件读取码字，基于奇偶校验检查矩阵生成与码字相对应的校正子，基于校正子检测错误模式，使用奇偶校验检查矩阵中包括的多个部分子矩阵来生成与错误模式相对应的多个估计校正子，以及基于校正子与多个估计校正子之间的比较的结果来校正在读取码字中包括的错误。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115547398A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202210676862.0
申请日：2022-06-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/42
Abstract: 在操作存储控制器的方法中，从包括多个数据芯片和至少一个奇偶校验位芯片的存储器模块接收解码状态标志。所述多个数据芯片和所述至少一个奇偶校验位芯片中的每一个可以包括管芯上纠错码(ECC)引擎。解码状态标志由管芯上ECC引擎生成。可以基于所述解码状态标志获得第一数量和第二数量。所述第一数量表示包括不可由管芯上ECC引擎纠正的不可纠正错误的第一芯片的数量。所述第二数量表示包括可由管芯上ECC引擎纠正的可纠正错误的第二芯片的数量。基于所述第一数量和所述第二数量中的至少一个选择多个解码方案中的至少一个解码方案。系统ECC引擎可以基于所选择的解码方案对所述第一芯片和所述第二芯片中的至少一个执行ECC解码。
-
公开(公告)号：CN115482870A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202210553274.8
申请日：2022-05-19
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统。所述半导体存储器装置包括存储器单元阵列和循环冗余校验(CRC)引擎。存储器单元阵列包括结合到多条字线和多条位线的多个易失性存储器单元。CRC引擎在对存储器单元阵列的存储器操作中：检测通过链路从半导体存储器装置外部的存储器控制器提供的主数据和系统奇偶校验数据中的错误，基于系统奇偶校验数据生成错误标志并将错误标志发送到存储器控制器，错误标志指示检测到的错误是对应于与链路相关联的第一类型的错误还是对应于与易失性存储器单元相关联的第二类型的错误。
-
公开(公告)号：CN115376602A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210441705.1
申请日：2022-04-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种半导体存储器件包括存储单元阵列、链路纠错码(ECC)引擎和管芯上ECC引擎。存储单元阵列包括多个易失性存储单元。链路ECC引擎通过对包括主数据和第一奇偶校验数据的第一码字执行第一ECC解码来提供主数据，并且基于第一ECC解码的结果产生第一错误标志。管芯上ECC引擎通过对主数据执行第一ECC编码来产生第二奇偶校验数据，响应于第一错误标志被去激活，向存储单元阵列的目标页面提供包括主数据和第二奇偶校验数据的第二码字，或者响应于第一错误标志被激活，通过改变第二码字的位中的至少一个位来产生第三码字。
-
公开(公告)号：CN111327331A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201911132195.4
申请日：2019-11-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H03M13/11
Abstract: 公开了纠错码电路、半导体存储器装置以及存储器系统。半导体存储器装置的纠错码电路包括校正子生成电路和纠正电路。响应于解码模式信号，校正子生成电路通过使用第一奇偶校验矩阵和第二奇偶校验矩阵中的一个基于从存储器单元阵列读取的码字中的消息和第一奇偶校验位，来生成校正子。纠正电路接收所述码字，基于校正子纠正所述码字中的(t1+t2)个错误位的至少一部分，并输出纠正的消息。这里，t1和t2分别是大于0的自然数。
-
公开(公告)号：CN111145827A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911065454.6
申请日：2019-11-04
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/42
Abstract: 提供了一种半导体存储器装置的错误校正码(ECC)解码器。ECC解码器包括ECC检查器、校正子发生器和错误检测/校正电路。ECC检查器生成特征信息，特征信息表示与从存储器单元阵列中的目标页读取的输入码字中的消息位相关联的第一错误信息。校正子发生器通过基于奇偶校验矩阵对输入码字中的消息位和奇偶校验位执行运算，输出表示与输入码字相关联的第二错误信息的校正子向量。错误检测/校正电路通过基于特征信息和校正子向量选择性地校正输入码字中的错误位来生成传输码字，生成指示传输码字是否包括错误位的标志信号，以及基于传输码字输出传输消息。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
39
records
(took 0.043 seconds)
